TEM In-Situ Software
In-Situ Explorer In-Situ Explorer

Gatan Microscopy Suiteソフトウェア内で、あらゆるその場観察に関わる制御とデータの取り扱いを実現します。

TEM Holder Systems
Heating In-Situ Holders 加熱その場観察用ホルダー

微細構造の相変化、核生成、成長、および溶解の各過程を直接観察できるシングルおよびダブルチルト加熱ホルダー

Cooling Holders 冷却ホルダー

相転移などのその場低温観察に最適化

Cryo-Transfer Holders クライオトランスファーホルダー

凍結水和試料のクライオトランスファーに理想的な試料ホルダー

654 Holder 試料引張りホルダー

電子線が透過可能な試料を様々な速度で引張り試験

Analytical Holders 分析ホルダー

常温でのEDS分析に最適化

Tomography Holders トモグラフィホルダー

電子線トモグラフィに適した一軸試料高傾斜および二軸試料高傾斜用ホルダー

Multiple Specimen Holders 複数試料ホルダー

複数の試料を同時にホルダーにセットすることで観察効率を向上

Turbo Pumping Station ターボポンピングステーション

ホルダーおよび試料を真空下で保管。冷却試料ホルダーの真空排気も可能

Vacuum Transfer Holders 真空トランスファーホルダー

試料雰囲気を制御するためのシングルおよびダブルチルト真空トランスファーホルダー

EELS、EFTEM、EDSシステム
GIF Continuum and Continuum S GIF Continuum および Continuum S

EELSとEFTEMのための先進システムの更なる進化

GIF Continuum K3 System GIF Continuum K3 システム

EELS、EFTEM、そしてエネルギーフィルタ4D STEMのあらゆるアプリケーションに対して電子カウンティング処理を実現

GIF Continuum ER/HR with Stela System GIF Continuum ER/HR with Stela System

The EELS and EFTEM systems ideal for multiuser facilities, now with the Stela hybrid-pixel option.

Continuum IS Upgrade Continuum IS Upgrade

その場電子顕微鏡法のための究極のツール

BioContinuum HD Imaging Filter BioContinuum HDイメージングフィルタ

クライオEMにおけるクラス最高のイメージングフィルタ、さらにEELSとEFTEMの使用も可能に

BioContinuum BioContinuumイメージングフィルタ

分子レベルでの機能システムと疾患の進行に対する知見を深めるcryo-EMとcryo-ETに最適化

EDAX EDS Powered by Gatan EDAX EDS Powered by Gatan

走査透過型電子顕微鏡(STEM)のアプリケーションで最も直感的で操作が簡単な分析ツール

デジタルイメージングカメラ
K3 IS Camera K3 IS カメラ

世界初のその場電子顕微鏡観察用電子カウンティング、高速、高精細広視野カメラ

K3 Camera K3 カメラ

直接検出型カメラの撮像能力の新たな性能ベンチマーク

Metro In-Situ Counting Camera

これまでに無い像観察、電子線回折、その場観察を実現する最先端の電子カウンティングカメラ

Alpine Direct Detection Camera Alpine Direct Detection Camera

クライオEMによる観察を、より多くの方が利用可能とするために開発された世界初の直接検出型デジタルカメラ

Stela Hybrid-Pixel Camera Stela ハイブリットピクセルカメラ

最先端の4D STEMを実現する Gatan Microscopy Suite に完全に統合されたハイブリットピクセル検出器

ClearView Camera ClearView カメラ

日々の電子顕微鏡観察をより高いレベルへと押し上げる高性能シンチレータカメラ

Rio camera Rio カメラ

Gatanの最新のCMOSカメラは、その分解能、速度、そして操作性によって電子顕微鏡観察に革新をもたらします。

STEM観察用システム
High-angle annular dark field (HAADF), annular dark field (ADF) plus bright and dark field (BF/DF) detectors 高機能STEM検出器

電子エネルギー損失分光法(EELS)に最適化されたSTEMイメージング用の高角度環状暗視野(HAADF)、環状暗視野(ADF)、および明視野および暗視野(BF/DF)検出器

STEMPack Spectrum Imaging STEMPackスペクトルイメージング

走査モードが搭載されている透過型電子顕微鏡において、試料から詳細な分析データを取得するための効果的な手法を提供。  

STEMxシステム STEMxシステム

お手持ちのGatan in-situカメラで4D STEMデータを取得できる強力なツール

DigiScan 3システム

デジタル画像の品質を高めるデジタルビーム制御および画像処理システム。

STEM用カソードルミネッセンスシステム
Monarc Pro T System Monarc Pro T System

Enabling optically-coupled transmission electron microscopy to reveal nanoscale structural, optical, and electronic properties

デジタルイメージング用ソフトウェ
Latitude S Software Latitude S ソフトウェア

Gatan社製カメラから得られる低電子線照射、単粒子、クライオ電子顕微鏡観察(Cryo-EM)のデータセットを効率的に、高いスループットで取得するための新たなスタンダードとなるべく開発されました。

Latitude D ソフトウェア Latitude D ソフトウェア

Latitudeソフトウェアの共通の特長である研究の効率化と高いスループットのデータ取得をMicroEDにおいて実現

TEM AutoTune Software TEM AutoTuneソフトウェア

フォーカス、非点収差、アライメントを自動調整します。

DigitalMontage Software DigitalMontageソフトウェア

ステージおよび光学系の制御によって画像をシームレスに張り合わせることができます。

HREM AutoTune HREM AutoTuneソフトウェア

TEM高分解能像観察におけるフォーカス、非点補正、ビームチルトの重要なアライメントを自動的に調整することにより、高分解能像の評価を容易にします。 

DIFPACK Module DIFPACKモジュール

結晶試料の電子線回折像および高分解能格子像からのフーリエ変換像のスポット選択を自動化する電子線回折像解析パッケージ(DIFPACK)。

HoloWorksソフトウェア HoloWorksソフトウェア

ライブホログラムからライブ位相アンラップ処理を含めたライブ位相像を計算することが可能であり、2π/1000レベルでの高分解能位相像を実現する像のスタック取得とスタック処理機能(試料と干渉縞のドリフト補正を含む)を備えています。

EELS、EFTEM、STEM用ソフトウェア
EELS Advisor EELS Advisor

EELSおよびEFTEM組成マッピング測定において最適なパラメータを提供するシミュレーションツール。

Advanced AutoFilter Suite 高機能AutoFilterソフトウェアスイート

多数の元素に対するEELS分析およびEFTEMデータ取得を自動化します。

TEM試料作製
PIPS II System PIPS IIシステム

精密なセンタリング、制御、再現性を実現する高精度イオン研磨システム

Dimple Grinder II ディンプルグラインダⅡ

電子が透過可能なレベルに近い厚さまで試料を高速かつ高い信頼性の機械的手法によって予備研磨することで、イオンミリング時間を大幅に短縮し、不均一研磨を軽減します。

Solarus II システム Solarus II システム

TEM、SEM試料および試料ホルダーから炭化水素コンタミネーションを除去する次世代のプラズマツール

Disc Punch ディスクパンチシステム

金属、合金など、あらゆる延性材料から透過型電子顕微鏡(TEM)ディスクを切り出すための推奨方法

Disc Grinder System ディスクグラインダシステム

試料の事前薄膜加工と研磨加工によってイオンミリング時間の短縮と品質の向上が可能になります。

Ultrasonic Cutter 超音波カッター

3 mmの透過型電子顕微鏡(TEM)ディスクに収まらない脆性材料から、ディスク状またはオリジナル形状を精密に切り出し可能

Cross Section Kit 断面試料作製キット

半導体デバイス、さまざまな基板の成膜試料、複合材料などの断面TEM試料(XTEM)の作製に理想的なキットです。

TEM分析
Gatan Microscopy Suite Software DigitalMicrographソフトウェア

Gatan Microscopy Suiteとしても知られるDigitalMicrographソフトウェア。デジタルカメラの制御と共に、電子線トモグラフィ、その場観察、スペクトラムイメージング、ディフラクションイメージング、その他多くのアプリケーションをサポート。