Be at the forefront of material research with highly-sensitive chemical analysis tools that deliver true chemical state data from a range of elements or characterize mineral properties not observed by conventional optics.
Read more...
Clearly and precisely prepare, visualize, and analyze samples to generate sub-nanometer resolution EELS and EDS maps to elucidate composition, microstructure, and atomic structure of materials and defects.
Read more...
Streamline your metal and alloy workflow from preparation to examination of grain size, orientation, or structural components to capture flaws and imperfections early so you can develop solutions to improve production efficiency.
Read more...
The team at Electron Microscopy Group in Nano-Materials Research Institute of AIST aims to realize the characterization of nano-materials at a single atomic level...
The Ringe Group was established in 2014 in the department of Materials Science and NanoEngineering (MSNE) at Rice University, Houston, TX, USA. Emilie Ringe and her group...
Senga, R.; Suenaga, K.; Barone, P.; Morishita, S.; Mauri, F.; Pichler, T.
Zhang, D.; Zhu, Y.; Liu, L.; Ying, X.; Hsiung, C. -E.; Sougrat, R.; Li, K.; Han, Y.
Zheng, F.; Kiselev, N. S.; Rybakov, F. N.; Yang, L.; Shi, W.; Blügel, S.; Dunin-Borkowski, R. E.
Kanomi, S.; Marubayashi, H.; Miyata, T.; Jinnai, H.
Clabbers, M. T. B.; Martynawycz, M. W.; Hattne, J.; Nannenga, B. L.; Gonen, T.
Yang, T.; Xua, H.; Zoua, X.
Lai, Y. H.; Zheng, J. D.; Lu, S. C.; Wang, Y. K.; Duan, C. G.; Yu, P.; Zheng, Y. Z.; Huang, R.; Chang, L.; Chu, M. W.; Hsu, J. H.; Chu, Y. H.
Persson, A. R.; Papamichail, A.; Darakchieva, V.
Du, J. S.; Dravid, V. P.; Mirkin, C. A.
Sun, J.; Ding, D.; Liu, W.; Wu, W.; Liu, H.; Wei, G.; Liu, H.
Pacakova, B.; Vullum, P. E.; Kirch, A.; Breu, J.; Miranda, C. R.; Fossum, J. O.
Hölzel, H.; Lee, S.; Amsharov, K.; Jux, N.; Harano, K.; Nakamura, E.; Lungerich, D.
Kuwahara, M.; Mizuno, L.; Yokoi, R.; Morishita, H.; Ishida, T.; Saitoh, K.; Tanaka, N.; Kuwahara, S.; Agemura, T.
Shang, T.; Xiao, D.; Meng, F.; Rong, X.; Gao, A.; Lin, T.; Tang, Z.; Liu, X.; Li, X.; Zhang, Q.; Wen, Y.; Xiao, R.; Wang, X.; Su, D.; Hu, Y. S.; Li, H.; Yu, Q.; Zhang, Z.; Petricek, V.; Wu, L.; Gu, L.; Zuo, J. M.; Zhu, Y.; Nan. C. W.; Zhu. J.
Xi, R.; Jiang, H.; Li, G.; Zhang, Z.; Zhao, G.; Vanmeensel, K.; Kustov, S.; Humbeeck. J. V.; Wang. X.
Wu, S.; Kou, Z.; Lai, Q.; Lan, S.; Katnagallu, S. S.; Hahn, H.; Taheriniya, S.; Wilde, G.; Gleiter, H.; Feng, T.
Vanacore, G. M.;Chrastina, D.; Scalise, E.; Barbisan, L.; Ballabio, A.; Mauceri, M.; Via, F. L.; Capitani, G.; Crippa, D.; Marzegalli, A.; Bergamaschini. R.; Miglio. L.
Ding, Z.; Gao, S.; Fang, W.; Huang, C.; Zhou, L.; Pei, X.; Liu, X.; Pan, X.; Fan, C.; Kirkland, A. I.; Wang, P.
Pakzad, A.; dos Reis. R. D.
Crozier, P. A.
Zanetta, P. -M.
Elgvin, C.; Kjeldby, S. B.; Both, K. G.; Nguyen, P. D.; Prytz, Ø.
Minor, A.; Mills, S.; Zeltmann, S.; Ercius, P.; Kohnert, A.; Uberuaga, B.
Shimizu, T.; Lungerich, D.; Harano, K.; Nakamura, E.
Hasegawa, S.; Masuda, S.; Takano, S.; Harano, K.; Tsukuda, T.
Abe, Y.; Satoh, Y.; Hashimoto, N.
Leong, Z.; Huang, Y.; Wróbel, J. S.; Gao, J.; Morley, N.; Goodall, R.
Liu, F.; Hu, W. -X.; Yang, Z. -H.; Wang, W.; He, W.
Sui, Y. -D.; Jiang, Y. -H.; Wang, Q. -D.
Liu, D.; Kowashi, S.; Nakamuro, T.; Lungerich, D.; Yamanouchi, K.; Harano, K.; Nakamura, E.
Cai, Y.; Xiang, S.; Tan, Y.
McClintock, D. A.; Gussev, M. N.; Campbell, C.; Mao, K.; Lach, T. G.; Lu, W.; Hachtel, J. A.; Unocic, K. A.
Hong, J.; Bae, J. -H.; Jo, H.; Park, H. -Y.; Lee, S.; Hong, S. J.; Chun, H.; Cho, M. K.; Kim, J.; Kim, J.; Son, Y.; Jin, H.; Suh, J. -Y.; Kim, S. -C.; Roh, H. -K.; Lee, K. H.; Kim, H. -S.; Chung, K. Y.; Yoon, C. W.; Lee, K.; Kim, S. H.; Ahn, J. -P.; Baik, H.; Kim, G. H.; Han, B.; Jin, S.; Hyeon, T.; Park, J.; Son, C. Y.; Yang, Y.; Lee, Y. -S.; Yoo, S. J.; Chun, D. W.
Murthy, A. A.; Das, P. M.; Ribet, S. M.; Kopas, C.; Lee, J.; Reagor, M. J.; Zhou, L.; Kramer, M. J.; Hersam, M. C.; Checchin, M.; Grassellino, A.; dos Reis, R.; Dravid, V. P.; Romanenko, A.
Senga, R.; Lin, Y. -C.; Morishita, S.; Kato, R.; Yamada, T.; Hasegawa, M.; Suenaga, K.
Liu, D.; Kowashi, S.; Nakamuro, T.; Lungerich, D.; Yamanouchi, K.; Harano, K.; Nakamura, E.
Mozgawa, B.; Sobańska, K.; Grybo, J.; Pietrzy, P.
Donohue, J.; Zeltmann, S. E.; Bustillo, K. C.; Savitzky, B.; Jones, M. A.; Meyers, G.; Ophus, C.; Minor, A. M.
Munshi, J.; Rakowski, A.; Savitzky, B. H.; Zeltmann, S. E.; Ciston, J.; Henderson, M.; Cholia, S.; Minor, A. M.; Chan, M. K. Y.; Ophus, C.
Wei, Y.; Zhao, X.; Liu, Z.; Tan, C.
Chen, C.; Sun, M.; Cheng, Z.; Liang, Y.
Angell, D. K.; Bourgeois, B.; Vadai, M.; Dionne, J. A.
Behera, P.; May, M. A.; Gomez-Ortiz, F.; Susarla, S.; Das, S.; Nelson, C. T.; Caretta, L.; Hsu, S. -L.; McCarter, M. R.; Savitzky, B. H.; Barnard, E. S.; Raja, A.; Hong, Z.; Garcia-Fernandez, P.; Lovesey, S. W.; Van der Laan, G.; Ercius, P.; Ophus, C.; Martin, L. W.; Junquera, J.; Raschke, M. B.; Ramesh, R.
Shang, Y.; Liu, Z.; Dong, J.; Yao, M.; Yang, Z.; Li, Q.; Zhai, C.; Shen, F.; Hou, X.; Wang, L.; Zhang, N.; Zhang, W.; Fu, R.; Ji, J.; Zhang, X.; Lin, H.; Fei, Y.; Sundqvist, B.; Wang, W.; Liu, B.
Tang, H.; Yuan, X.; Cheng, Y.; Fei, H.; Liu, F.; Liang, T.; Zeng, Z.; Ishii, T.; Wang, M. -S.; Katsura, T.; Sheng, H.; Gou, H.
Synthesis and characterisation of cerium sulphide over optical fiber and its gas sensing application
Theoderaj, A. K. C.; Jacob, I. D.; Chitra, J. M.
Kobayashia, S.; Howe, J. M.; MitsuhiroMurayama, M.
Singha, R.; Yuan, F.; Cheng, G.; Salters, T. H.; Oey, Y. M.; Villalpando, G. V.; Jovanovic, M.; Yao, N.; Schoop, L. M.
Ophus, C.; Zeltmann, S. E.; Bruefach, A.; Rakowski, A.; Savitzky, B. H.; Minor, A. M.; Scott, M. C.
Susarla, S.; García-Fernández, P.; Ophus, C.; Das, S.; Aguado-Puente, P.; McCarter, M.; Ercius, P.; Martin, L. W.; Ramesh, R. Junquera, J.
Ravat, P.; Uchida, H.; Sekine, R.; Kamei, K.; Yamamoto, A.; Konovalov, O.; Tanaka, M.; Yamada, T.; Harano, K.; Nakamura, E.
Murthy, A. A.; Ribet, S. M.; Stanev, T. K.; Liu, P.; Watanabe, K.; Taniguchi, T.; Stern, N. P.; dos Reis, R.; Dravid, V. P.
Zhao, J.; Xu, H.; Lebrette, H.; Carroni, M.; Taberman, H.; Hogbom, M.; Zou, X.
Mao, W.; Bao, C.; Han, L.
Xing, J.; Takeuchi, K.; Kamei, K.; Nakamuro, T.; Harano, K.; Nakamura, E.
Cao, B. X.; Kong, H. J.; Ding, Z. Y.; Wu, S. W.; Luan, J. H.; Jiao, Z. B.; Lu, J.; Liu, C. T.; Yang, T.
Kanomi, S.; Marubayashi, H.; Miyata, T.; Tsuda, K.; Jinnai, H.
Lin, Z.; Wu, C.; He, H.; Jiang, S.; Ren, F.; Cao, L.; Huang, Z.; Zhang, J.
Bu, Y.; Wu, Y.; Lei, Z.; Yuan, X.; Wu, H.; Feng, X.; Liu, J.; Ding, J.; Lu, Y.; Wang, H.; Lu, Z.; Yang, W.
Biffi, C. A.; Bassani, P.; Fiocchi, J.; Albu, M.; Tuissi, A.
Lungerich, D.; Hoelzel, H.; Harano, K.; Jux, N.; Amsharov, K. Y.; Nakamura, E.
Lungerich, D.; Hoelzel, H.; Harano, K.; Jux, N.; Amsharov, K. Y.; Nakamura, E.
Londoño-Calderon, A.; Williams, D. J.; Schneider, M. M.; Savitzky, B. H.; Ophus, C.; Ma, S.; Zhud, H.; Pettes, M. T.
Wang, H.; Yu, Z.; Kong, X.; Huang, W.; Zhang, Z.; Mackanic, D. G.; Huang, X.; Qin, J.; Bao, Z.; Cui. Y.
Liu, B.; Zhao, G.; Zhang, X.; Guo, J.; Gong, S.; Xie, G.; Peng, L.; Li, Z.
Mir, A. H.; Hyatt, N. C.; Donnelly, S. E.
Wang, W.; Blawert, C.; Zan, R.; Sun, Y.; Peng, H.; Ni, J.; Han, P.; Suo, T.; Song, Y.; Zhang, S.; Zheludkevich, M. L.; Zhang, X.
Ng, S.; Zazpe, R.; Rodriguez-Pereira, H.; Michalička, J.; Macak, J. M.; Pumera, M.
Censabella, M.; Irrera, D.; Boscarino, S.; Piccitto, G.; Grimaldi, M. G.; Ruffino, F.
Li, R.; Yamashita, S.; Kita, H.
Rymer, L. -M.; Winter, L.; Hockauf, K.; Lampke, T.
Kazmierczak, N. P.; Van Winkle, M.; Ophus, C.; Bustillo, K. C.; Carr, S.; Brown, H. G.; Ciston, J.; Taniguchi, T.; Watanabe, K,; Bediako, D. K.
Hasegawa, S.; Takano, S.; Harano, K.; Tsukuda, T.
Hasegawa, S.; Takano, S.; Harano, K.; Tsukuda, T.
Karre, R.; Hua, Y.; Song, S.; Wang, X.; Joardar, J.; Reddy, K. M.
Hanayama, H.; Yamada, J.; Tomotsuka, I.; Harano, K.; Nakamura, E.
Tomita, A.; Miki, T.; Tai, Y.
Koenig, T. R.; Rao, Z.; Chason, E.; Tucker, G. J.; Thompson, G. B.
Lezhnev, S. N.; Naizabekov, A. B.; Panin, E. A.; Volokitina, I. E.; Arbuz, A. S.
Pofelski, A.; Whabi, V.; Ghanad-Tavakoli, S.; Botton, G.
Krause, F. F.; Schowalter, M.; Oppermann, O.; Marquardt, D.; Müller-Caspary, K.; Ritz, R.; Simson, M.; Ryll, H.; Huth, M.; Soltau, H.; Rosenauer, A.
Xie, H.; Zhao, X.; Jiang, J.; Bai, J.; Li, S.; Pan, H.; Pang, X.; Li, H.; Ren, Y.; Qin, G.
Baron, C.; Werner, H.; Springer, H.
Boyle, D. T.; Huang, W.; Wang, H.; Li, Y.; Chen, H.; Yu, Z.; Zhang, W.; Bao, Z.; Cui, Y.
Emmrich, D.; Wolff, A.; Meyerbröker, N.; Lindner, J. K. N.; Beyer, A.; Gölzhäuser, A.
Osugi, S.; Takano, S.; Masuda, S.; Harano, K.; Tsukuda, T.
Sudha, M.; Surendhiran, S.; Gowthambabu, V.; Balamurugan, A.; Anandarasu, R.; Syed Khadar, Y. A.; Vasudevan, D.
Zrinski, I.; Mardare, C. C.; Jinga, L. - I.; Kollender, J. P.; Socol, G.; Minenkov, A.; Hassel, A. W.; Mardare, A. I.;
Chen, W.; Ding, D.; Zhang, W.; Xiao, D.
Farabi, E.; Sharp, J. A.; Vahid, A.; Fabijanic, D. M.; Barnett, M. R.; Gallo, S. C.
Wang, W.; Erofeev, I.; Nandi, P.; Yan, H.; Mirsaidov, U.
Londoño-Calderon, A.; J. Williams, D. J.; Schneider, M.; Savitzky, B. H.; Ophus, C.; Pettes, M. T.
Castano, I.; Evans, A. M.; dos Reis, R,; Dravid, V. P.; Gianneschi, N. C.; Dichtel, W. R.
Sekine, R.; Ravat, P.; Yanagisawa, H.; Liu, C.; Kikkawa, M.; Harano, K.; Nakamura, E.
Reboul, C. F.; Heo, J.; Machello, C.; Kiesewetter, S.; Kim, B. H.; Kim, S.; Elmlund, D.; Ercius, P.; Park, J.; Elmlund, H.
Pan, Z.; Zhou, Q.; Wang, P.; Diao, D.
Marchello, G.; De Pace, C.; Acosta-Gutierrez, S.; Lopez-Vazquez, C.; Wilkinson, N.; Gervasio, F. L.; Ruiz-Perez, L.; Giuseppe Battaglia, G.
Quarez, E.; Gautron, E.; Paris, M.; Gajan, D.; Mevellec, J. -Y.
Nakamuro, T.; Sakakibara, M.; Nada, H.; Harano, K.;Nakamura, E.
Mathur, N.; Yasin, F. S.; Stolt, M. J.; Nagai, T.; Kimoto, K.; Du, H.; Tian, M.; Tokura, Y.; Yu, X.; Jin, S.
Sulym, I.; Wiśniewska, M.; Storozhuk, L.; Terpilowski, K.; Sternik, D.; Borysenko, M.; Derylo-Marczewska, A.
Murthy, A. A.; Stanev, T. K.; Ribet, S. M.; Liu, P.; Watanabe, K.; Taniguchi, T.; Stern, N. P.; dos Reis, R.; Dravid, V. P.
Balch, H. B., Evans, A. M., Dasari, R. R., Li, H., Li, R., Thomas, S., Wang, Q., Bisbey, R. P., Slicker, K., Castano, I., Xun, S., Jiang, L., Zhu, C., Gianneschi, N., Ralph, D. C., Brédas, J-L., Marder, S. R., Dichtel, W. R., Wang, F.
Abfaltere, A.; Shamsi, J.; Kubicki, D. J.; Savory, C. N.; Xiao, J.; Divitini, G.; Li, W.; Macpherson, S.; Gałkowski, K.; MacManus-Driscoll, J. L.; Scanlon, D. O.; Stranks, S. D.
Kratish, Y.; Nakamuro, T.; Liu, Y.; Li, J.; Tomotsuka, I.; Harano, K.; Nakamura, E.; Marks, T. J.
Li, H. -K.; de Souza, J. P.; Zhang, Z.; Martis, J.; Sendgikoski, K.; Cumings, J.; Bazant, M. Z.; Majumdar, A.
Roslova, M.; Smeets, S.; Wang, B.; Thersleff, T.; Xu, H.; Zou, X.
Kamei, K.; Shimizu, T.; Harano, K.; Nakamura, E.
Shen, T. -H.; Spillane, L.; Vavra, J.; Pham, T. H. M.; Peng, J.; Shao-Horn, Y.; Tileli, V.
Kim, Y. -J.; Lee, Y.; Kim, K.; Kwon, O. -H.
Park, S.; Siahrostami, S.; Park, J.; Mostaghimi, A. H. B.; Kim, T. R.; Vallez, L.; Gill, T. M.; Park, W.; Goodson, K. E.; Sinclair, R.; Zheng, X.
Stuckner, J.; Shimizu, T.; Harano, K.; Nakamura, E.; Murayama, M.
Shimizu, T.; Lungerich, D.; Stuckner, J.; Murayama, M.; Harano, K.; Nakamura, E.
Gholinia, A.; Curd, M. E.; Bousser, E.; Taylor, K.; Hosman, T.; Coyle, S.; Hassel Shearer, M.; Hunt, J.; Withers, P. J.
Hanayama, H.; Yamada, J.; Harano, K.; Nakamura, E.
Londoño-Calderon, A.; Williams, D. J.; Ophus, C.; Pettes, M. T.
Murthy, A. A.; Stanev, T. K.; dos Reis, R.; Hao, S.; Wolverton, C.; Stern, N. P.; Dravid, V. P.
Yu, L.; Hudak, B. M.; Ullah, A.; Thomas, M. P.; Porter, C. C.; Thisera, A.; Pham, R. H.; Goonatilleke, M. D. A.; Guiton, B. S.
Ogata, A. F.; Rakowski, A. M.; Carpenter, B. P.; Fishman, D. A.; Merham, J. G.; Hurst, P. J.; Patterson, J. P.
Addiego, C.; Gao, W.; Pan, X.
Errokh, A.; Magnin, A.; Putaux, J. -L.; Boufi, S.
Vasiliades, M. A.; Kalamaras, C. M.; Govender, N. S.; Govender, A.; Efstathiou, A. M.
Nam, K. W.; Park, S. S.; dos Reis, R.; Dravid, V. P. Kim, H.; Mirkin, C. A.; Stoddart, J. F.
Gao, W.; Addiego, C.; Wang, H,; Yan, X.; Hou, Y.; Ji, D.; Heikes, C.; Zhang, Y.; Li, L.; Huyan, H.; Blum, T.; Aoki, T.; Nie, Y.; Schlom, D.; Wu, R.; Pan, X.
Leijten, Z. J. W. A.; Wirix, J. M.; Strauss, M.; Plitzko, J. M.; de With, G.; Friedrich, H.
Samji Samira, S.; Gu, X. -K.; Nikolla, E.
Mayoral, Á.; del Angel, P.; Ramos, M.
Mecklenburg, M.; Hubbard, W. A.; Lodico, J. J.; Regan, B. C.
Zhao, C.; Lu, H.; Wang, H.; Tang, F.; Nie, H.; Hou, C.; Liu, X.; Song, X.; Nie, Z.
Ogawa, Y.
Xing, J.; Schweighauser, L.; Okada, S.; Harano, K.; Nakamura, E.
Vollmer, C.; Leitner, J.; Kepaptsoglou, D.; Ramasse, Q. M.; Busemann, H.; Hoppe, P.
Fang, C.; Li, J.; Zhang, M.; Zhang, Y.; Yang, F.; Lee, J. Z.; Lee, L. M. -H.; Alvarado, J.; Schroeder, M. A.; Yang, Y.; Lu, B.; Williams, N.; Ceja, M.; Yang, L.; Cai, M.; Gu, J.; Xu, K.; Wang, X.; Meng, Y. S.
Kumar, A.; Nayak, S. K.; Bijalwan, P.; Dutta, M.; Banerjee, A.; Laha, T.
Li, X.; Wang, J.; Liu, X.; Liu, L.; Cha, D.; Zheng, X.; Yousef, A. A.; Song, K.; Zhu, Y.; Zhang, D.; Han, Y.
Yang, J.; Zeng, Z.; Kang, J.; Betzler, S.; Czarnik, C.; Zhang, X.; Ophus, C.; Yu, C.; Bustillo, K.; Pan, M.; Qiu, J.; Wang, L. -W.; Zheng, H.
Wang, H.; Liu, Z.; Liu, H.; Guan, L.; Cao, X.; Zhang, Z.; Huang, Y.; Jin, C.
Yakovlev, S.; Fiscus, D.; Brant, P.; Butler, J.; Bucknall, D. G.; Downing, K. H.
Li, Y.; Wang, K.; Zhou, W.; Sinclair, R.; Chiu, W.; Cui, Y.
Su, T.; Hood, Z. D.; Naguib, M.; Bai, L.; Luo, S.; Rouleau, C. M.; Ivanov, I. N.; Ji, H.; Qin, Z.; Wu, Z.
Tunes, M. A.; Harrison, R. W.; Donnelly, S. E.; Edmondson, P. D.
Hooley, R.; Brown, A.; Brydson, R.
S’ari, M.; Cattle, J.; Hondow, N.; Brydson, R.; Brown, A.
Matai, I.; Garg, M.; Rana, K.; Singh, S.
Zhang, Y.; Tunes, M. A.; Crespillo, M. L.; Zhang, F.; Boldman, W. L.; Rack, P. D.; Jiang, L.; Xu, C.; Greaves, G.; Donnelly, S. E.; Wang, L.; Weber, W. J.
Almadoria, Y.; Delport, G.; Chambard, R.;Orcin-Chaix, L.; Selvati, A. C.; Izard, N.; Belhboub, A.; Aznar, R.; Jousselme, B.; Campidelli, S.; Hermet, P.; Le Parca, R.; Saito, T.; Sato, Y.; Suenaga, K.; Puech, P.; Lauret, J. S.; Cassabois, G.; Bantignies, J. -L.; Alvarez, L.
Yang, W. -C. D.; Wang, C.; Fredin, L. A.; Lin, P. A.; Shimomoto, L.; Lezec, H. J.; Sharma, R.
Evans, S. F.; Ivancevic, M. R.; Wilson, D. J.; Hood, Z. D.; Adhikari, S. P.; Naskar, A. K.; Tsouris, C.; Paranthaman, M. P.
Almeida, T. P.; Muxworthy, A. R.; Williams, W.; Kasama, T.; Kovács, A.; Dunin-Borkowski, R. E.
Connolly, M.; Zhang, Y.; Mahri, S.; Brown, D. M.; Ortuño, N.; Jordá-Beneyto, M.; Maciaszek, K.; Stone, V.; Fernandes, T. F.; Johnston, H. J.
Li, X.; Zhang, Z.; Yao, C.; Lu, X.; Zhao, X.; Ni, C.
Gallagher-Jones, M.; Ophus, C.; Bustillo, K. C.; Boyer, D. R.; Panova, O.; Glynn, C.; Zee, C., -T.; Ciston, J.; Mancia, K. C.; Minor, A. M.; Rodriguez, J. A.
Pierobon, L.; Kovács, A.; Schäublin, R. E.; Wyss, U.; Dunin-Borkowski, R. E.; Löffler, J. F.; Charilaou, M.
Khelfa, A.; Byun, C.; Nelayah, J.; Wang, G.; Ricolleau, C.; Alloyeau, D.
Panciera, F.; Tersoff, J.; Gamalski, A. D.; Reuter, M. C.; Zakharov, D.; Stach, E. A.; Hofmann, S.; Ross, F. M
Pool, R.
Gao, W.; Wu, J.; Yoon, A.; Lu, P.; Qi, L.; Wen, J.; Miller, D. J.; Mabon, J. C.; Wilson, W. L.; Yang, H.; Zuo, J. -M.
Harmand, J. -C.; Patriarche, G.; Glas, F.; Panciera, F.; Florea, I.; Maurice, J. -L.; Travers, L.; Ollivier, Y.
Fu, Z.; Jiang, L.; Wardini, J. L.; MacDonald, B. E.; Wen, H.; Xiong, W.; Zhang, D.; Zhou, Y.; Rupert, T. J.; Chen, W.; Lavernia, E. J.
Tan, S. F.; Bisht, G.; Anand, U.; Bosman, M.; Yong, X. E.; Mirsaidov, U.
Yasin, F. S.; Harvey, T. R.; Chess, J. J.; Pierce, J. S.; Ophus, C.; Ercius, P.; McMorran, B. J.
Zeng, L.; Gammer, C.; Ozdol, B.; Nordqvist, T.; Nygård, J.; Krogstrup, P.; Minor, A. M.; Jäger, W.; Olsson, E.
Kim, S.; Jung, H. J.; Kim, J. C.; Lee, K. -S.; Park, S. S.; Dravid, V. P.; He, K.; Jeong, H. Y.
Yu, J.; Yuan, W.; Yang, H.; Xu, Q.; Wang, Y.; Zhang, Z.
Fernandez, S.; Ostraat, M. L.; Lawrence III, J. A.; Zhang, K.
Gammer, C.; Ophus, C.; Pekin, T. C.; Eckert, J.; Minor, A. M.
Zhang, X.; Ren, Z.; Lu, Y.; Yao, J.; Gao, M.; Liu, Y.; Pan, H.
Zheng, F.; Rybakov, F. N.; Borisov, A. B.; Song, D.; Wang, S.; Li, Z. -A.; Du, H.; Kiselev, N. S.; Caron, J.; Kovács, A.; Tian, M.; Zhang, Y.; Blügel, S.; Dunin-Borkowski, R. E.
Tsukasaki, H.; Mori, S.;Shiotani, S.; Yamamura, H.
Tan, S. F.; Raj, S.; Bisht, G.; Annadata, H. V.; Nijhuis, C. A.; Král, P.; Mirsaidov, U.
Destefani, T. A.; Onaga, G. L.; de Farias, M. A.; Percebom, A. M.; Sabadini, E.
Hu, X.; Yasaei, P.; Jokisaari, J.; Öğüt, S.; Salehi-Khojin, A.; Klie, R. F.
da Silva, L. C. E.; Germiniani, L. G. L.; Plivelic, T. S.; Gonçalves, M. C.
S.E.Gilliland III, Tengco, J. M. M.; Yang, Y.; Regalbuto, J. R.; Castano, C. E.; Gupton, B. F.
Hou, Z.; Zhang, Q.; Xu, G.; Gong, C.; Ding, B.; Wang, Y.; Li, H.; Liu, E.; Xu, F.; Zhang, H.; Yao, Y.; Wu, G.; Zhang, X. - X.; Wang, W.
Pekin, T. C.; Gammer, C.; Ciston, J.; Ophus, C.; Minor, A. M.
Boyer, M.; Yang, X.; Carrión, A. J. F.; Wang, Q.; Véron, E.; Genevois, C.; Hennet, L.; Matzen, G.; Suard, E.; Thiaudière, D.; Castro, C.; Pelloquin, D.; Kong, L. B.; Kuang, X.; Allix, M.
Okada, S.; Kowashi, S.; Schweighauser, L.; Yamanouchi, K.; Harano, K.; Nakamura, E.
Nayak, A. K.; Kumar, V.; Ma, T.; Werner, P.; Pippel, E.; Sahoo, R.; Damay, F.; Rößler, U. K.; Felser, C.; Parkin, S. S. P.
Han, C. W.; Choksi, T.; Milligan, C.; Majumdar, P.; Manto, M.; Cui, Y.; Sang, X.; Unocic, R. R.; Zemlyanov, D.; Wang, C.; Ribeiro, F. H.; Greeley, J.; Ortalan, V.
Yue, Y.; Zhang, Q.; Zhang, X.; Yang, Z.; Yin, P.; Guo, L.
Geng, G.; Chen, P.; Guan, B.; Jiang, L.; Xu, Z.; Di, D.; Tu, Z.; Hao, W.; Yi, Y.; Chen, C.; Liu, M.; Hu, W.
Rao, J. C.; Diao, H. Y.; Ocelík, V.; Vainchtein, D.; Zhang, C.; Kuo, C.; Tang, Z.; Guo, W.; Poplawsky, J. D.; Zhou, Y.; Liaw, P. K.; De Hosson, J. Th. M.
Ophus, C.; Ercius, P.; Huijben, M.; Ciston, J.
Ahadi, A.; Matsushita, Y.; Sawaguchi, T.; Sun, Q. P.; Tsuchiya, K.
Zhang, Z.; Guo, H.; Ding, W.; Zhang, B.; Lu, Y.; Ke, X.; Liu, W.; Chen, F.; Sui, M.
Ziolkowska, D. A.; Jangam, J. S. Dilip; Rudakov, G.; Paronyan, T.; Akhtar, M.; Sumanasekera, G.; Jasinski, J. B.
Zieschang, A. -M.; Bocarsly, J. D.; Dürrschnabel, M.; Molina-Luna, L.; Kleebe, H. -J.; Seshadri, R.; Albert, B.
Boebinger, M. G.; Xu, M.; Ma, X.; Chen, H.; Unocic, R. R.; McDowell, M. T.
Gerber, O.; Pichon, B. P.; Ihiawakrim, D.; Florea, I.; Moldovan, S.; Ersen, O.; Begin, D.; Grenèche, J. -M.; Lemonnier, S.; Barraud, E.; Begin-Colin, S.
Koh, A. L.; Gidcumb, E.; Zhou, O.; Sinclair, R.
Ziolkowska, D. A.; Jasinski, J. B.; Hamankiewicz, B.; Korona, K. P.; Wu, S. -H.; Czerwinsk, A.
Gammer, C.; Kacher, J.; Czarnik, C.; Warren, O. L.; Ciston, J.; Minor, A. M.
Zhang, B.; Peng, K.; Li, A.; Zhou, X.; Chen, Y.; Deng, Q.; Han, X.
Chen, Z.; Weyland, M.; Ercius, P.; Ciston, J.; Zheng, C.; Fuhrer, M. S.; D'Alfonso. A. J.; Allen, L. J.; Findlay, S. D.
Shibata, K.; Kovács, A.; Kanazawa, N.; Dunin-Borkowski, R. E.; Tokura, Y.
Eggeler, Y. M.; Müller, J.; Titus, M. S.; Suzuki, A.; Pollock, T. M.; Spiecker, E.
Clark, B. G.; Hattar, K. M.; Marshall, M. T.; Chookajorn, T.; Boyce, B. L.; Schuh, C. A.
Chen, Y. -J.; Zhang, B.; Ding, Q. -Q.; Deng, Q. -S.; Chen, Y.; Song, Z. -T.; Li, J. -X.; Zhang, Z.; Han, X. -D.
van den Berg, R.; Elkjaer, C. F.; Gommes, C. J.; Chorkendorff, I.; Sehested, J.; de Jongh, P. E.; de Jong, K. P.; Helveg, S.
Agar, J. C.; Damodaran, A. R.; Okatan, M. B.; Kacher, J.; Gammer, C.; Vasudevan, R. K.; Pandya, S.; Dedon, L. R.; Mangalam, R. V. K.; Velarde, G. A.; Jesse, S.; Balke, N.; Minor, A. M.; Kalinin, S. V.; Martin, L. W.
Matsumoto, T.; So, Y. -G.; Kohno, Y.; Sawada, H.; Ikuhara, Y.; Shibata, N.
Kong, X.; Li, H.; Albert, S.; Bengoechea-Encabo, A.; Sanchez-Garcia, M. A.; Calleja, E.; Draxl, C.; Trampert, A.
Gammer, C.; Ozdol, V. B.; Liebscher, C. H.; Minor, A. M.
Ozdol, V. B.; Gammer,C.; Jin, X. G.; Ercius, P.; Ophus, C.; Ciston,J.; Minor, A. M.
Ringe, E.; DeSantis, C. J.; Collins, S. M.; Duchamp, M.; Dunin-Borkowski, R. E.; Skrabalak, S. E.; Midgley, P. A.
Galstyan, E.; Gharacheshmeh, H. M.; Delgado, L.; Xu, A.; Majkic, G.; Selvamanickam, V.
Petrenec, M.; Polák, J.; Šamořil, T.; Dluhoš, J.; Obrtlík, K.
Dieterle, L.;Butz, B.; Müller, E.
DigitalMicrograph,或称为 Gatan Microscopy Suite,驱动您的电子相机和其他附件以支持一系列重要应用,包括断层扫描、原位、谱学和衍射成像等。
Enabling optically-coupled transmission electron microscopy to reveal nanoscale structural, optical, and electronic properties
The EELS and EFTEM systems ideal for multiuser facilities, now with the Stela hybrid-pixel option.
Enabling optically-coupled transmission electron microscopy to reveal nanoscale structural, optical, and electronic properties
An enhanced energy dispersive spectroscopy (EDS) platform with the latest silicon drift detector (SDD) technology and high-speed electronics advancements.
Delivers powerful energy dispersive spectroscopy (EDS) analytical capability in a compact package, maximizing performance and flexibility while providing streamlined operation to guarantee fast results and ease of use.
A world-class materials characterization solution that provides users with elemental composition and crystallographic orientation results in one easy-to-use package.
By integrating energy dispersive spectroscopy (EDS) and wavelength dispersive spectrometry (WDS) analytical techniques on a single platform, EDAX Neptune provides the power and flexibility of EDS with the resolution, precision, and detection limits of WDS.
Premier software program for collecting and analyzing energy dispersive spectroscopy (EDS) data and the compositional characterization of materials.
Enables the characterization of electron backscatter diffraction (EBSD) patterns within the user-friendly APEX software platform.
The premier microstructural visualization and analysis tool for interrogating and understanding electron backscatter diffraction (EBSD) mapping data.
Combines the intuitive workflow of the APEX software platform with the analytical power of wavelength dispersive spectrometry (WDS) to provide the ultimate resolution and trace element analysis to users of all levels.
Cipher® – The first and only system that quantitatively reveals the distribution of lithium in scanning electron microscopes