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本次网络研讨会介绍了在材料原位表征中芯损失和低能损失电子能量损失谱学（core-loss and low-loss EELS）的应用。对还原过程、空位有序化以及气-固反应的原位观察能够通过原位 STEM EELS 实现。非接触电子束（aloof beam） EELS 能够对样品的近表面区域进行表征，特别是对于电子束辐照敏感的体系来说更为有用。对于在气相和液相中的反应，EELS 同样能够被用来对周围气相或液相中的成分变化进行表征，运用于针对催化表征或电化学环境中的电解液变化的 operando 原位电镜表征。振动模式 EELS （vibrational EELS） 的最新进展打开了原位表征的新领域，并且随着先进单色器的普遍化，这一领域将继续深入发展。

本次研讨会对阴极发光技术及其关键应用挑战进行了介绍，并展示了来自纳米光电学、微型 LED 器件开发与微区分析等领域的最新研究结果。

在本次网络研讨会Eric A. Stach博士将描述材料科学领域的直接电子探测器的影响。特别是，能够直接采用电子显微镜高速成像观测纳米级材料的反应过程，能极大增加我们对材料的生长的科学知识，由此深刻影响我们在催化剂研究和材料的发现和设计方面的成果。研讨会还将包含大数据处理这些具体的实验问题。
主持人
Eric A. Stach
电子显微镜协会会长长
布鲁克海文国家实验室

关于K2相机的更多信息，请访问www.gatan.com/k2IS。

学习电子能量损失谱（EELS）和能谱（EDS）信号的性能互补特性，从而了解为何在做透射电镜材料成分分析的时候，总是非常推荐同时采集这两者的信号进行融合分析。在电子类仪器和探测器显著的技术进展下，现在使我们可以获取EELS-EDS的联合谱图数据，从而既可大尺度下分析材料的成分分布，又可在原子尺度进行材料的成分分析。在本教程中，我们将展示在不同的实验条件下获取的数据，从而展示EELS和EDS技术的互补性，以及各自擅长的应用领域。特别是，本教程将主要集中讨论一些最新一代的3D NAND存储器和目前在市场上销售的FinFET器件的化学组成及成分分析。