消除背景噪声，增强细节信息：Metro 电子计数相机在 SAED 和 4D STEM 中的应用

了解 Metro^® 电子计数相机如何在没有中心束挡针的条件下实现低剂量电子衍射和 4D STEM。本次网络研讨会将展示通过电子计数抑制背景噪声、拓展动态范围并输出高度保真的衍射花样，甚至针对高度电子束敏感的材料，例如采集自石墨烯、分子筛、MOF 和 COF 样品的花样。此外我们也将展示 DigitalMicrograph^® 如何简化数据采集、处理和可视化呈现的流程，轻松实现先进的原位衍射和 4D STEM 技术。