高至5倍的效率(在同样的谱分辨率下)

同级别中性能优异的摄谱仪,能够使用更大的狭缝,增加光通量。由此带来了采集时间的缩短——此前受制于信噪比的场合。采集具有更高分辨率和更高峰背比的谱。

Monarc CL 探测器:波长谱成像(wavelength spectrum imaging)

Monarc新颖的波长过滤谱成像模式为超光谱数据带来更高的空间采样,在更短的时间内完成,避免漂移和电子辐照剂量带来的假象。该探测器适合于地质科学应用。

Monarc CL 探测器:偏振过滤阴极荧光

先进的滤光盘,具备可旋转的线性起偏镜,能够实现偏振过滤阴极荧光分布图,波长谱,角分辨花样,以及波长-角度-分辨谱,以确定偏振发光性能。

利用WARCL自动采集波长与角度分布

能够在>60%的发射半球范围内并行侦测波长和发射角。为LED与显示像素发光性能提供几乎完整的测量,以及为纳米光电应用提供能量-动量谱。

利用GIF Quantum K2系统,对非常高能量的吸收边进行面分布表征_Cu & Ni

GIF Quantum K2能够对非常高能量的吸收边进行面分布表征,包括 8.9 keV 的 CuK 边以及 8.3 keV的 NiK 边。

利用GIF Quantum K2系统,对非常高能量的吸收边进行面分布表征

以往,在EELS中对于能量大于 2 – 3 keV 的高能边进行表征是非常困难的,甚至无法获得元素面分布。K2 电子计数探测器带来的卓越信噪比表现,使得即使在纳米尺度下,对这些高能边的研究也能够变成日常的轻松任务。

GIF Quantum K2 系统带来信噪比与分辨率的提升

GIF Quantum® K2® 系统配备高速、电子计数直接探测相机,支持能量过滤成像与电子能量损失谱的采集。视频显示了信噪比与分辨率的提升,提升通过能量损失近边精细结构(ELNES)对化学态进行分析的能力。

清除半导体器件上的碳氢化合物累积

经由Solarus II 系统清洗后,非晶化的表面损伤和交联产物得以清除。处理方式:氢气与氧气;时长:5 分钟;样品:半导体器件;SEM图像。

减小硅样品的表面损伤,并维持样品完好

使用Solarus II 进行等离子清洗后,样品表面的非晶损伤层显著减少,同时维持了样品的完整性。处理方式:氢气与氧气;时长:5分钟;样品:硅,110方向;TEM图像:TF20。

Easily manage a large list of tasks

When single-particle screening with Latitude S, only schedule a few tasks to get feedback quickly or schedule the microscope to image every marked area.

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