阴极荧光详解 第5集:CL 数据分析

本次网络研讨会聚焦于 CL 数据分析的重要性,其中可包含空间、谱学和角度信息,以及它们之间的各种组合。对这类 CL 数据的分析的重要性,几乎同数据采集一样重要,通过数据分析能够揭示样品中许多有趣的特征,包括组分浓度分布的影响极其分布,缺陷密度,等离激元或光子模式及其它更多信息。在本场网络研讨会中,我们对来自各种样品的数据进行了分析,对结果进行了讨论,并展示了这类分析的优势。通过本次网络研讨会,您将了解到如何对一般样品进行上述这些分析。

主讲人: Jonathan Lee 博士,应用科学家