GIF Continuum 以及 Continuum S

新一代先进EELS及EFTEM系统。

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优点: 

Continuum™ 系列产品是Gatan的全新一代电子能量损失谱(EELS)和能量过滤透射电子显微术(EFTEM)系统。Continuum系列产品在不牺牲系统强大功能与灵活性的同时,简化了能量损失系统的操作流程,将生产率与数据通量提升到新的高度。基于专有的全新的探测器系统而设计制造,Continuum为EELS和EFTEM应用提供了出色的探测速度与数据质量。

>10x 更高生产率

  • >8000 谱每秒下 >95% 占空比
  • >10x 更快系统调校
  • 简洁的、基于工作流程的用户界面

革命性的数据质量

  • 低噪声、高动态范围 CMOS 探测器
  • 得益于全新 XCR™ 传感器堆叠技术,更好的 MTF 与 DQE 表现
  • 各种采集模式下的全增益校正
  • 特有的动态聚焦控制
  • 可选配 K3™ 电子计数直接探测器,获取更高质量的EELS与EFTEM数据

新兴应用领域

  • 能量过滤 4D STEM*
  • 原位 EELS 与 EFTEM*
  • 动量分辨 EELS*
*需要配备可选组件

资源:

 

型号 1065, 1066, 1069, 1069HR, 1077

产品单页

GIF Continuum 以及 Continuum S

应用

EELS.info
EELS App

High-speed composition and chemical analysis of Si/STO/PZT with GIF Continuum
In-situ EELS spectrum imaging at elevated temperature
Observing the effects of oxygen activity on NCA battery electrodes via in-situ EELS
使用 DualEELS 功能进行原子级分辨率的 EELS 面分布分析
使用 DualEELS 功能对金属合金欧姆接触进行高速成分分析,以制造 III-V MOSFET 设备
EELS:用于研究生物材料的工具
使用 GIF Quantum系统高速同时获取 EELS 谱中的低能损失和高能损失区,对包含重金属 Au 和 Pd 的催化剂颗粒
使用 Gatan Microscopy Suite 软件中的同步 EELS 和 EDS实时采集功能,实现快速 STEM 谱图成像
谱图成像领域的最新进展及其向倒易空间领域的延伸
使用 MLLS 拟合方法解析原子级 EELS 谱中的谱线重叠情况

海报

对 Pd-Au 的催化剂的快速 STEM EELS 谱图成像分析
新一代 EELS 分光计效率极高,能够以毫秒速度从重元素中获取细节详实的 EELS 光谱,生成具有出色信息内容的成分图。

使用 EELS 进行生物材料的定量研究
经实践证明,EELS 是从生物样品中获取成分信息的宝贵工具。除成分以外,EELS 还提供了对化学特性的深入见解,揭示了化学键性质和不同的氧化态。

以 DualEELS 模式进行高原子序数金属合金的高速成分分析
证明了通常可从高能量边缘获取具备高对比度和高信噪比的高速原子 EELS 成分图。

使用 DualEELS 模式中高能量损失的快速原子级 EELS 面分布分析
证明了使用高能量边缘进行的原子 EELS 映射非常有效。高能量边缘的高信背比简化了数据提取。

跨 III-V MOSFET 高介电系数栅极中的界面处的原子级 EELS 分析
证明了 EELS SI 可揭示原子列级的高介电系数 MOSFET 设备栅元素分布。

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