Webinar

本次网络研讨会，带您探索 Gatan Microscopy Suite® (GMS) 3.4 带来的全新分析工具。

ELNES 相分布分析在 GMS 中现有基于模型的 EELS 定量分析框架这一基础上更进一步，除了能够使用软件中已有的，通过计算得到的散射截面模型，我们还可以使用预先采集的参考谱（或构建标准）来进行定量分析。这一新工具不仅为分析提供了更为真实的吸收边形状，使得我们能够在更大的能量范围上进行拟合，带来更精确的最终定量分析结果，并且在 ELNES 相分布分析中，能够针对同一个元素的电离边，导入多个不同相的参考谱线，来实现不同材料相的分离和定量。本次网络研讨会向大家带来这一新功能的概览，通过应用实例展示最新的数据处理能力。

主讲人

Liam Spillane, Ph.D.，Gatan 分析应用专家

本次网络研讨会聚焦于 CL 数据分析的重要性，其中可包含空间、谱学和角度信息，以及它们之间的各种组合。对这类 CL 数据的分析的重要性，几乎同数据采集一样重要，通过数据分析能够揭示样品中许多有趣的特征，包括组分浓度分布的影响极其分布，缺陷密度，等离激元或光子模式及其它更多信息。在本场网络研讨会中，我们对来自各种样品的数据进行了分析，对结果进行了讨论，并展示了这类分析的优势。通过本次网络研讨会，您将了解到如何对一般样品进行上述这些分析。

In this webinar, we covered many examples of usage of direct detection cameras at Northwestern University, from the imaging of soft materials to special applications of 4D-STEM in hybrid interfaces. In particular, we covered the performance of the new Gatan K3 IS, which allows the acquisition of in-situ imaging and 4D STEM data in counted mode with high temporal resolution.

PRESENTER: Roberto dos Reis, Ph.D.
Department of Materials Science and Engineering, Northwestern University

在本次网络研讨会中，我们对 CL 探测器的不同硬件与分析模式进行了回顾，并讨论了在分析地质科学样品中这些模式各自的优缺点。

在本次研讨会中，来自佐治亚理工学院的 Josh Kacher 探讨了他的研究小组正在进行的工作，利用先进多尺度多模式电子显微术表征技术来对机械变形和失效过程进行研究。研讨会着重介绍来自两类材料的应用结果：Al 合金中的第二相颗粒对塑性失效的影响，以及确定不同的加工条件对增材制造合金周期性加载过程中的应变局域化行为所起到的作用。

本次网络研讨会介绍了在材料原位表征中芯损失和低能损失电子能量损失谱学（core-loss and low-loss EELS）的应用。对还原过程、空位有序化以及气-固反应的原位观察能够通过原位 STEM EELS 实现。非接触电子束（aloof beam） EELS 能够对样品的近表面区域进行表征，特别是对于电子束辐照敏感的体系来说更为有用。对于在气相和液相中的反应，EELS 同样能够被用来对周围气相或液相中的成分变化进行表征，运用于针对催化表征或电化学环境中的电解液变化的 operando 原位电镜表征。振动模式 EELS （vibrational EELS） 的最新进展打开了原位表征的新领域，并且随着先进单色器的普遍化，这一领域将继续深入发展。

本次研讨会对阴极发光技术及其关键应用挑战进行了介绍，并展示了来自纳米光电学、微型 LED 器件开发与微区分析等领域的最新研究结果。