向您介绍Monarc® Pro T，实现光学耦合透射电子显微术(TEM), 在远小于光学衍射极限的尺度下揭示材料结构、光学和电子性质的新一代系统。
- 带来锐利的阴极荧光 (CL) 成像和谱线: 专有的采集镜 (固体角高达 7.3 Sr) 以优异的光采集效率通过相差修正的摄谱仪采集具有亚毫电子伏特 (sub-meV) 能量分辨率的谱线
- 在各种电镜上实现光学耦合显微术，实现对光活性催化反应的原位研究：通过集成在 TEM 样品杆的光学系统保障一致的，超过 150 μm 视野的照明
- 简化多模态分析的工作流程：通过 eaSI 技术为您的高阶 STEM 实验带来高效和有效的工作流程
