Better understand material complexities and failures to shrink geometries, industrialize novel 3D architectures and to improve device performance.
Read more...
Be confident you can reproducibly prepare then measure structural changes in soft materials that induce stresses and strain within transition metals, affect electronic conductivities, and lead to irreversible phase transformations that decrease your product’s energy output.
Read more...
The team at Electron Microscopy Group in Nano-Materials Research Institute of AIST aims to realize the characterization of nano-materials at a single atomic level...
Griffiths, J. T.; Zhang, S.; Rouet-Leduc, B.; Fu, W. Y.; Bao, A.; Zhu, D.; Wallis, D. J.; Howkins, A.; Boyd, I.; Stowe, D.; Kappers, M. J.; Humphreys; C.J.; Oliver, R. A.
Zhao, W.; Fu, Z.; Deng, J.; Li, S.; Han, Y.; Li, M. -R.; Wang, X.; Hong, J.;
Han, L.; Addiego, C.; Prokhorenko, S.; Wang, M.; Fu, H.; Nahas, Y.; Yan, X.; Cai, S.; Wei, T.; Fang, Y.; Liu, H.; Ji, D.; Guo, W.; Gu, Z.; Yang, Y.; Wang, P.; Bellaiche, L.; Chen, Y.; Wu, D.; Nie, Y.; Pan, X.
Kim, S. C.; Huang, W.; Zhang, Z.; Wang, J.; Kim, Y.; Jeong, Y. K.; Oyakhire, S. T.; Yang, Y.; Cui, Y.
Kim, M. S.; Zhang, Z.; Rudnicki, P. E.; Yu, Z.; Wang, J.; Wang, H.; Oyakhire, S. T.; Chen, Y.; Kim, S. C.; Zhang, W.; Boyle, D. T.; Kong, X.; Xu, R.; Huang, Z.; Huang, W.; Bent, S. F.; Wang, L. -W.; Qin, J.; Bao, Z.; Cui , Y.
Yu, Z.; Rudnicki, P. E.; Zhang, Z.; Huang, Z.; Celik, H.; Oyakhire, S. T.; Chen, Y.; Kong, X.; Kim, S. C.; Xiao, X.; Wang, H.; Zheng, Y.; Kamat, G. A.; Kim, M. S.; Bent, S. F.; Qin, J.; Cui, Y.; Bao, Z.
Zhang, Z.; Li, Y.; Xu, R.; Zhou, W.; Li, Y.; Oyakhire, S. T.; Wu, Y.; Xu, J.; Wang, H.; Yu, Z.; Boyle, D. T.; Huang, W.; Ye, Y.; Chen, H.; Wan, J.; Bao, Z.; Chiu, W.; Cui, Y.
Sharangi, P.; Pandey, E.; Mohanty,S.; Nayak, S.; Bedanta, S.
Zaccagnini, P.; Ballin, C.; Fontana, M.; Parmeggiani, M.; Bianco, S.; Stassi, S.; Pedico, A.; Ferrero, S.; Lamberti, A.
Liting Yang, L.; Li, X.; Pei, K.; You, W.; Liu, X.; Xia, H.; Wang, Y.; Che, R.
Behera, P.; May, M. A.; Gómez-Ortiz, F.; Susarla, S.; Das, S.; Nelson, C. T.; Caretta, L.; Hsu, S. -L.; McCarter, M. R., Savitzky, B. H.; Barnard, E. S.; Raja, A.; Hong, Z.; García-Fernandez, P.; Lovesey, S. W.; van der Laan, G.; Ophus, C.; Martin, L. W.; Junquera, J.; Raschke, M. A.; Ramesh, R.
Giusto, P.; Cruz, D.; Heil, T.; Tarakina, N.; Patrini, M.; Antonietti, M.
Murthy, A. A.; Stanev, T. K.; Ribet, S. M.; Liu, P.; Watanabe, K.; Taniguchi, T.; Stern, N. P.; dos Reis, R.; Dravid, V. P.
Balch, H. B., Evans, A. M., Dasari, R. R., Li, H., Li, R., Thomas, S., Wang, Q., Bisbey, R. P., Slicker, K., Castano, I., Xun, S., Jiang, L., Zhu, C., Gianneschi, N., Ralph, D. C., Brédas, J-L., Marder, S. R., Dichtel, W. R., Wang, F.
Zhang, Z.; Yang, J.; Huang, W.; Wang, H.; Zhou, W.; Li, Y.; Li, Y.; Xu, J.; Huang, W.; Chiu, W.
Li, H. -K.; de Souza, J. P.; Zhang, Z.; Martis, J.; Sendgikoski, K.; Cumings, J.; Bazant, M. Z.; Majumdar, A.
Adikimenakis, A.; Chatzopoulou, P.; Dimitrakopulos, G. P.; Kehagias, Th.; Tsagaraki, K.; Androulidaki, M.; Doundoulakis, G.; Kuzmik, J.; Georgakilas, A.
Spende, H.; Margenfeld, C.; Meyer, T.; Clavero, I. M.; Bremers, H.; Hangleiter, A.; Seibt, M.; Waag, A.; Bakin, A.
Chao Zhang, C.; Firestein, K. L.; Fernando, J. F. S.; Siriwardena, D.; von Treifeldt, J. E.; Golberg, D.
Fang, C.; Li, J.; Zhang, M.; Zhang, Y.; Yang, F.; Lee, J. Z.; Lee, L. M. -H.; Alvarado, J.; Schroeder, M. A.; Yang, Y.; Lu, B.; Williams, N.; Ceja, M.; Yang, L.; Cai, M.; Gu, J.; Xu, K.; Wang, X.; Meng, Y. S.
Lotnyk, A.; Dankwort, T.; Hilmi, I.; Kienle, L.; Rauschenbach, B.
Olsen, V. S.; Bazioti, C.; Baldissera, G.; Azarov, A.; Prytz, Ø.; Persson, C.; Svensson, B. G.; Kuznetsov, A. Y.; Vines, L.
Lai, Z.; Bi, P.; Wen, L.; Xue, Y.; Jin, Y.
Almadoria, Y.; Delport, G.; Chambard, R.;Orcin-Chaix, L.; Selvati, A. C.; Izard, N.; Belhboub, A.; Aznar, R.; Jousselme, B.; Campidelli, S.; Hermet, P.; Le Parca, R.; Saito, T.; Sato, Y.; Suenaga, K.; Puech, P.; Lauret, J. S.; Cassabois, G.; Bantignies, J. -L.; Alvarez, L.
Pan, J.; Chen, S.; Fu, Q.; Sun, Y.; Zhang, Y.; Lin, N.; Gao, P.; Yang, J.; Qian, Y.
Pool, R.
Pan, J.; Chen, S.; Zhang, D.; Xu, X.; Sun, Y.; Tian, F.; Gao, P.; Yang, J.
Yasin, F. S.; Harvey, T. R.; Chess, J. J.; Pierce, J. S.; Ophus, C.; Ercius, P.; McMorran, B. J.
Zeng, L.; Gammer, C.; Ozdol, B.; Nordqvist, T.; Nygård, J.; Krogstrup, P.; Minor, A. M.; Jäger, W.; Olsson, E.
Gammer, C.; Ophus, C.; Pekin, T. C.; Eckert, J.; Minor, A. M.
de Boisse, B. M.; Nishimura, S.; Watanabe, E.; Lander, L.; Tsuchimoto, A.; Kikkawa, J.; Kobayashi, E.; Asakura, D.; Okubo, M.; Yamada, A.
Tsukasaki, H.; Mori, Y.; Otoyama, M.; Yubuchi, S.; Asano, T.; Tanaka, Y.; Ohno, T.; Mori, S.; Hayashi, A.; Tatsumisago, M.
Lutz, L.; Dachraoui, W.; Demortière, A.; Johnson, L. R.; Bruce∥, P. G.; Grimaud, A.; Tarascon, J. -M.
Ogata, K.; Jeon, S.; Ko, D.-S.; Jung, I. S.; Kim, J. H.; Ito, K.; Kubo, Y.; Takei, K.; Saito, S.; Cho, Y.-H.; Park, H.; Jang, J.; Kim, H.-G.; Kim, J. -H.; Kim, Y. S.; Choi, W.; Koh, M.; Uosaki, K.; Doo, S. G.; Hwang, Y.; Han, S.
Hu, X.; Yasaei, P.; Jokisaari, J.; Öğüt, S.; Salehi-Khojin, A.; Klie, R. F.
Tsukasaki, H.; Otoyama, M.; Mori, Y.; Mori, S.; Morimoto, H.; Hayashi, A.; Tatsumisago, M.
Gao, J.; Liu, Y.; Wang, Y.; Wang, D.
Tsukasaki, H.; Mori, S.; Morimoto, H.; Hayashi, A.; Tatsumisago , M.
Hwang, S.; Lee, Y.; Jo, E.; Chung, K. Y.; Choi, W.; Kim, S. M.; Chang, W.
Shi, L.; Pang, C.; Chen, S.; Wang, M.; Wang, K.; Tan, Z.; Gao, P.; Ren, J.; Huang. Y.; Peng, H.; Liu, Z.
Minella, C. B.; Gao, P.; Zhao‐Karger, Z.; Mu, X.; Diemant, T.; Pfeifer, M.; Chakravadhanula, V. S. K.; Behm, R. J.; Fichtner, M.
Zhang, Z.; Guo, H.; Ding, W.; Zhang, B.; Lu, Y.; Ke, X.; Liu, W.; Chen, F.; Sui, M.
Ziolkowska, D. A.; Jangam, J. S. Dilip; Rudakov, G.; Paronyan, T.; Akhtar, M.; Sumanasekera, G.; Jasinski, J. B.
Asayesh-Ardakani, H.; Yao, W.; Nie, A.; Marley, P. M.; Braham, E.; Klie, R. F.; Banerjee, S.; Shahbazian-Yassar, R.
Liu, H.; Bugnet, M.; Tessaro, M. Z.; Harris, K. J.; Dunham, M. J. R.; Jiang, M.; Goward, G. R.; Botton, G. A.
Ziolkowska, D. A.; Jasinski, J. B.; Hamankiewicz, B.; Korona, K. P.; Wu, S. -H.; Czerwinsk, A.
Sutter, E.; Huang, Y.; H.-P. Komsa, H. -P.; Ghorbani-Asl, M.; Krasheninnikov, A. V.; Sutter, P.
Alavijeh, A. S.; Venkatesan, S. V.; Khorasany, R. M. H.; Kim, W. H. J.; Kjeang, E.
Semple, J.; Rossbauer, S.; Burgess, C. H.; Zhao, K.; Jagadamma, L. K.; Amassian, A.; McLachlan, M. A.; Anthopoulos, T. D.
Cho, E. S.; Ruminski, A. M.; Aloni, S.; Liu, Y. -S.; Guo, J.; Urban, J. J.
Bansen, R.; Ehlers, C.; Teubner, T.; Markurt, T.; Schmidtbauer, J.; Boeck, T.
Teherani, F. H.; Look, D. C.; Rogers, D. J.
Qi, K.; Zasada, F.; Piskorz, W.; Indyka, P.; Gryboś, J.; Trochowski, M.; Buchalska, M.; Kobielusz, M.; Macyk, W.; Sojka, Z.
Lim, S. -H.; Ko, Y. -H.; Rodriguez, C.; Gong, S. -H.; Cho, Y. -H.
Green, M.; Haigh, S. J.; Lewis, E. A.; Sandiford, L.; Burkitt-Gray, M.; Fleck, R.; Vizcay-Barrena, G.; Jensen, L.; Mirzai, H.; Curry, R. J.; Dailey, L. -A.
Ye, M.; Zhang, G.; Ba, Y.; Wang, T.; Wang, X.; Liu, Z.
Combined Cr and Mo poisoning of (La,Sr)(Co,Fe)O3 − δ solid oxide fuel cell cathodes at the nanoscale
Ni, N.; Skinner, S.
Wegele, T.; Beyer, A.; Ludewig, P.; Rosenow, P.; Duschek, L.; Jandieri, K.; Tonner, R.; Stolz, W.; Volz, K.
Durniak, M. T.; Bross, A. S.; Elsaesser, D.; Chaudhuri, A.; Smith, M. L.; Allerman, A. A.; Lee, S. C.; Brueck, S. R. J.; Wetzel, C.
Griffiths, J. T.; Zhang, S.; Rouet-Leduc, B.; Fu, W. Y.; Bao, A.; Zhu, D.; Wallis, D. J.; Howkins, A.; Boyd, I.; Stowe, D.; Kappers, M. J.; Humphreys, C. J.; Oliver, R. A.
White, E. R.; Howkins, A.; Williams, C. K.; Shaffer, M. S. P.
Miller, D.; Akbar, S.; Morris, P.; Williams, R. E. A.; McComb, D. W.
den Engelsen, D.; Fern, G. R.; Ireland, T. G.; Harris, P. G.; Silver, J.
Choi, Y. R.; Yoon, Y. -G.; Choi, K. S.; Kang, J. H.; Shim, Y. -S.; Kim, Y. H.; Chang, H. J.; Lee, J. -H.; Park, C. R.; Kim, S. Y.; Jang, H. W.
Wang, W. -Y.; Tang, Y. -L.; Zhu, Y. -L.; Xu, Y. -B.; Liu, Y.; Wang, Y. -J.; Jagadeesh, S.; Ma, X. -L.
Agarwal, R.; Zakharov, D. N.; Krook, N. M.; Liu, W.; Berger, J. S.; Stach, E. A.; Agarwal, R.
Schurch, R.; Rowland, S.M.; Bradley, R.S.; Withers, P.J.
Fern, G. R.; Silver, J.; Coe-Sullivan, S.
Yan, L.; Jahangir, S.; Wight, S. A.; Nikoobakht, B.; Bhattacharya, P.; Millunchick, J. M.
Ramírez, J. M.; Wojcik, J.; Berencén, Y.; Ruiz-Caridad, A.; Estradé, S.; Peiró, F.; Mascher, P.; Garrido, B.
Vergeles, P. S.; Yakimov, E. B.
Rowland, S. M.; Schurch, R.; Pattouras, M.; Li, Q.
Pageot, J.; Rouzaud, J. -N.; Ahmad, M. A.; Deldicque, D.; Gadiou, R.; Dentzer, J.; Gosmain, L.
Yoon, D. H.
Wei, F.; Gasparyan, H.; Keenan, P. J.; Gutmann, M. J.; Fang, Y.; Baikie, T.; Claridge, J.; Slater, P.; Kloc, C.; White, T.
Amoli, B. M.; Trinidad, J.; Hu, A.; Zhou, Y. N.; Zhao, B.
Bharat, L. K.; Rao, B. V.; Yu, J. S.
Pfeiler-Deutschmann, M.; Mayrhofer, P. H.; Chladil, K.; Penoy, M.; Michotte, C.; Kathrein, M.; Mitterer, C.
Schurch, R.; Rowland, S. M.; Bradley, R. S.; Hashimoto, T.; Thompson, G. E.; Withers, P. J.
Schurch, R.; Rowland, S.M.; Bradley, R.S.; Hashimoto, T.; Thompson, G.E.; Withers, P.J.
Yang, W.; Cheng, G.; Dong, C.; Bai, Q.; Chen, X.; Peng, Z.; Zhang, Z.
Sabri, F.; King, D. S.; Lokesh, A.; Hatch, C. J.; Duran, R. A.
Kumar, S.; Tessarek, C.; Sarau, G.; Christiansen, S.; Singh, R.
Moraes, J.; Ohno, K.; Maschmeyer, T.; Perrier, S.
Williams, R. E. A.; Carnevale, S. D.; Kent, T. F.; Stowe, D. J.; Myers, R. C.; McComb, D. W.
Han, M-G.; Marshall, M. S. J.; Wu, L.; Schofield, M. A.; Aoki, T.; Twesten, R.; Hoffman, J.; Walker, F. J.; Ahn, C. H.; Zhu, Y.
Benck, J. D.; Lee, S. C.; Fong, K. D.; Kibsgaard, J.; Sinclair, R.; Jaramillo, T. F.
Marincel, D. M.; Zhang, H.; Kumar, A.; Jesse, S.; Kalinin, S. V.; Rainforth, W. M.; Reaney, I. M.; Randall, C. A.; Trolier-McKinstry, S.
Kitta, M.; Akita, T.; Tanaka, S.; Kohyama, M.
Akita, T.; Tabuchi, M.; Nabeshima, Y.; Tatsumi, K.; Kohyama, M.
Chen, D.; Friedrich, H.; de With, G.
Watanabe, S.; Kinoshita, M.; Hosokawa, T.; Morigaki, K.; Nakura, K.
Carretero-Genevrier, A.; Oro-Sole, J.; Gazquez, J.; Magén, C.; Miranda, L.; Puig, T.; Obradors, X.; Ferain, E.; Sanchez, C.; Rodriguez-Carvajal, J.; Mestres, N.
Kociak, M,; Stéphan, O.; Gloter, A.; Zagonel, L. F.; Tizei, L. H. G.; Tencé, M.; March, K.; Blazit, J. D.; Mahfoud, Z.; Losquin, A.; Meuret, S.; Colliex, C.
Marris, H.; Deboudt, K.; Flament, P.; Grobéty, B.; Gieré, R.
Battaile, C. C.; Boyce, B. L.; Brons, J. G.; Foiles, S. M.; Hattar, K. A.; Holm, E. A; Padilla, H. A.; Sharon, J. A.; Thompson, G. B.
Kitta, M.; Akita, T.; Tanaka, S.; Kohyama, M.
Gauquelin, N.; Hawthorn, D. G.; Sawatzky, G. A.; Liang, R. X.; Bonn, D. A.; Hardy, W. N.; Botton, G. A.
Kim, J. M.; Kim, Y.; Shim, J. H.; Lee, Y. S.; Suh, J. Y.; Ahn, J. P.; Kim, G. H.; Cho, Y. W.
Häussler, D.; Houben, L.; Essig, S.; Kurttepeli, M.; Dimroth, F.; Dunin-Borkowski, R. E.
Zychma, A.; Wansing, R.; Schott, V.; Köhler, U.; Wöll, C.; Muhler, M.; Birkner, A.
Gandman, M.; Kauffmann, Y.; Koch, C. T.; Kaplan, W. D.
Clark, L.; Oró-Solé, J.; Knight, K. S.; Fuertes, A.; Attfield, J. P.
Ampelli, C.; Passalacqua, R.; Genovese, C.; Perathoner, S.; Centi, G.; Montini, T.; Gomba, V.; Jaen, J. J. D.; Fornasiero, P.
Tang, W.; Picraux, S. T.; Huang, J. H.; Liu, X.; Tu, K. N.; Dayeh, S. A.
Eggeman, A. S.; Barnard, J. S.; Midgley, P. A.
Wang, F.; Yu, H. C.; Chen, M. H.; Wu, L.; Pereira, N.; Thornton, K.; Van der Ven, A.; Zhu, Y.; Amatucci, G. G.; Graetz, J.
Müller, K.; Rosenauer, A.; Schowalter, M.; Zweck, J.; Fritz, R.; Volz, K.
Collins, S. E.; Delgado, J. J.; Mira, C.; Calvino, J. J.; Bernal, S. B.; Chiavassa, D. L.; Baltanás, M. A.; Bonivardi, A. L.
La Torre, A.; Fay, M. W.; Rance, G. A.; Gimenez-Lopez, M. d. C.; Solomonsz, W. A.; Brown, P. D.; Khlobystov, A. N.
Huang, R.; Ikuhara, Y.
Yurtsever, A.; van der Veen, R. M.; Zewail, A. H.
Yoon, S. W.; Seo, J. H.; Seong, T. Y.; Yu, T. H.; You, Y. H.; Lee, K. B.; Kwon, H.; Ahn, J. P.
Schulenburg, H.; Roth, C.; Scheiba, F.
Shao, Z.
Nemcsics, Á.; Heyn, Ch.; Tóth, L.; Dobos, L.; Stemmann, A.; Hansen, W.
Dieterle, L.;Butz, B.; Müller, E.
Chang, H.; Yoon, S.; Seong, T.; Yu, T.; Yuo, Y.; Ahn, J.
Tan, H.; Turner, S.; Yücelen, E.; Verbeeck, J.; Van Tendeloo, G.
Hong, X.; Luo, Z.; Batteas, J. D.
Lari, L.; Walther, T.; Gass, M.H.; Geelhaar, L.;Chèze, C.; Riechert, H.; Bullough, T. J.; Chalker, P. R.
Janbroers, S.: Crozierc, P. A.; Zandbergen, H. W.; Kooyman, P. J.
Lee, H. S.; Lee, Y. S.; Suh, J. Y.; Kim, M.; Yu, J. S.; Cho, Y. W.
Inceesungvorn, B.; López-Castro, J.; Calvino, J. J.; Bernal, S.; Meunier, F. C.; Hardacre, C.; Griffin, K.; Delgado, J. J.
Carretero-Genevrier, A.; Gázquez, J.; Idrobo, J. C.; Oró, J.; Arbiol, J.; Varela, M.; Ferain, E.; Rodríguez-Carvajal, J.; Puig, T.; Mestres, N.; Obradors, X.
Schamm-Chardon, S.; Coulon, P.E.; Lamagna, L.; Wiemer, C.; Baldovino, S.; Fanciulli, M.
Holmberg, V. C.; Collier, K. A.; Korgel, B. A.
Vergnat, C.; Landais, V.; Legrand, J. F.; Brinkmann, M.
Arora, H.; Du, P.; Tan, K. W.; Hyun, J. K.; Grazul, J.; Xin, H. L.; Muller, D. A.; Thompson, M. O.; Wiesner, U.
Mishima, T. D.; Edirisooriya, M.; Santos, M. B.
van Schooneveld, M. M.; Gloter, A.; Stephan, O.; Zagonel, L. F.; Koole, R.; Meijerink, A.; Mulder W. J. M.; de Groot, F. M. F.
Mishima, T. D.; Santos, M. B.
Yang, M.; Oró-Solé, J.; Kusmartseva, A.; Fuertes, A.; Attfield, J. P.
Wu, C. T.; Chu, M. W.; Chen, L. C.; Chen, K. H.; Chen, C. W.; Chen, C. H.
Cao, F.; Beyerlein, I. J.; Addessio, F. L.; Sencer, B. H.; Trujillo, C. P.; Cerreta, E. K.; Gray III, G. T.
Insights into the nature of iron-based Fischer-Tropsch catalysts from quasi in-situ TEM-EELS and XRD
Janbroers, S.; Louwen, J. N.; Zandbergen, H. W.; Kooyman, P. J.
Servanton, G.; Pantel, R.
Tanaka, K.; Miwa, T.; Sasaki, K.; Kuroda, K.
Jarausch, K.; Thomas, P.; Leonard, D. N.; Twesten, R.; Booth, C. R.
Alexander, D. T. L.; Crozier, P. A.; Anderson, J. R.
Yakovlev, S.; Libera, M.
Stöger-Pollach, M.
Kuykendall, T.; Ulrich, P.; Aloni, S.; Yang, P.
Arenal, R.
Blackford, M. G.; Hanna, J. V.; Pike, K. J.; Vance, E. R.; Perera, D. S.
Perera, D. S.; Cashion, J. D.; Blackford, M. G.; Zhang, Z.; Vance, E. R.
Jinschek, J. R.; Erni, R.; Gardner, N. F.; Kim, A. Y.; Kisielowski, C.
Horiuchi, S.; Yin, D.; Ougizawa, T.
Borckt, G.; Lakner, H.
Longo, D. M.; Howe, J. M.; Johnson, W. C.
Guarantees high-resolution, low-distortion images for quantitative spatial measurements on your TEM.
DigitalMicrograph,或称为 Gatan Microscopy Suite,驱动您的电子相机和其他附件以支持一系列重要应用,包括断层扫描、原位、谱学和衍射成像等。
Enabling optically-coupled transmission electron microscopy to reveal nanoscale structural, optical, and electronic properties
The EELS and EFTEM systems ideal for multiuser facilities, now with the Stela hybrid-pixel option.
Enabling optically-coupled transmission electron microscopy to reveal nanoscale structural, optical, and electronic properties
An enhanced energy dispersive spectroscopy (EDS) platform with the latest silicon drift detector (SDD) technology and high-speed electronics advancements.
Delivers powerful energy dispersive spectroscopy (EDS) analytical capability in a compact package, maximizing performance and flexibility while providing streamlined operation to guarantee fast results and ease of use.
A world-class materials characterization solution that provides users with elemental composition and crystallographic orientation results in one easy-to-use package.
By integrating energy dispersive spectroscopy (EDS) and wavelength dispersive spectrometry (WDS) analytical techniques on a single platform, EDAX Neptune provides the power and flexibility of EDS with the resolution, precision, and detection limits of WDS.
Premier software program for collecting and analyzing energy dispersive spectroscopy (EDS) data and the compositional characterization of materials.
Enables the characterization of electron backscatter diffraction (EBSD) patterns within the user-friendly APEX software platform.
The premier microstructural visualization and analysis tool for interrogating and understanding electron backscatter diffraction (EBSD) mapping data.
Combines the intuitive workflow of the APEX software platform with the analytical power of wavelength dispersive spectrometry (WDS) to provide the ultimate resolution and trace element analysis to users of all levels.
Cipher® – The first and only system that quantitatively reveals the distribution of lithium in scanning electron microscopes