少即是多 – 通过电子计数 EELS 减少样品辐照剂量、损伤和表征时间

获取高保真度的电子能量损失谱（EELS）一直是个难题。需要同时满足大能量范围（keV）、高能量分辨率（< eV）以及高动态范围（跨越若干数量级）的要求，这是一项重大挑战。传统上EELS 是在单个并行传感器上记录的。然而，常规探测器的动态范围有限，且在高能量分辨率下能量范围非常有限。可以通过快速连续获取两条谱线来改进这些问题，但代价是浪费施加在样品上的电子剂量（以及采集时间）。进一步扩展采集更多条谱线似乎是合乎逻辑的下一步。然而，这仅对最耐辐射的样品以及对采集时间不敏感的情况才可行。如果将此做法推至极限，我们就会回到序列 EELS 谱仪的时代，这种谱仪可以提供不错的谱线，但几乎没人真心愿意回到那个时代。

对于电子能量损失谱（EELS）而言，高效且节省时间的方法是采集单条高质量的光谱。如今，借助 K3^® 这款大幅面、直接探测电子计数探测器，这一目标得以实现。K3 在高清格式下拥有 5,760 个能量通道，能够以优于 1 eV 的分辨率获取 3 keV 范围的单次读取谱线，并在 2 keV 能量范围单条谱线上获得 cFEG能量分辨率。虽然不存在所谓完美的探测器，但通过本次网络研讨会，我们将展示配备 K3 探测器的 GIF Continuum^® 如何接近完美，并能为您节省电子辐照剂量、减少样品损伤以及宝贵的机时。