再現性良く試料を作製し、ソフトマテリアルにおける構造変化を測定できます。この構造変化によって遷移金属内に応力やひずみを生じ、電子伝導率に影響を与え、製品のエネルギー出力量を低下させる不可逆的な相変化を引き起こします。
Read more...
更なる微細化と新たな三次元構造の製品化への道筋をつけ、デバイス性能の向上を実現するために、材料の複雑さと欠陥をより深く理解することができます。
Read more...
The team at Electron Microscopy Group in Nano-Materials Research Institute of AIST aims to realize the characterization of nano-materials at a single atomic level...
Griffiths, J. T.; Zhang, S.; Rouet-Leduc, B.; Fu, W. Y.; Bao, A.; Zhu, D.; Wallis, D. J.; Howkins, A.; Boyd, I.; Stowe, D.; Kappers, M. J.; Humphreys; C.J.; Oliver, R. A.
Zhao, W.; Fu, Z.; Deng, J.; Li, S.; Han, Y.; Li, M. -R.; Wang, X.; Hong, J.;
Han, L.; Addiego, C.; Prokhorenko, S.; Wang, M.; Fu, H.; Nahas, Y.; Yan, X.; Cai, S.; Wei, T.; Fang, Y.; Liu, H.; Ji, D.; Guo, W.; Gu, Z.; Yang, Y.; Wang, P.; Bellaiche, L.; Chen, Y.; Wu, D.; Nie, Y.; Pan, X.
Kim, S. C.; Huang, W.; Zhang, Z.; Wang, J.; Kim, Y.; Jeong, Y. K.; Oyakhire, S. T.; Yang, Y.; Cui, Y.
Kim, M. S.; Zhang, Z.; Rudnicki, P. E.; Yu, Z.; Wang, J.; Wang, H.; Oyakhire, S. T.; Chen, Y.; Kim, S. C.; Zhang, W.; Boyle, D. T.; Kong, X.; Xu, R.; Huang, Z.; Huang, W.; Bent, S. F.; Wang, L. -W.; Qin, J.; Bao, Z.; Cui , Y.
Yu, Z.; Rudnicki, P. E.; Zhang, Z.; Huang, Z.; Celik, H.; Oyakhire, S. T.; Chen, Y.; Kong, X.; Kim, S. C.; Xiao, X.; Wang, H.; Zheng, Y.; Kamat, G. A.; Kim, M. S.; Bent, S. F.; Qin, J.; Cui, Y.; Bao, Z.
Zhang, Z.; Li, Y.; Xu, R.; Zhou, W.; Li, Y.; Oyakhire, S. T.; Wu, Y.; Xu, J.; Wang, H.; Yu, Z.; Boyle, D. T.; Huang, W.; Ye, Y.; Chen, H.; Wan, J.; Bao, Z.; Chiu, W.; Cui, Y.
Sharangi, P.; Pandey, E.; Mohanty,S.; Nayak, S.; Bedanta, S.
Zaccagnini, P.; Ballin, C.; Fontana, M.; Parmeggiani, M.; Bianco, S.; Stassi, S.; Pedico, A.; Ferrero, S.; Lamberti, A.
Liting Yang, L.; Li, X.; Pei, K.; You, W.; Liu, X.; Xia, H.; Wang, Y.; Che, R.
Behera, P.; May, M. A.; Gómez-Ortiz, F.; Susarla, S.; Das, S.; Nelson, C. T.; Caretta, L.; Hsu, S. -L.; McCarter, M. R., Savitzky, B. H.; Barnard, E. S.; Raja, A.; Hong, Z.; García-Fernandez, P.; Lovesey, S. W.; van der Laan, G.; Ophus, C.; Martin, L. W.; Junquera, J.; Raschke, M. A.; Ramesh, R.
Giusto, P.; Cruz, D.; Heil, T.; Tarakina, N.; Patrini, M.; Antonietti, M.
Murthy, A. A.; Stanev, T. K.; Ribet, S. M.; Liu, P.; Watanabe, K.; Taniguchi, T.; Stern, N. P.; dos Reis, R.; Dravid, V. P.
Balch, H. B., Evans, A. M., Dasari, R. R., Li, H., Li, R., Thomas, S., Wang, Q., Bisbey, R. P., Slicker, K., Castano, I., Xun, S., Jiang, L., Zhu, C., Gianneschi, N., Ralph, D. C., Brédas, J-L., Marder, S. R., Dichtel, W. R., Wang, F.
Zhang, Z.; Yang, J.; Huang, W.; Wang, H.; Zhou, W.; Li, Y.; Li, Y.; Xu, J.; Huang, W.; Chiu, W.
Li, H. -K.; de Souza, J. P.; Zhang, Z.; Martis, J.; Sendgikoski, K.; Cumings, J.; Bazant, M. Z.; Majumdar, A.
Adikimenakis, A.; Chatzopoulou, P.; Dimitrakopulos, G. P.; Kehagias, Th.; Tsagaraki, K.; Androulidaki, M.; Doundoulakis, G.; Kuzmik, J.; Georgakilas, A.
Spende, H.; Margenfeld, C.; Meyer, T.; Clavero, I. M.; Bremers, H.; Hangleiter, A.; Seibt, M.; Waag, A.; Bakin, A.
Chao Zhang, C.; Firestein, K. L.; Fernando, J. F. S.; Siriwardena, D.; von Treifeldt, J. E.; Golberg, D.
Fang, C.; Li, J.; Zhang, M.; Zhang, Y.; Yang, F.; Lee, J. Z.; Lee, L. M. -H.; Alvarado, J.; Schroeder, M. A.; Yang, Y.; Lu, B.; Williams, N.; Ceja, M.; Yang, L.; Cai, M.; Gu, J.; Xu, K.; Wang, X.; Meng, Y. S.
Lotnyk, A.; Dankwort, T.; Hilmi, I.; Kienle, L.; Rauschenbach, B.
Olsen, V. S.; Bazioti, C.; Baldissera, G.; Azarov, A.; Prytz, Ø.; Persson, C.; Svensson, B. G.; Kuznetsov, A. Y.; Vines, L.
Lai, Z.; Bi, P.; Wen, L.; Xue, Y.; Jin, Y.
Almadoria, Y.; Delport, G.; Chambard, R.;Orcin-Chaix, L.; Selvati, A. C.; Izard, N.; Belhboub, A.; Aznar, R.; Jousselme, B.; Campidelli, S.; Hermet, P.; Le Parca, R.; Saito, T.; Sato, Y.; Suenaga, K.; Puech, P.; Lauret, J. S.; Cassabois, G.; Bantignies, J. -L.; Alvarez, L.
Pan, J.; Chen, S.; Fu, Q.; Sun, Y.; Zhang, Y.; Lin, N.; Gao, P.; Yang, J.; Qian, Y.
Pool, R.
Pan, J.; Chen, S.; Zhang, D.; Xu, X.; Sun, Y.; Tian, F.; Gao, P.; Yang, J.
Yasin, F. S.; Harvey, T. R.; Chess, J. J.; Pierce, J. S.; Ophus, C.; Ercius, P.; McMorran, B. J.
Zeng, L.; Gammer, C.; Ozdol, B.; Nordqvist, T.; Nygård, J.; Krogstrup, P.; Minor, A. M.; Jäger, W.; Olsson, E.
Gammer, C.; Ophus, C.; Pekin, T. C.; Eckert, J.; Minor, A. M.
de Boisse, B. M.; Nishimura, S.; Watanabe, E.; Lander, L.; Tsuchimoto, A.; Kikkawa, J.; Kobayashi, E.; Asakura, D.; Okubo, M.; Yamada, A.
Tsukasaki, H.; Mori, Y.; Otoyama, M.; Yubuchi, S.; Asano, T.; Tanaka, Y.; Ohno, T.; Mori, S.; Hayashi, A.; Tatsumisago, M.
Lutz, L.; Dachraoui, W.; Demortière, A.; Johnson, L. R.; Bruce∥, P. G.; Grimaud, A.; Tarascon, J. -M.
Ogata, K.; Jeon, S.; Ko, D.-S.; Jung, I. S.; Kim, J. H.; Ito, K.; Kubo, Y.; Takei, K.; Saito, S.; Cho, Y.-H.; Park, H.; Jang, J.; Kim, H.-G.; Kim, J. -H.; Kim, Y. S.; Choi, W.; Koh, M.; Uosaki, K.; Doo, S. G.; Hwang, Y.; Han, S.
Hu, X.; Yasaei, P.; Jokisaari, J.; Öğüt, S.; Salehi-Khojin, A.; Klie, R. F.
Tsukasaki, H.; Otoyama, M.; Mori, Y.; Mori, S.; Morimoto, H.; Hayashi, A.; Tatsumisago, M.
Gao, J.; Liu, Y.; Wang, Y.; Wang, D.
Tsukasaki, H.; Mori, S.; Morimoto, H.; Hayashi, A.; Tatsumisago , M.
Hwang, S.; Lee, Y.; Jo, E.; Chung, K. Y.; Choi, W.; Kim, S. M.; Chang, W.
Shi, L.; Pang, C.; Chen, S.; Wang, M.; Wang, K.; Tan, Z.; Gao, P.; Ren, J.; Huang. Y.; Peng, H.; Liu, Z.
Minella, C. B.; Gao, P.; Zhao‐Karger, Z.; Mu, X.; Diemant, T.; Pfeifer, M.; Chakravadhanula, V. S. K.; Behm, R. J.; Fichtner, M.
Zhang, Z.; Guo, H.; Ding, W.; Zhang, B.; Lu, Y.; Ke, X.; Liu, W.; Chen, F.; Sui, M.
Ziolkowska, D. A.; Jangam, J. S. Dilip; Rudakov, G.; Paronyan, T.; Akhtar, M.; Sumanasekera, G.; Jasinski, J. B.
Asayesh-Ardakani, H.; Yao, W.; Nie, A.; Marley, P. M.; Braham, E.; Klie, R. F.; Banerjee, S.; Shahbazian-Yassar, R.
Liu, H.; Bugnet, M.; Tessaro, M. Z.; Harris, K. J.; Dunham, M. J. R.; Jiang, M.; Goward, G. R.; Botton, G. A.
Ziolkowska, D. A.; Jasinski, J. B.; Hamankiewicz, B.; Korona, K. P.; Wu, S. -H.; Czerwinsk, A.
Sutter, E.; Huang, Y.; H.-P. Komsa, H. -P.; Ghorbani-Asl, M.; Krasheninnikov, A. V.; Sutter, P.
Alavijeh, A. S.; Venkatesan, S. V.; Khorasany, R. M. H.; Kim, W. H. J.; Kjeang, E.
Semple, J.; Rossbauer, S.; Burgess, C. H.; Zhao, K.; Jagadamma, L. K.; Amassian, A.; McLachlan, M. A.; Anthopoulos, T. D.
Cho, E. S.; Ruminski, A. M.; Aloni, S.; Liu, Y. -S.; Guo, J.; Urban, J. J.
Bansen, R.; Ehlers, C.; Teubner, T.; Markurt, T.; Schmidtbauer, J.; Boeck, T.
Qi, K.; Zasada, F.; Piskorz, W.; Indyka, P.; Gryboś, J.; Trochowski, M.; Buchalska, M.; Kobielusz, M.; Macyk, W.; Sojka, Z.
Teherani, F. H.; Look, D. C.; Rogers, D. J.
Lim, S. -H.; Ko, Y. -H.; Rodriguez, C.; Gong, S. -H.; Cho, Y. -H.
Green, M.; Haigh, S. J.; Lewis, E. A.; Sandiford, L.; Burkitt-Gray, M.; Fleck, R.; Vizcay-Barrena, G.; Jensen, L.; Mirzai, H.; Curry, R. J.; Dailey, L. -A.
Ye, M.; Zhang, G.; Ba, Y.; Wang, T.; Wang, X.; Liu, Z.
Combined Cr and Mo poisoning of (La,Sr)(Co,Fe)O3 − δ solid oxide fuel cell cathodes at the nanoscale
Ni, N.; Skinner, S.
Wegele, T.; Beyer, A.; Ludewig, P.; Rosenow, P.; Duschek, L.; Jandieri, K.; Tonner, R.; Stolz, W.; Volz, K.
Durniak, M. T.; Bross, A. S.; Elsaesser, D.; Chaudhuri, A.; Smith, M. L.; Allerman, A. A.; Lee, S. C.; Brueck, S. R. J.; Wetzel, C.
Griffiths, J. T.; Zhang, S.; Rouet-Leduc, B.; Fu, W. Y.; Bao, A.; Zhu, D.; Wallis, D. J.; Howkins, A.; Boyd, I.; Stowe, D.; Kappers, M. J.; Humphreys, C. J.; Oliver, R. A.
Miller, D.; Akbar, S.; Morris, P.; Williams, R. E. A.; McComb, D. W.
White, E. R.; Howkins, A.; Williams, C. K.; Shaffer, M. S. P.
den Engelsen, D.; Fern, G. R.; Ireland, T. G.; Harris, P. G.; Silver, J.
Choi, Y. R.; Yoon, Y. -G.; Choi, K. S.; Kang, J. H.; Shim, Y. -S.; Kim, Y. H.; Chang, H. J.; Lee, J. -H.; Park, C. R.; Kim, S. Y.; Jang, H. W.
Wang, W. -Y.; Tang, Y. -L.; Zhu, Y. -L.; Xu, Y. -B.; Liu, Y.; Wang, Y. -J.; Jagadeesh, S.; Ma, X. -L.
Agarwal, R.; Zakharov, D. N.; Krook, N. M.; Liu, W.; Berger, J. S.; Stach, E. A.; Agarwal, R.
Schurch, R.; Rowland, S.M.; Bradley, R.S.; Withers, P.J.
Fern, G. R.; Silver, J.; Coe-Sullivan, S.
Yan, L.; Jahangir, S.; Wight, S. A.; Nikoobakht, B.; Bhattacharya, P.; Millunchick, J. M.
Ramírez, J. M.; Wojcik, J.; Berencén, Y.; Ruiz-Caridad, A.; Estradé, S.; Peiró, F.; Mascher, P.; Garrido, B.
Vergeles, P. S.; Yakimov, E. B.
Rowland, S. M.; Schurch, R.; Pattouras, M.; Li, Q.
Pageot, J.; Rouzaud, J. -N.; Ahmad, M. A.; Deldicque, D.; Gadiou, R.; Dentzer, J.; Gosmain, L.
Yoon, D. H.
Wei, F.; Gasparyan, H.; Keenan, P. J.; Gutmann, M. J.; Fang, Y.; Baikie, T.; Claridge, J.; Slater, P.; Kloc, C.; White, T.
Amoli, B. M.; Trinidad, J.; Hu, A.; Zhou, Y. N.; Zhao, B.
Bharat, L. K.; Rao, B. V.; Yu, J. S.
Pfeiler-Deutschmann, M.; Mayrhofer, P. H.; Chladil, K.; Penoy, M.; Michotte, C.; Kathrein, M.; Mitterer, C.
Schurch, R.; Rowland, S.M.; Bradley, R.S.; Hashimoto, T.; Thompson, G.E.; Withers, P.J.
Schurch, R.; Rowland, S. M.; Bradley, R. S.; Hashimoto, T.; Thompson, G. E.; Withers, P. J.
Yang, W.; Cheng, G.; Dong, C.; Bai, Q.; Chen, X.; Peng, Z.; Zhang, Z.
Kumar, S.; Tessarek, C.; Sarau, G.; Christiansen, S.; Singh, R.
Sabri, F.; King, D. S.; Lokesh, A.; Hatch, C. J.; Duran, R. A.
Moraes, J.; Ohno, K.; Maschmeyer, T.; Perrier, S.
Williams, R. E. A.; Carnevale, S. D.; Kent, T. F.; Stowe, D. J.; Myers, R. C.; McComb, D. W.
Han, M-G.; Marshall, M. S. J.; Wu, L.; Schofield, M. A.; Aoki, T.; Twesten, R.; Hoffman, J.; Walker, F. J.; Ahn, C. H.; Zhu, Y.
Benck, J. D.; Lee, S. C.; Fong, K. D.; Kibsgaard, J.; Sinclair, R.; Jaramillo, T. F.
Marincel, D. M.; Zhang, H.; Kumar, A.; Jesse, S.; Kalinin, S. V.; Rainforth, W. M.; Reaney, I. M.; Randall, C. A.; Trolier-McKinstry, S.
Kitta, M.; Akita, T.; Tanaka, S.; Kohyama, M.
Akita, T.; Tabuchi, M.; Nabeshima, Y.; Tatsumi, K.; Kohyama, M.
Chen, D.; Friedrich, H.; de With, G.
Watanabe, S.; Kinoshita, M.; Hosokawa, T.; Morigaki, K.; Nakura, K.
Carretero-Genevrier, A.; Oro-Sole, J.; Gazquez, J.; Magén, C.; Miranda, L.; Puig, T.; Obradors, X.; Ferain, E.; Sanchez, C.; Rodriguez-Carvajal, J.; Mestres, N.
Kociak, M,; Stéphan, O.; Gloter, A.; Zagonel, L. F.; Tizei, L. H. G.; Tencé, M.; March, K.; Blazit, J. D.; Mahfoud, Z.; Losquin, A.; Meuret, S.; Colliex, C.
Marris, H.; Deboudt, K.; Flament, P.; Grobéty, B.; Gieré, R.
Battaile, C. C.; Boyce, B. L.; Brons, J. G.; Foiles, S. M.; Hattar, K. A.; Holm, E. A; Padilla, H. A.; Sharon, J. A.; Thompson, G. B.
Kitta, M.; Akita, T.; Tanaka, S.; Kohyama, M.
Gauquelin, N.; Hawthorn, D. G.; Sawatzky, G. A.; Liang, R. X.; Bonn, D. A.; Hardy, W. N.; Botton, G. A.
Kim, J. M.; Kim, Y.; Shim, J. H.; Lee, Y. S.; Suh, J. Y.; Ahn, J. P.; Kim, G. H.; Cho, Y. W.
Häussler, D.; Houben, L.; Essig, S.; Kurttepeli, M.; Dimroth, F.; Dunin-Borkowski, R. E.
Zychma, A.; Wansing, R.; Schott, V.; Köhler, U.; Wöll, C.; Muhler, M.; Birkner, A.
Gandman, M.; Kauffmann, Y.; Koch, C. T.; Kaplan, W. D.
Ampelli, C.; Passalacqua, R.; Genovese, C.; Perathoner, S.; Centi, G.; Montini, T.; Gomba, V.; Jaen, J. J. D.; Fornasiero, P.
Tang, W.; Picraux, S. T.; Huang, J. H.; Liu, X.; Tu, K. N.; Dayeh, S. A.
Clark, L.; Oró-Solé, J.; Knight, K. S.; Fuertes, A.; Attfield, J. P.
Eggeman, A. S.; Barnard, J. S.; Midgley, P. A.
Wang, F.; Yu, H. C.; Chen, M. H.; Wu, L.; Pereira, N.; Thornton, K.; Van der Ven, A.; Zhu, Y.; Amatucci, G. G.; Graetz, J.
Müller, K.; Rosenauer, A.; Schowalter, M.; Zweck, J.; Fritz, R.; Volz, K.
Collins, S. E.; Delgado, J. J.; Mira, C.; Calvino, J. J.; Bernal, S. B.; Chiavassa, D. L.; Baltanás, M. A.; Bonivardi, A. L.
La Torre, A.; Fay, M. W.; Rance, G. A.; Gimenez-Lopez, M. d. C.; Solomonsz, W. A.; Brown, P. D.; Khlobystov, A. N.
Huang, R.; Ikuhara, Y.
Yurtsever, A.; van der Veen, R. M.; Zewail, A. H.
Schulenburg, H.; Roth, C.; Scheiba, F.
Yoon, S. W.; Seo, J. H.; Seong, T. Y.; Yu, T. H.; You, Y. H.; Lee, K. B.; Kwon, H.; Ahn, J. P.
Shao, Z.
Nemcsics, Á.; Heyn, Ch.; Tóth, L.; Dobos, L.; Stemmann, A.; Hansen, W.
Dieterle, L.;Butz, B.; Müller, E.
Chang, H.; Yoon, S.; Seong, T.; Yu, T.; Yuo, Y.; Ahn, J.
Tan, H.; Turner, S.; Yücelen, E.; Verbeeck, J.; Van Tendeloo, G.
Hong, X.; Luo, Z.; Batteas, J. D.
Lari, L.; Walther, T.; Gass, M.H.; Geelhaar, L.;Chèze, C.; Riechert, H.; Bullough, T. J.; Chalker, P. R.
Janbroers, S.: Crozierc, P. A.; Zandbergen, H. W.; Kooyman, P. J.
Lee, H. S.; Lee, Y. S.; Suh, J. Y.; Kim, M.; Yu, J. S.; Cho, Y. W.
Inceesungvorn, B.; López-Castro, J.; Calvino, J. J.; Bernal, S.; Meunier, F. C.; Hardacre, C.; Griffin, K.; Delgado, J. J.
Schamm-Chardon, S.; Coulon, P.E.; Lamagna, L.; Wiemer, C.; Baldovino, S.; Fanciulli, M.
Holmberg, V. C.; Collier, K. A.; Korgel, B. A.
Vergnat, C.; Landais, V.; Legrand, J. F.; Brinkmann, M.
Carretero-Genevrier, A.; Gázquez, J.; Idrobo, J. C.; Oró, J.; Arbiol, J.; Varela, M.; Ferain, E.; Rodríguez-Carvajal, J.; Puig, T.; Mestres, N.; Obradors, X.
Arora, H.; Du, P.; Tan, K. W.; Hyun, J. K.; Grazul, J.; Xin, H. L.; Muller, D. A.; Thompson, M. O.; Wiesner, U.
Mishima, T. D.; Edirisooriya, M.; Santos, M. B.
van Schooneveld, M. M.; Gloter, A.; Stephan, O.; Zagonel, L. F.; Koole, R.; Meijerink, A.; Mulder W. J. M.; de Groot, F. M. F.
Mishima, T. D.; Santos, M. B.
Yang, M.; Oró-Solé, J.; Kusmartseva, A.; Fuertes, A.; Attfield, J. P.
Wu, C. T.; Chu, M. W.; Chen, L. C.; Chen, K. H.; Chen, C. W.; Chen, C. H.
Cao, F.; Beyerlein, I. J.; Addessio, F. L.; Sencer, B. H.; Trujillo, C. P.; Cerreta, E. K.; Gray III, G. T.
Insights into the nature of iron-based Fischer-Tropsch catalysts from quasi in-situ TEM-EELS and XRD
Janbroers, S.; Louwen, J. N.; Zandbergen, H. W.; Kooyman, P. J.
Servanton, G.; Pantel, R.
Tanaka, K.; Miwa, T.; Sasaki, K.; Kuroda, K.
Jarausch, K.; Thomas, P.; Leonard, D. N.; Twesten, R.; Booth, C. R.
Alexander, D. T. L.; Crozier, P. A.; Anderson, J. R.
Yakovlev, S.; Libera, M.
Stöger-Pollach, M.
Kuykendall, T.; Ulrich, P.; Aloni, S.; Yang, P.
Arenal, R.
Blackford, M. G.; Hanna, J. V.; Pike, K. J.; Vance, E. R.; Perera, D. S.
Perera, D. S.; Cashion, J. D.; Blackford, M. G.; Zhang, Z.; Vance, E. R.
Jinschek, J. R.; Erni, R.; Gardner, N. F.; Kim, A. Y.; Kisielowski, C.
Horiuchi, S.; Yin, D.; Ougizawa, T.
Borckt, G.; Lakner, H.
Longo, D. M.; Howe, J. M.; Johnson, W. C.
Gatan Microscopy Suiteとしても知られるDigitalMicrographソフトウェア。デジタルカメラの制御と共に、電子線トモグラフィ、その場観察、スペクトラムイメージング、ディフラクションイメージング、その他多くのアプリケーションをサポート。
2015年Microscopy Today Innovation Awardを受賞。1台のカメラであらゆるTEMアプリケーションに対応し16メガピクセルの画像とビデオが取得できます。
Cipher® – The first and only system that quantitatively reveals the distribution of lithium in scanning electron microscopes