バックグラウンドの低減及びディテールの強調: SAED および 4D STEMでの Metro直接検出電子カウンティングカメラの活用

Metro直接検出電子カウンティングカメラにより、理想的な低線量電子回折と4D STEMをビームストップなしで実現致します。このウェビナーでは、電子カウンティングによってバックグラウンドノイズが抑制されダイナミックレンジが拡大する事で、ビームに非常に敏感な材料であっても高い忠実度で回折パターンが得られる仕組みをご紹介します。グラフェン、ゼオライト、MOF、COF等のサンプルから取得したパターンをご紹介します。また、 DigitalMicrograph^®により画像取得、処理、可視化が効率化され、高度なin-situ回折法と4D STEM法を容易に実現する方法も併せてご紹介します。