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PECS III System 半導体、バッテリー、先端材料など、幅広い材料に対して、単一の統合ワークフローで一貫した高品質の表面ミリングを実現します。 |
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Ilion III System 産業用実験環境において遭遇する多種多様な材料に対し、一貫した高品質な断面ミリングを実現するよう設計されています。 |
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Solarus II システム TEM、SEM試料および試料ホルダーから炭化水素コンタミネーションを除去する次世代のプラズマツール |