在 DigitalMicrograph 中通过 STEMx OIM 获取 4D STEM 取向分布

STEMx OIM 是 DigitalMicrograph 软件中新增的 4D STEM 分析工具，可自动进行 4D STEM 取向和相图绘制，无需编写脚本！

本次网络研讨会将介绍 STEMx OIM 的衍射标定和取向映射工作流程，并演示如何利用 eaSI 技术进行高级实验，包括进动电子衍射以及与 EELS 或 EDS 相结合的多模态 4D STEM 分析。