Environmental TEM: Fast is beautiful

本ウェビナーではフランス、リヨンのCLYM(www.clym.fr)に設置された加速電圧300 kVの収差補正ETEMを用いた、主に触媒に関連したナノ粒子についての最新の研究結果について御紹介します。

低減によって得られるものとは ー 電子カウンティングEELSによる照射電子線量、ダメージ、そして取得時間の低減

信頼性の高い電子エネルギー損失分光法(EELS)のスペクトルを取得することは長年のテーマであり、広いエネルギー範囲 (keV) 、高いエネルギー分解能(サブeV)、そして同時に広いダイナミックレンジ(数桁)が必要となることが大きな課題です。従来では、EELSはひとつの並列記録が可能なセンサーを用いて検出されていました。しかしながら、この一般的な検出器のダイナミックレンジは限られており、高いエネルギー分解能を得るためにはそのエネルギー範囲も非常に狭いものでした。これらは二つのスペクトルを高速で切り替えながら連続的に取得することで状況が改善されますが、その代償として試料に対する余分な電子線照射(結果として取得時間)が発生します。この考えをさらに拡張し、複数のスペクトルを取得することは論理的には次の有効な手段として考えつきますが、これは電子線照射に耐える試料の分析に対して、取得時間が問題とならない場合においてのみ有効です。このアイデアを突き詰めると、シリアル検出のEELS分光器の時代に逆戻りすることになり、素晴らしいスペクトルが取得出来たとしても多くの人が利用したいと思うようなシステムではなくなってしまいます。

ウェビナー開催のご案内:直接検出型カメラを使用した分割露光EELSスペクトルイメージング

マルチフレーム積算スペクトルイメージング(SI)法が提案され、STEMの像分解能とシグナルノイズ比(SNR)の双方を改善する手法として実証されました[1]。EELSによる測定において、シンチレータを備えたCMOSやCCD検出器は読み出しノイズの影響によって低電子線照射量、高速のマルチフレーム積算SI法には不向きです。一方、直接検出型の電子カウンティングカメラはほぼノイズの無い読み出しが可能であるため、低電子線照射条件下でのマルチフレーム積算EELS SIデータの取得に理想的です[2]。

Gatan社 最先端スペクトラムイメージング測定 eaSIテクノロジーのご紹介

Gatan eaSIテクノロジーによる、照射電子線を極限まで効率的に利用したEELSスペクトルイメージデータの取得

GIF Continuum K3 IS: Advanced direct detection for in-situ chemical analysis

Gatan DigitalMicrograph is a well-established software tool for performing in-situ (S)TEM experiments. This powerful capability has now been expanded to allow capture and analysis of in-situ EELS and spectrum imaging datasets. This video demonstrates the unique in-situ data acquisition and analysis capability of this advanced software platform when operated together with the GIF Continuum® K3® system.

Continuum IS: Versatile time-resolved data collection webinar

Gatan's latest spectrometer, the Continuum, enables a wide range of techniques for (S)TEM investigations. This versatility is enhanced further with the Continuum IS, where acquisition modes have been expanded to capture data continuously over time.

This webinar will present the numerous types of data that can be collected with the Continuum IS as well as the powerful tools we provide to process that data, including our redesigned IS player and Python scripting.

Continuously acquired 4D STEM and EELS spectrum images for in-situ microscopy webinar

In this webinar, we presented new tools for in-situ EELS spectrum imaging and in-situ 4D STEM. In addition to a simple interface for continuous acquisition with live drift correction, Gatan has developed a suite of tools for processing and visualizing these multi-dimensional datasets. While faster detectors make a continuous acquisition of analytical data feasible, these tools for the management of the resulting data make such experiments practical.

Auf den Spuren von Lithium im Mikrometerbereich

Lithium-Ionen-Batterien (Li) werden aufgrund ihrer herausragenden Energiedichte und geringen Masse für eine Vielzahl von Energiespeicheranwendungen eingesetzt. Es besteht weiterhin großes Potential zur Verbesserung der Kapazität und der Effizienz dieser Energiematerialien durch die Optimierung der verwendeten Komponenten und Materialien. Insbesondere durch den Mangel an geeigneten Charakterisierungstechniken auf der Mikro- und Nanoebene, sind die Abbaumechanismen und Strukturentwicklungen noch nicht ausreichend erforscht.

3DED: データ取得とデータ解析の概要

結晶性材料中の正確な原子配列の決定は、構造と物性間の関係を理解する上で重要です。そして新たな材料の合成方法に利用することも出来ます。これまでの数十年間、サブミクロン/ナノメートルサイズの結晶の構造決定に三次元電子線回折(3DED)が用いられてきました。この手法は連続傾斜電子線回折法 (Continuous Rotational Electron Diffraction; CRED) やマイクロED (Microcrystal Electron Diffraction, MicroED) とも呼ばれます。この手法を用いることで、酸化物やゼオライト、MOF、タンパク質、薬物などの正しい構造がこれまでに報告されています。3DEDで使用する連続データ取得モードによって、より高速のデータ取得が可能となり、電子線照射に敏感な様々な材料に対しても有効な手法となっています。

本ウェビナーでは、北京大Xiaoge Wang博士によりこの興味深い手法の概要をご紹介頂き、3DEDデータの取得方法といくつかの基本的な3DEDのデータ解析手法についてデモンストレーションを行います。

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