Webinar

直接电子探测技术在透射及扫描电镜中的材料表征

使用新型Gatan K3 IS直接探测相机的示例，从软材料成像到复杂材料界面中4D-STEM的特殊应用。Gatan K3 IS的性能允许以高时间分辨率在计数模式下获取原位成像和4D STEM数据。
EDAX全新推出的直接电子检测EBSD探测器Clarity，可达到单电子检测程度，并可获取极其清晰的衍射花样，扩展EBSD分析领域的应用，尤其是在电子束流敏感材料及变形材料的表征方面有极大的提升。

利用 K3 IS 相机实现低剂量/高速原位 TEM 表征

K3 IS 直接探测相机用途广泛，在对材料反应的原位表征中能够轻松无障碍的在低剂量和高速成像之间切换。K3 IS 相机的大视野能够在诸如环境电镜中特定温度下对纳米颗粒的相变研究，电池阳极的锂化过程，以及在原位表征过后对纳米线运用 4D STEM 进行应变分布等应用中带来优势。此外，低剂量表征能够与针对包括电池电极/电解液、金属有机框架结构等在内的电子束敏感材料的冷冻成像技术互相结合。电子束敏感环境成像能够充分利用 K3 IS 这一先进相机的实时帧平均功能，在采集外场刺激施加前浏览样品，同时相机的“回看”功能能够防止关键图像的丢失。本次网络研讨会将通过一系列的材料体系和反应，凸显 K3 IS 相机的原位和低剂量成像功能及其广泛用途和易用界面。

我们的工作集中在原位研究上，细节将着重讨论快速反应和电子束敏感材料。

主讲人

Katherine Jungjohann, Ph.D., Center for Integrated Nanotechnologies, Sandia National Laboratories

John Watt, Ph.D., Center for Integrated Nanotechnologies, Los Alamos National Laboratory

GMS 3 Analysis Tools: Multivariate Statistical Analysis

Electron energy-loss spectrum imaging is well established as a powerful tool for materials analysis. The wealth of information available beyond simple composition, coupled with high signal collection efficiency in next-generation imaging filters makes this technique particularly advantageous for advanced analysis and mapping.

GMS 3.4 分析工具：线性最小二乘拟合

多元最小二乘拟合（MLLS）和非线性最小二乘拟合（NLLS）这两种最小二乘拟合方法是 Gatan Microscopy Suite® (GMS) 中针对分析数据的高级处理过程中的核心工作流程。在 GMS 的线性最小二乘拟合工具集中，现在新增了许多关键特性，诸如非负参考标准拟合、实时拟合、一键分布图计算等，并且为非线性最小二乘拟合增加了更多支持的函数模型。上述所有这些新功能，都通过一个全新的拟合工具来进行控制和访问，致力于达到快速、易用和交互式的曲线拟合。

本次网络研讨会通过一系列的应用实例带您详细领略这一拟合工具带来的全新的、更强的数据处理能力。

GMS 3 分析工具：Python 集成

DigitalMicrograph®，或 Gatan Microscopy Suite® (GMS)，已经成为电镜界的“工业标准”软件工具之一，能够实现高级硬件控制，以及在线和离线的数据可视化和数据处理等功能。同时，软件中历来包含了脚本编写的功能，为需要实现新颖采集手段或数处理方法的用户提供了高度的可定制性。GMS 3 如今内建了 Python 集成，能够在现有的脚本界面中直接运行 Python 代码。Python 代码能够直接访问所有 Gatan 原生数据对象和现有的硬件控制。这一全新功能，再加上外部 Python 库或工具包带来的分析通用性和强大功能，为数据采集、处理、分析和可视化带来了难以估量的可能性。

请观看本次网络研讨会录像，了解嵌入 GMS 的 Python 脚本带来的以下优势：

数据实时处理和可视化
在电镜旁就能完成分析工作
充分利用大体量数据集/数据流
脚本控制的数据采集
减少数据导入/导出和转换需求

Webinar: Practical approaches for in-situ and environmental transmission electron microscopy

During this webinar Dr. Ai Leen Koh will speak about how in-situ transmission electron microscopy (TEM) concerns the examination of dynamic events in a sample under a controlled, externally applied stimulation.

GMS 3.4 分析工具：基于模型的 EELS 定量分析和 ELNES 相分布分析

本次网络研讨会，带您探索 Gatan Microscopy Suite® (GMS) 3.4 带来的全新分析工具。

ELNES 相分布分析在 GMS 中现有基于模型的 EELS 定量分析框架这一基础上更进一步，除了能够使用软件中已有的，通过计算得到的散射截面模型，我们还可以使用预先采集的参考谱（或构建标准）来进行定量分析。这一新工具不仅为分析提供了更为真实的吸收边形状，使得我们能够在更大的能量范围上进行拟合，带来更精确的最终定量分析结果，并且在 ELNES 相分布分析中，能够针对同一个元素的电离边，导入多个不同相的参考谱线，来实现不同材料相的分离和定量。本次网络研讨会向大家带来这一新功能的概览，通过应用实例展示最新的数据处理能力。

主讲人

Liam Spillane, Ph.D.，Gatan 分析应用专家

阴极荧光详解第5集：CL 数据分析

本次网络研讨会聚焦于 CL 数据分析的重要性，其中可包含空间、谱学和角度信息，以及它们之间的各种组合。对这类 CL 数据的分析的重要性，几乎同数据采集一样重要，通过数据分析能够揭示样品中许多有趣的特征，包括组分浓度分布的影响极其分布，缺陷密度，等离激元或光子模式及其它更多信息。在本场网络研讨会中，我们对来自各种样品的数据进行了分析，对结果进行了讨论，并展示了这类分析的优势。通过本次网络研讨会，您将了解到如何对一般样品进行上述这些分析。

主讲人： Jonathan Lee 博士，应用科学家

Applications in Direct Detection: K3 IS Webinar

In this webinar, we covered many examples of usage of direct detection cameras at Northwestern University, from the imaging of soft materials to special applications of 4D-STEM in hybrid interfaces. In particular, we covered the performance of the new Gatan K3 IS, which allows the acquisition of in-situ imaging and 4D STEM data in counted mode with high temporal resolution.

PRESENTER: Roberto dos Reis, Ph.D.
Department of Materials Science and Engineering, Northwestern University

阴极荧光详解第4集：提高空间、谱和角度分辨率

本集内容将聚焦于实际操作，即如何在扫描电镜（SEM）的CL系统中采集更清晰锐利的阴极发光分布、谱或角度分辨的发光花样。在您参加完本次研讨会后，您将了解到为何对不同的样品类型，需要设置特定的SEM条件；以及对CL探测器的哪些组成部分或部件的控制，对于获取优化的结果是至关重要的。