Science Direct
2022
Virtual and Physical Prototyping
2022
695 型
产品说明书
应用
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采用低能量宽离子束研磨技术提高 FIB 制备的 TEM 样品的质量
采用宽氩束抛光技术快速完成 FIB 制备的 TEM 薄样品的抛光
II-V MOSFET High-K 栅极中的界面进行原子解析 EELS 分析
方案
EM制样设备离子枪及冷阴极规的清洗
PIPS II的样品台及离子束调试
采用PIPS II系统进行FIB样品清洗的样品装调教程
采用PIPS II系统进行FIB样品清洗
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