 |
In-Situ Explorer Gatan Microscopy Suiteソフトウェア内で、あらゆるその場観察に関わる制御とデータの取り扱いを実現します。 |
 |
加熱その場観察用ホルダー 微細構造の相変化、核生成、成長、および溶解の各過程を直接観察できるシングルおよびダブルチルト加熱ホルダー |
|
 |
冷却ホルダー 相転移などのその場低温観察に最適化 |
|
 |
クライオトランスファーホルダー 凍結水和試料のクライオトランスファーに理想的な試料ホルダー |
|
 |
試料引張りホルダー 電子線が透過可能な試料を様々な速度で引張り試験 |
|
 |
分析ホルダー 常温でのEDS分析に最適化 |
|
 |
トモグラフィホルダー 電子線トモグラフィに適した一軸試料高傾斜および二軸試料高傾斜用ホルダー |
|
 |
複数試料ホルダー 複数の試料を同時にホルダーにセットすることで観察効率を向上 |
|
 |
ターボポンピングステーション ホルダーおよび試料を真空下で保管。冷却試料ホルダーの真空排気も可能 |
|
 |
真空トランスファーホルダー 試料雰囲気を制御するためのシングルおよびダブルチルト真空トランスファーホルダー |
 |
GIF Continuum および Continuum S EELSとEFTEMのための先進システムの更なる進化 |
|
 |
GIF Continuum K3 システム EELS、EFTEM、そしてエネルギーフィルタ4D STEMのあらゆるアプリケーションに対して電子カウンティング処理を実現 |
|
 |
GIF Continuum ER/HR with Stela System The EELS and EFTEM systems ideal for multiuser facilities, now with the Stela hybrid-pixel option. |
|
 |
Continuum IS Upgrade その場電子顕微鏡法のための究極のツール |
|
 |
BioContinuum HDイメージングフィルタ クライオEMにおけるクラス最高のイメージングフィルタ、さらにEELSとEFTEMの使用も可能に |
|
 |
BioContinuumイメージングフィルタ 分子レベルでの機能システムと疾患の進行に対する知見を深めるcryo-EMとcryo-ETに最適化 |
|
 |
EDAX Elite T EDS Systems 走査透過型電子顕微鏡 (S)TEM アプリケーションやその場観察の最も直感的で使いやすいエネルギー分散型 X 線分析装置 (EDS)です。 |
 |
K3 IS カメラ 世界初のその場電子顕微鏡観察用電子カウンティング、高速、高精細広視野カメラ |
|
 |
K3 カメラ 直接検出型カメラの撮像能力の新たな性能ベンチマーク |
|
 |
Metro In-Situ Counting Camera これまでに無い像観察、電子線回折、その場観察を実現する最先端の電子カウンティングカメラ |
|
 |
Alpine Direct Detection Camera クライオEMによる観察を、より多くの方が利用可能とするために開発された世界初の直接検出型デジタルカメラ |
|
 |
Stela ハイブリットピクセルカメラ 最先端の4D STEMを実現する DigitalMicrograph に完全に統合されたハイブリットピクセル検出器 |
|
 |
ClearView カメラ 日々の電子顕微鏡観察をより高いレベルへと押し上げる高性能シンチレータカメラ |
|
 |
Rio カメラ Gatanの最新のCMOSカメラは、その分解能、速度、そして操作性によって電子顕微鏡観察に革新をもたらします。 |
 |
高機能STEM検出器 電子エネルギー損失分光法(EELS)に最適化されたSTEMイメージング用の高角度環状暗視野(HAADF)、環状暗視野(ADF)、および明視野および暗視野(BF/DF)検出器 |
|
 |
STEMPackスペクトルイメージング 走査モードが搭載されている透過型電子顕微鏡において、試料から詳細な分析データを取得するための効果的な手法を提供。 |
|
 |
STEMxシステム お手持ちのGatan in-situカメラで4D STEMデータを取得できる強力なツール |
|
 |
DigiScan 3システム デジタル画像の品質を高めるデジタルビーム制御および画像処理システム。 |
 |
Monarc Pro T System Enabling optically-coupled transmission electron microscopy to reveal nanoscale structural, optical, and electronic properties |
 |
Latitude S ソフトウェア Gatan社製カメラから得られる低電子線照射、単粒子、クライオ電子顕微鏡観察(Cryo-EM)のデータセットを効率的に、高いスループットで取得するための新たなスタンダードとなるべく開発されました。 |
|
 |
Latitude D ソフトウェア Latitudeソフトウェアの共通の特長である研究の効率化と高いスループットのデータ取得をMicroEDにおいて実現 |
|
 |
TEM AutoTuneソフトウェア フォーカス、非点収差、アライメントを自動調整します。 |
|
 |
DigitalMontageソフトウェア ステージおよび光学系の制御によって画像をシームレスに張り合わせることができます。 |
|
 |
HREM AutoTuneソフトウェア TEM高分解能像観察におけるフォーカス、非点補正、ビームチルトの重要なアライメントを自動的に調整することにより、高分解能像の評価を容易にします。 |
|
 |
DIFPACKモジュール 結晶試料の電子線回折像および高分解能格子像からのフーリエ変換像のスポット選択を自動化する電子線回折像解析パッケージ(DIFPACK)。 |
|
 |
HoloWorksソフトウェア ライブホログラムからライブ位相アンラップ処理を含めたライブ位相像を計算することが可能であり、2π/1000レベルでの高分解能位相像を実現する像のスタック取得とスタック処理機能(試料と干渉縞のドリフト補正を含む)を備えています。 |
 |
EELS Advisor EELSおよびEFTEM組成マッピング測定において最適なパラメータを提供するシミュレーションツール。 |
|
 |
高機能AutoFilterソフトウェアスイート 多数の元素に対するEELS分析およびEFTEMデータ取得を自動化します。 |
 |
PIPS IIシステム 精密なセンタリング、制御、再現性を実現する高精度イオン研磨システム |
|
 |
ディンプルグラインダⅡ 電子が透過可能なレベルに近い厚さまで試料を高速かつ高い信頼性の機械的手法によって予備研磨することで、イオンミリング時間を大幅に短縮し、不均一研磨を軽減します。 |
|
 |
Solarus II システム TEM、SEM試料および試料ホルダーから炭化水素コンタミネーションを除去する次世代のプラズマツール |
|
 |
ディスクパンチシステム 金属、合金など、あらゆる延性材料から透過型電子顕微鏡(TEM)ディスクを切り出すための推奨方法 |
|
 |
ディスクグラインダシステム 試料の事前薄膜加工と研磨加工によってイオンミリング時間の短縮と品質の向上が可能になります。 |
|
 |
超音波カッター 3 mmの透過型電子顕微鏡(TEM)ディスクに収まらない脆性材料から、ディスク状またはオリジナル形状を精密に切り出し可能 |
|
 |
断面試料作製キット 半導体デバイス、さまざまな基板の成膜試料、複合材料などの断面TEM試料(XTEM)の作製に理想的なキットです。 |
 |
DigitalMicrographソフトウェア Gatan Microscopy Suiteとしても知られるDigitalMicrographソフトウェア。デジタルカメラの制御と共に、電子線トモグラフィ、その場観察、スペクトラムイメージング、ディフラクションイメージング、その他多くのアプリケーションをサポート。 |