試料作製から結晶粒径、方位、構造の構成要素の検討を通じて、金属や合金のワークフローを簡素化し不具合や欠陥を早期に見つけることで、解決策を開発して生産効率を改善することができます。
Read more...
試料の作製、視覚化、および分析を明確かつ正確に行うことで、サブナノメートル分解能のEELSおよびEDSマップを生成し、材料や欠陥の組成、微細構造、および原子構造を解明できます。
Read more...
材料研究の最前線では、高感度の化学分析ツールを使用することで、さまざまな元素の化学状態に関する正確なデータが集められ、従来の電子光学系では観察されなかった無機材料の特性が明らかになっています。
Read more...
The team at Electron Microscopy Group in Nano-Materials Research Institute of AIST aims to realize the characterization of nano-materials at a single atomic level...
The Ringe Group was established in 2014 in the department of Materials Science and NanoEngineering (MSNE) at Rice University, Houston, TX, USA. Emilie Ringe and her group...
Senga, R.; Suenaga, K.; Barone, P.; Morishita, S.; Mauri, F.; Pichler, T.
Zhang, D.; Zhu, Y.; Liu, L.; Ying, X.; Hsiung, C. -E.; Sougrat, R.; Li, K.; Han, Y.
Hart, J. L.; Lang, A. C.; Leff, A. C.; Longo, P.; Trevor, C.; Twesten, R. D.; Taheri, M. L.
Zhu, Y.; Ciston, J.; Zheng, B.; Miao, X.; Czarnik, C.; Pan, Y.; Sougrat, R.; Lai, Z.; Hsiung, C. -E.; Yao, K.; Pinnau, I.; Pan, M.; Han, Y.
Zhao, M.; Bosman, M.; Danesh, M.; Zeng, M.; Song, P.; Darma, Y.; Rusydi, A.; Lin, H.; Qiu, C. -W.; Loh, K. P.
Shukla, A. K.; Ramasse, Q. M.; Ophus, C.; Duncan, H.; Hage, F.; Chen, G.
Griffiths, J. T.; Zhang, S.; Rouet-Leduc, B.; Fu, W. Y.; Bao, A.; Zhu, D.; Wallis, D. J.; Howkins, A.; Boyd, I.; Stowe, D.; Kappers, M. J.; Humphreys; C.J.; Oliver, R. A.
Park, J.; Elmlund, H.; Ercius, P.; Yuk, J. M.; Limmer, D. T.; Chen, Q.; Kim, K.; Han, S. H.; Weitz, D. A.; Zettl, A.; Paul Alivisatos, A. P.
Mecklenburg, M.; Hubbard, W. H.; White, E. R.; Dhall, R.; Cronin, S. B.; Aloni, S.; Regan, B. C.
Aitkaliyeva, A.; Madden, J. W.; Miller, B. D.; Cole, J. I.; Gan, J.
Kanomi, S.; Marubayashi, H.; Miyata, T.; Jinnai, H.
Clabbers, M. T. B.; Martynawycz, M. W.; Hattne, J.; Nannenga, B. L.; Gonen, T.
Yang, T.; Xua, H.; Zoua, X.
Lai, Y. H.; Zheng, J. D.; Lu, S. C.; Wang, Y. K.; Duan, C. G.; Yu, P.; Zheng, Y. Z.; Huang, R.; Chang, L.; Chu, M. W.; Hsu, J. H.; Chu, Y. H.
Persson, A. R.; Papamichail, A.; Darakchieva, V.
Du, J. S.; Dravid, V. P.; Mirkin, C. A.
Sun, J.; Ding, D.; Liu, W.; Wu, W.; Liu, H.; Wei, G.; Liu, H.
Pacakova, B.; Vullum, P. E.; Kirch, A.; Breu, J.; Miranda, C. R.; Fossum, J. O.
Hölzel, H.; Lee, S.; Amsharov, K.; Jux, N.; Harano, K.; Nakamura, E.; Lungerich, D.
Kuwahara, M.; Mizuno, L.; Yokoi, R.; Morishita, H.; Ishida, T.; Saitoh, K.; Tanaka, N.; Kuwahara, S.; Agemura, T.
Shang, T.; Xiao, D.; Meng, F.; Rong, X.; Gao, A.; Lin, T.; Tang, Z.; Liu, X.; Li, X.; Zhang, Q.; Wen, Y.; Xiao, R.; Wang, X.; Su, D.; Hu, Y. S.; Li, H.; Yu, Q.; Zhang, Z.; Petricek, V.; Wu, L.; Gu, L.; Zuo, J. M.; Zhu, Y.; Nan. C. W.; Zhu. J.
Xi, R.; Jiang, H.; Li, G.; Zhang, Z.; Zhao, G.; Vanmeensel, K.; Kustov, S.; Humbeeck. J. V.; Wang. X.
Wu, S.; Kou, Z.; Lai, Q.; Lan, S.; Katnagallu, S. S.; Hahn, H.; Taheriniya, S.; Wilde, G.; Gleiter, H.; Feng, T.
Vanacore, G. M.;Chrastina, D.; Scalise, E.; Barbisan, L.; Ballabio, A.; Mauceri, M.; Via, F. L.; Capitani, G.; Crippa, D.; Marzegalli, A.; Bergamaschini. R.; Miglio. L.
Ding, Z.; Gao, S.; Fang, W.; Huang, C.; Zhou, L.; Pei, X.; Liu, X.; Pan, X.; Fan, C.; Kirkland, A. I.; Wang, P.
Pakzad, A.; dos Reis. R. D.
Crozier, P. A.
Zanetta, P. -M.
Elgvin, C.; Kjeldby, S. B.; Both, K. G.; Nguyen, P. D.; Prytz, Ø.
Minor, A.; Mills, S.; Zeltmann, S.; Ercius, P.; Kohnert, A.; Uberuaga, B.
Shimizu, T.; Lungerich, D.; Harano, K.; Nakamura, E.
Hasegawa, S.; Masuda, S.; Takano, S.; Harano, K.; Tsukuda, T.
Abe, Y.; Satoh, Y.; Hashimoto, N.
Leong, Z.; Huang, Y.; Wróbel, J. S.; Gao, J.; Morley, N.; Goodall, R.
Liu, F.; Hu, W. -X.; Yang, Z. -H.; Wang, W.; He, W.
Sui, Y. -D.; Jiang, Y. -H.; Wang, Q. -D.
Liu, D.; Kowashi, S.; Nakamuro, T.; Lungerich, D.; Yamanouchi, K.; Harano, K.; Nakamura, E.
Cai, Y.; Xiang, S.; Tan, Y.
McClintock, D. A.; Gussev, M. N.; Campbell, C.; Mao, K.; Lach, T. G.; Lu, W.; Hachtel, J. A.; Unocic, K. A.
Hong, J.; Bae, J. -H.; Jo, H.; Park, H. -Y.; Lee, S.; Hong, S. J.; Chun, H.; Cho, M. K.; Kim, J.; Kim, J.; Son, Y.; Jin, H.; Suh, J. -Y.; Kim, S. -C.; Roh, H. -K.; Lee, K. H.; Kim, H. -S.; Chung, K. Y.; Yoon, C. W.; Lee, K.; Kim, S. H.; Ahn, J. -P.; Baik, H.; Kim, G. H.; Han, B.; Jin, S.; Hyeon, T.; Park, J.; Son, C. Y.; Yang, Y.; Lee, Y. -S.; Yoo, S. J.; Chun, D. W.
Murthy, A. A.; Das, P. M.; Ribet, S. M.; Kopas, C.; Lee, J.; Reagor, M. J.; Zhou, L.; Kramer, M. J.; Hersam, M. C.; Checchin, M.; Grassellino, A.; dos Reis, R.; Dravid, V. P.; Romanenko, A.
Senga, R.; Lin, Y. -C.; Morishita, S.; Kato, R.; Yamada, T.; Hasegawa, M.; Suenaga, K.
Liu, D.; Kowashi, S.; Nakamuro, T.; Lungerich, D.; Yamanouchi, K.; Harano, K.; Nakamura, E.
Mozgawa, B.; Sobańska, K.; Grybo, J.; Pietrzy, P.
Donohue, J.; Zeltmann, S. E.; Bustillo, K. C.; Savitzky, B.; Jones, M. A.; Meyers, G.; Ophus, C.; Minor, A. M.
Munshi, J.; Rakowski, A.; Savitzky, B. H.; Zeltmann, S. E.; Ciston, J.; Henderson, M.; Cholia, S.; Minor, A. M.; Chan, M. K. Y.; Ophus, C.
Wei, Y.; Zhao, X.; Liu, Z.; Tan, C.
Chen, C.; Sun, M.; Cheng, Z.; Liang, Y.
Angell, D. K.; Bourgeois, B.; Vadai, M.; Dionne, J. A.
Behera, P.; May, M. A.; Gomez-Ortiz, F.; Susarla, S.; Das, S.; Nelson, C. T.; Caretta, L.; Hsu, S. -L.; McCarter, M. R.; Savitzky, B. H.; Barnard, E. S.; Raja, A.; Hong, Z.; Garcia-Fernandez, P.; Lovesey, S. W.; Van der Laan, G.; Ercius, P.; Ophus, C.; Martin, L. W.; Junquera, J.; Raschke, M. B.; Ramesh, R.
Shang, Y.; Liu, Z.; Dong, J.; Yao, M.; Yang, Z.; Li, Q.; Zhai, C.; Shen, F.; Hou, X.; Wang, L.; Zhang, N.; Zhang, W.; Fu, R.; Ji, J.; Zhang, X.; Lin, H.; Fei, Y.; Sundqvist, B.; Wang, W.; Liu, B.
Tang, H.; Yuan, X.; Cheng, Y.; Fei, H.; Liu, F.; Liang, T.; Zeng, Z.; Ishii, T.; Wang, M. -S.; Katsura, T.; Sheng, H.; Gou, H.
Synthesis and characterisation of cerium sulphide over optical fiber and its gas sensing application
Theoderaj, A. K. C.; Jacob, I. D.; Chitra, J. M.
Kobayashia, S.; Howe, J. M.; MitsuhiroMurayama, M.
Singha, R.; Yuan, F.; Cheng, G.; Salters, T. H.; Oey, Y. M.; Villalpando, G. V.; Jovanovic, M.; Yao, N.; Schoop, L. M.
Ophus, C.; Zeltmann, S. E.; Bruefach, A.; Rakowski, A.; Savitzky, B. H.; Minor, A. M.; Scott, M. C.
Susarla, S.; García-Fernández, P.; Ophus, C.; Das, S.; Aguado-Puente, P.; McCarter, M.; Ercius, P.; Martin, L. W.; Ramesh, R. Junquera, J.
Ravat, P.; Uchida, H.; Sekine, R.; Kamei, K.; Yamamoto, A.; Konovalov, O.; Tanaka, M.; Yamada, T.; Harano, K.; Nakamura, E.
Murthy, A. A.; Ribet, S. M.; Stanev, T. K.; Liu, P.; Watanabe, K.; Taniguchi, T.; Stern, N. P.; dos Reis, R.; Dravid, V. P.
Zhao, J.; Xu, H.; Lebrette, H.; Carroni, M.; Taberman, H.; Hogbom, M.; Zou, X.
Mao, W.; Bao, C.; Han, L.
Xing, J.; Takeuchi, K.; Kamei, K.; Nakamuro, T.; Harano, K.; Nakamura, E.
Cao, B. X.; Kong, H. J.; Ding, Z. Y.; Wu, S. W.; Luan, J. H.; Jiao, Z. B.; Lu, J.; Liu, C. T.; Yang, T.
Kanomi, S.; Marubayashi, H.; Miyata, T.; Tsuda, K.; Jinnai, H.
Lin, Z.; Wu, C.; He, H.; Jiang, S.; Ren, F.; Cao, L.; Huang, Z.; Zhang, J.
Bu, Y.; Wu, Y.; Lei, Z.; Yuan, X.; Wu, H.; Feng, X.; Liu, J.; Ding, J.; Lu, Y.; Wang, H.; Lu, Z.; Yang, W.
Biffi, C. A.; Bassani, P.; Fiocchi, J.; Albu, M.; Tuissi, A.
Lungerich, D.; Hoelzel, H.; Harano, K.; Jux, N.; Amsharov, K. Y.; Nakamura, E.
Lungerich, D.; Hoelzel, H.; Harano, K.; Jux, N.; Amsharov, K. Y.; Nakamura, E.
Londoño-Calderon, A.; Williams, D. J.; Schneider, M. M.; Savitzky, B. H.; Ophus, C.; Ma, S.; Zhud, H.; Pettes, M. T.
Wang, H.; Yu, Z.; Kong, X.; Huang, W.; Zhang, Z.; Mackanic, D. G.; Huang, X.; Qin, J.; Bao, Z.; Cui. Y.
Liu, B.; Zhao, G.; Zhang, X.; Guo, J.; Gong, S.; Xie, G.; Peng, L.; Li, Z.
Mir, A. H.; Hyatt, N. C.; Donnelly, S. E.
Wang, W.; Blawert, C.; Zan, R.; Sun, Y.; Peng, H.; Ni, J.; Han, P.; Suo, T.; Song, Y.; Zhang, S.; Zheludkevich, M. L.; Zhang, X.
Ng, S.; Zazpe, R.; Rodriguez-Pereira, H.; Michalička, J.; Macak, J. M.; Pumera, M.
Censabella, M.; Irrera, D.; Boscarino, S.; Piccitto, G.; Grimaldi, M. G.; Ruffino, F.
Li, R.; Yamashita, S.; Kita, H.
Rymer, L. -M.; Winter, L.; Hockauf, K.; Lampke, T.
Kazmierczak, N. P.; Van Winkle, M.; Ophus, C.; Bustillo, K. C.; Carr, S.; Brown, H. G.; Ciston, J.; Taniguchi, T.; Watanabe, K,; Bediako, D. K.
Hasegawa, S.; Takano, S.; Harano, K.; Tsukuda, T.
Hasegawa, S.; Takano, S.; Harano, K.; Tsukuda, T.
Karre, R.; Hua, Y.; Song, S.; Wang, X.; Joardar, J.; Reddy, K. M.
Tomita, A.; Miki, T.; Tai, Y.
Hanayama, H.; Yamada, J.; Tomotsuka, I.; Harano, K.; Nakamura, E.
Koenig, T. R.; Rao, Z.; Chason, E.; Tucker, G. J.; Thompson, G. B.
Lezhnev, S. N.; Naizabekov, A. B.; Panin, E. A.; Volokitina, I. E.; Arbuz, A. S.
Pofelski, A.; Whabi, V.; Ghanad-Tavakoli, S.; Botton, G.
Krause, F. F.; Schowalter, M.; Oppermann, O.; Marquardt, D.; Müller-Caspary, K.; Ritz, R.; Simson, M.; Ryll, H.; Huth, M.; Soltau, H.; Rosenauer, A.
Xie, H.; Zhao, X.; Jiang, J.; Bai, J.; Li, S.; Pan, H.; Pang, X.; Li, H.; Ren, Y.; Qin, G.
Baron, C.; Werner, H.; Springer, H.
Boyle, D. T.; Huang, W.; Wang, H.; Li, Y.; Chen, H.; Yu, Z.; Zhang, W.; Bao, Z.; Cui, Y.
Emmrich, D.; Wolff, A.; Meyerbröker, N.; Lindner, J. K. N.; Beyer, A.; Gölzhäuser, A.
Osugi, S.; Takano, S.; Masuda, S.; Harano, K.; Tsukuda, T.
Sudha, M.; Surendhiran, S.; Gowthambabu, V.; Balamurugan, A.; Anandarasu, R.; Syed Khadar, Y. A.; Vasudevan, D.
Zrinski, I.; Mardare, C. C.; Jinga, L. - I.; Kollender, J. P.; Socol, G.; Minenkov, A.; Hassel, A. W.; Mardare, A. I.;
Farabi, E.; Sharp, J. A.; Vahid, A.; Fabijanic, D. M.; Barnett, M. R.; Gallo, S. C.
Chen, W.; Ding, D.; Zhang, W.; Xiao, D.
Wang, W.; Erofeev, I.; Nandi, P.; Yan, H.; Mirsaidov, U.
Londoño-Calderon, A.; J. Williams, D. J.; Schneider, M.; Savitzky, B. H.; Ophus, C.; Pettes, M. T.
Castano, I.; Evans, A. M.; dos Reis, R,; Dravid, V. P.; Gianneschi, N. C.; Dichtel, W. R.
Sekine, R.; Ravat, P.; Yanagisawa, H.; Liu, C.; Kikkawa, M.; Harano, K.; Nakamura, E.
Reboul, C. F.; Heo, J.; Machello, C.; Kiesewetter, S.; Kim, B. H.; Kim, S.; Elmlund, D.; Ercius, P.; Park, J.; Elmlund, H.
Pan, Z.; Zhou, Q.; Wang, P.; Diao, D.
Marchello, G.; De Pace, C.; Acosta-Gutierrez, S.; Lopez-Vazquez, C.; Wilkinson, N.; Gervasio, F. L.; Ruiz-Perez, L.; Giuseppe Battaglia, G.
Nakamuro, T.; Sakakibara, M.; Nada, H.; Harano, K.;Nakamura, E.
Quarez, E.; Gautron, E.; Paris, M.; Gajan, D.; Mevellec, J. -Y.
Mathur, N.; Yasin, F. S.; Stolt, M. J.; Nagai, T.; Kimoto, K.; Du, H.; Tian, M.; Tokura, Y.; Yu, X.; Jin, S.
Sulym, I.; Wiśniewska, M.; Storozhuk, L.; Terpilowski, K.; Sternik, D.; Borysenko, M.; Derylo-Marczewska, A.
Murthy, A. A.; Stanev, T. K.; Ribet, S. M.; Liu, P.; Watanabe, K.; Taniguchi, T.; Stern, N. P.; dos Reis, R.; Dravid, V. P.
Balch, H. B., Evans, A. M., Dasari, R. R., Li, H., Li, R., Thomas, S., Wang, Q., Bisbey, R. P., Slicker, K., Castano, I., Xun, S., Jiang, L., Zhu, C., Gianneschi, N., Ralph, D. C., Brédas, J-L., Marder, S. R., Dichtel, W. R., Wang, F.
Abfaltere, A.; Shamsi, J.; Kubicki, D. J.; Savory, C. N.; Xiao, J.; Divitini, G.; Li, W.; Macpherson, S.; Gałkowski, K.; MacManus-Driscoll, J. L.; Scanlon, D. O.; Stranks, S. D.
Kratish, Y.; Nakamuro, T.; Liu, Y.; Li, J.; Tomotsuka, I.; Harano, K.; Nakamura, E.; Marks, T. J.
Li, H. -K.; de Souza, J. P.; Zhang, Z.; Martis, J.; Sendgikoski, K.; Cumings, J.; Bazant, M. Z.; Majumdar, A.
Roslova, M.; Smeets, S.; Wang, B.; Thersleff, T.; Xu, H.; Zou, X.
Kamei, K.; Shimizu, T.; Harano, K.; Nakamura, E.
Shen, T. -H.; Spillane, L.; Vavra, J.; Pham, T. H. M.; Peng, J.; Shao-Horn, Y.; Tileli, V.
Kim, Y. -J.; Lee, Y.; Kim, K.; Kwon, O. -H.
Park, S.; Siahrostami, S.; Park, J.; Mostaghimi, A. H. B.; Kim, T. R.; Vallez, L.; Gill, T. M.; Park, W.; Goodson, K. E.; Sinclair, R.; Zheng, X.
Stuckner, J.; Shimizu, T.; Harano, K.; Nakamura, E.; Murayama, M.
Shimizu, T.; Lungerich, D.; Stuckner, J.; Murayama, M.; Harano, K.; Nakamura, E.
Gholinia, A.; Curd, M. E.; Bousser, E.; Taylor, K.; Hosman, T.; Coyle, S.; Hassel Shearer, M.; Hunt, J.; Withers, P. J.
Hanayama, H.; Yamada, J.; Harano, K.; Nakamura, E.
Londoño-Calderon, A.; Williams, D. J.; Ophus, C.; Pettes, M. T.
Murthy, A. A.; Stanev, T. K.; dos Reis, R.; Hao, S.; Wolverton, C.; Stern, N. P.; Dravid, V. P.
Yu, L.; Hudak, B. M.; Ullah, A.; Thomas, M. P.; Porter, C. C.; Thisera, A.; Pham, R. H.; Goonatilleke, M. D. A.; Guiton, B. S.
Ogata, A. F.; Rakowski, A. M.; Carpenter, B. P.; Fishman, D. A.; Merham, J. G.; Hurst, P. J.; Patterson, J. P.
Addiego, C.; Gao, W.; Pan, X.
Errokh, A.; Magnin, A.; Putaux, J. -L.; Boufi, S.
Vasiliades, M. A.; Kalamaras, C. M.; Govender, N. S.; Govender, A.; Efstathiou, A. M.
Nam, K. W.; Park, S. S.; dos Reis, R.; Dravid, V. P. Kim, H.; Mirkin, C. A.; Stoddart, J. F.
Gao, W.; Addiego, C.; Wang, H,; Yan, X.; Hou, Y.; Ji, D.; Heikes, C.; Zhang, Y.; Li, L.; Huyan, H.; Blum, T.; Aoki, T.; Nie, Y.; Schlom, D.; Wu, R.; Pan, X.
Leijten, Z. J. W. A.; Wirix, J. M.; Strauss, M.; Plitzko, J. M.; de With, G.; Friedrich, H.
Samji Samira, S.; Gu, X. -K.; Nikolla, E.
Mayoral, Á.; del Angel, P.; Ramos, M.
Mecklenburg, M.; Hubbard, W. A.; Lodico, J. J.; Regan, B. C.
Zhao, C.; Lu, H.; Wang, H.; Tang, F.; Nie, H.; Hou, C.; Liu, X.; Song, X.; Nie, Z.
Ogawa, Y.
Xing, J.; Schweighauser, L.; Okada, S.; Harano, K.; Nakamura, E.
Vollmer, C.; Leitner, J.; Kepaptsoglou, D.; Ramasse, Q. M.; Busemann, H.; Hoppe, P.
Fang, C.; Li, J.; Zhang, M.; Zhang, Y.; Yang, F.; Lee, J. Z.; Lee, L. M. -H.; Alvarado, J.; Schroeder, M. A.; Yang, Y.; Lu, B.; Williams, N.; Ceja, M.; Yang, L.; Cai, M.; Gu, J.; Xu, K.; Wang, X.; Meng, Y. S.
Kumar, A.; Nayak, S. K.; Bijalwan, P.; Dutta, M.; Banerjee, A.; Laha, T.
Li, X.; Wang, J.; Liu, X.; Liu, L.; Cha, D.; Zheng, X.; Yousef, A. A.; Song, K.; Zhu, Y.; Zhang, D.; Han, Y.
Yang, J.; Zeng, Z.; Kang, J.; Betzler, S.; Czarnik, C.; Zhang, X.; Ophus, C.; Yu, C.; Bustillo, K.; Pan, M.; Qiu, J.; Wang, L. -W.; Zheng, H.
Wang, H.; Liu, Z.; Liu, H.; Guan, L.; Cao, X.; Zhang, Z.; Huang, Y.; Jin, C.
Yakovlev, S.; Fiscus, D.; Brant, P.; Butler, J.; Bucknall, D. G.; Downing, K. H.
Li, Y.; Wang, K.; Zhou, W.; Sinclair, R.; Chiu, W.; Cui, Y.
Su, T.; Hood, Z. D.; Naguib, M.; Bai, L.; Luo, S.; Rouleau, C. M.; Ivanov, I. N.; Ji, H.; Qin, Z.; Wu, Z.
Matai, I.; Garg, M.; Rana, K.; Singh, S.
Zhang, Y.; Tunes, M. A.; Crespillo, M. L.; Zhang, F.; Boldman, W. L.; Rack, P. D.; Jiang, L.; Xu, C.; Greaves, G.; Donnelly, S. E.; Wang, L.; Weber, W. J.
Tunes, M. A.; Harrison, R. W.; Donnelly, S. E.; Edmondson, P. D.
Hooley, R.; Brown, A.; Brydson, R.
S’ari, M.; Cattle, J.; Hondow, N.; Brydson, R.; Brown, A.
Almadoria, Y.; Delport, G.; Chambard, R.;Orcin-Chaix, L.; Selvati, A. C.; Izard, N.; Belhboub, A.; Aznar, R.; Jousselme, B.; Campidelli, S.; Hermet, P.; Le Parca, R.; Saito, T.; Sato, Y.; Suenaga, K.; Puech, P.; Lauret, J. S.; Cassabois, G.; Bantignies, J. -L.; Alvarez, L.
Evans, S. F.; Ivancevic, M. R.; Wilson, D. J.; Hood, Z. D.; Adhikari, S. P.; Naskar, A. K.; Tsouris, C.; Paranthaman, M. P.
Yang, W. -C. D.; Wang, C.; Fredin, L. A.; Lin, P. A.; Shimomoto, L.; Lezec, H. J.; Sharma, R.
Almeida, T. P.; Muxworthy, A. R.; Williams, W.; Kasama, T.; Kovács, A.; Dunin-Borkowski, R. E.
Connolly, M.; Zhang, Y.; Mahri, S.; Brown, D. M.; Ortuño, N.; Jordá-Beneyto, M.; Maciaszek, K.; Stone, V.; Fernandes, T. F.; Johnston, H. J.
Li, X.; Zhang, Z.; Yao, C.; Lu, X.; Zhao, X.; Ni, C.
Gallagher-Jones, M.; Ophus, C.; Bustillo, K. C.; Boyer, D. R.; Panova, O.; Glynn, C.; Zee, C., -T.; Ciston, J.; Mancia, K. C.; Minor, A. M.; Rodriguez, J. A.
Pierobon, L.; Kovács, A.; Schäublin, R. E.; Wyss, U.; Dunin-Borkowski, R. E.; Löffler, J. F.; Charilaou, M.
Khelfa, A.; Byun, C.; Nelayah, J.; Wang, G.; Ricolleau, C.; Alloyeau, D.
Panciera, F.; Tersoff, J.; Gamalski, A. D.; Reuter, M. C.; Zakharov, D.; Stach, E. A.; Hofmann, S.; Ross, F. M
Pool, R.
Gao, W.; Wu, J.; Yoon, A.; Lu, P.; Qi, L.; Wen, J.; Miller, D. J.; Mabon, J. C.; Wilson, W. L.; Yang, H.; Zuo, J. -M.
Harmand, J. -C.; Patriarche, G.; Glas, F.; Panciera, F.; Florea, I.; Maurice, J. -L.; Travers, L.; Ollivier, Y.
Fu, Z.; Jiang, L.; Wardini, J. L.; MacDonald, B. E.; Wen, H.; Xiong, W.; Zhang, D.; Zhou, Y.; Rupert, T. J.; Chen, W.; Lavernia, E. J.
Tan, S. F.; Bisht, G.; Anand, U.; Bosman, M.; Yong, X. E.; Mirsaidov, U.
Yasin, F. S.; Harvey, T. R.; Chess, J. J.; Pierce, J. S.; Ophus, C.; Ercius, P.; McMorran, B. J.
Zeng, L.; Gammer, C.; Ozdol, B.; Nordqvist, T.; Nygård, J.; Krogstrup, P.; Minor, A. M.; Jäger, W.; Olsson, E.
Kim, S.; Jung, H. J.; Kim, J. C.; Lee, K. -S.; Park, S. S.; Dravid, V. P.; He, K.; Jeong, H. Y.
Yu, J.; Yuan, W.; Yang, H.; Xu, Q.; Wang, Y.; Zhang, Z.
Fernandez, S.; Ostraat, M. L.; Lawrence III, J. A.; Zhang, K.
Gammer, C.; Ophus, C.; Pekin, T. C.; Eckert, J.; Minor, A. M.
Zhang, X.; Ren, Z.; Lu, Y.; Yao, J.; Gao, M.; Liu, Y.; Pan, H.
Zheng, F.; Rybakov, F. N.; Borisov, A. B.; Song, D.; Wang, S.; Li, Z. -A.; Du, H.; Kiselev, N. S.; Caron, J.; Kovács, A.; Tian, M.; Zhang, Y.; Blügel, S.; Dunin-Borkowski, R. E.
Tsukasaki, H.; Mori, S.;Shiotani, S.; Yamamura, H.
Tan, S. F.; Raj, S.; Bisht, G.; Annadata, H. V.; Nijhuis, C. A.; Král, P.; Mirsaidov, U.
Destefani, T. A.; Onaga, G. L.; de Farias, M. A.; Percebom, A. M.; Sabadini, E.
Hu, X.; Yasaei, P.; Jokisaari, J.; Öğüt, S.; Salehi-Khojin, A.; Klie, R. F.
da Silva, L. C. E.; Germiniani, L. G. L.; Plivelic, T. S.; Gonçalves, M. C.
S.E.Gilliland III, Tengco, J. M. M.; Yang, Y.; Regalbuto, J. R.; Castano, C. E.; Gupton, B. F.
Hou, Z.; Zhang, Q.; Xu, G.; Gong, C.; Ding, B.; Wang, Y.; Li, H.; Liu, E.; Xu, F.; Zhang, H.; Yao, Y.; Wu, G.; Zhang, X. - X.; Wang, W.
Pekin, T. C.; Gammer, C.; Ciston, J.; Ophus, C.; Minor, A. M.
Boyer, M.; Yang, X.; Carrión, A. J. F.; Wang, Q.; Véron, E.; Genevois, C.; Hennet, L.; Matzen, G.; Suard, E.; Thiaudière, D.; Castro, C.; Pelloquin, D.; Kong, L. B.; Kuang, X.; Allix, M.
Okada, S.; Kowashi, S.; Schweighauser, L.; Yamanouchi, K.; Harano, K.; Nakamura, E.
Chee, S. W.; Tan, S. F.; Baraissov, Z.; Bosman, M.; Mirsaidov, U.
Prozorov, T.; Almeida, T. P.; Kovacs, A.; Dunin-Borkowski, R. E.
Nayak, A. K.; Kumar, V.; Ma, T.; Werner, P.; Pippel, E.; Sahoo, R.; Damay, F.; Rößler, U. K.; Felser, C.; Parkin, S. S. P.
Han, C. W.; Choksi, T.; Milligan, C.; Majumdar, P.; Manto, M.; Cui, Y.; Sang, X.; Unocic, R. R.; Zemlyanov, D.; Wang, C.; Ribeiro, F. H.; Greeley, J.; Ortalan, V.
Han, C. W.; Choksi, T.; Milligan, C.; Majumdar, P.; Manto, M.; Cui, Y.; Sang, X.; Unocic, R. R.; Zemlyanov, D.; Wang, C,; Ribeiro, F. H.; Greeley, J.; Ortalan, V.
Rajput, N. S.; Shao-Horn, Y.; Li, X. -H.; Kim, S. -G.; Jouiad, M.
Yue, Y.; Zhang, Q.; Zhang, X.; Yang, Z.; Yin, P.; Guo, L.
Sinclair, R.; Lee, S. C.; Shi, Y.; Chueh, W. C.
Koh, A. L.; Sinclair, R.
Lee, Y. M.; Kim, Y. J.; Kim, Y. -J.; Kwon, O. -H.
Pekin, T. C.; Gammer, C.; Ciston. J.; Minor, A. M.; Ophus, C.
Geng, G.; Chen, P.; Guan, B.; Jiang, L.; Xu, Z.; Di, D.; Tu, Z.; Hao, W.; Yi, Y.; Chen, C.; Liu, M.; Hu, W.
Sato, K.; Yasuda, H.
Rao, J. C.; Diao, H. Y.; Ocelík, V.; Vainchtein, D.; Zhang, C.; Kuo, C.; Tang, Z.; Guo, W.; Poplawsky, J. D.; Zhou, Y.; Liaw, P. K.; De Hosson, J. Th. M.
Oikawa, T.; Okumura, M.; Kimura, T.; Nishiyama, Y.
Miller, D. R.; Williams, R. E.; Akbar, S. A.; Morris, P. A.; McComb, D. W.
Buha, J.; Manna, L.
Ophus, C.; Ercius, P.; Huijben, M.; Ciston, J.
Ahadi, A.; Matsushita, Y.; Sawaguchi, T.; Sun, Q. P.; Tsuchiya, K.
Gallagher, J. R.; Torian, U.; McCraw, D. M.; Harris, A. K.
Dang, Z.; Shamsi, J.; Palazon, F.; Imran, M.; Akkerman, Q. A.; Park, S.; Bertoni, G.; Prato, M.; Brescia, R.; Manna, L.
Zhang, Z.; Guo, H.; Ding, W.; Zhang, B.; Lu, Y.; Ke, X.; Liu, W.; Chen, F.; Sui, M.
Ziolkowska, D. A.; Jangam, J. S. Dilip; Rudakov, G.; Paronyan, T.; Akhtar, M.; Sumanasekera, G.; Jasinski, J. B.
Ophus, C.; Rasool, H. I.; Linck, M.; Zettl, A.; Ciston, J.
Zieschang, A. -M.; Bocarsly, J. D.; Dürrschnabel, M.; Molina-Luna, L.; Kleebe, H. -J.; Seshadri, R.; Albert, B.
Liu, C.; Wu, S.; Zheng, H.; Cao, F.; Sheng, H.; Zhao, D.; Wang, J.
Boebinger, M. G.; Xu, M.; Ma, X.; Chen, H.; Unocic, R. R.; McDowell, M. T.
Hattingh, D. G.; von Welligh, L. G.; Bernard, D.; Susmel, L.; Tovo, R.; James, M. N.
Schreiber, R. E.; Houben, L.; Wolf, S. G.; Leitus, G.; Lang, Z-, L.; Carbó, J. J.; Poblet, J. M.; Neumann, R.
Balakrishnan, V.; Bedewy, M.; Meshot, E. R.; Pattinson, S. W.; Polsen, E. S.; Laye, F.; Zakharov, D. N.; Stach, E. A.; Hart, A. J.
Gerber, O.; Pichon, B. P.; Ihiawakrim, D.; Florea, I.; Moldovan, S.; Ersen, O.; Begin, D.; Grenèche, J. -M.; Lemonnier, S.; Barraud, E.; Begin-Colin, S.
Voznyak, Yu.; Morawiec, J.; Galeski, A.
Maggiolini, E.; Tovo, R.; Susmel, L.; James, M. N.; Hattingh, D. G.
Koh, A. L.; Gidcumb, E.; Zhou, O.; Sinclair, R.
Fabbri, F.; Rotunno, E.; Cinquanta, E.; Campi, D.; Bonnini, E.; Kaplan, D.; Lazzarini, L.; Bernasconi, M.; Ferrari, C.; Longo, M.; Nicotra, G.; Molle, A.; Swaminathan, V.; Salviati, G.
Liu, H.; Liang, L.; Wang, Y.; Wei, Y.
Panova, O.; Chen, X. C.; Bustillo, K. C.; Ophus, C.; Bhatt, M. P.; Balsara, N.; Minor, A. M.
Advanced characterization of microstructural changes during recrystallization in aluminum alloy 6013
Bieda, M.; Kawalko, J.; Brisset, F.; Sztwiertnia, K.
Chulist, R.; Faryna, M.; Szczerba, M. J.
Almeida, T. P.; Muxworthy, A. R.; Kovács, A.; Williams, W.; Nagy, L.; Conbhuí, P. O.; Frandsen, C.; Supakulopas, R.; Dunin-Borkowski, R. E.
Mégret, R.; Yoo, S.; Zakharov, D.; Stach, E.
Ziolkowska, D. A.; Jasinski, J. B.; Hamankiewicz, B.; Korona, K. P.; Wu, S. -H.; Czerwinsk, A.
Gammer, C.; Kacher, J.; Czarnik, C.; Warren, O. L.; Ciston, J.; Minor, A. M.
Kameya, Y.; Hayashi, T.; Motosuke, M.
Ramel Jr., P. R. R.; Peyronel, F.; Marangoni, A. G.
Mørtsell, E. A.; Wenner, S.; Longo, P.; Andersen, S. J.; Marioara, C. D.; Holmestad, R.
Motosuke, M.
Zhang, B.; Peng, K.; Li, A.; Zhou, X.; Chen, Y.; Deng, Q.; Han, X.
Chen, Z.; Weyland, M.; Ercius, P.; Ciston, J.; Zheng, C.; Fuhrer, M. S.; D'Alfonso. A. J.; Allen, L. J.; Findlay, S. D.
Shibata, K.; Kovács, A.; Kanazawa, N.; Dunin-Borkowski, R. E.; Tokura, Y.
Restivo, J.; Garcia-Bordejé, E.; Órfão, J. J. M.; Pereira, M. F. R.
de Pablos-Martin, A.; Benndorf, G.; Tismer, S.; Mittag, M.; Cismak, A.; Lorenz, M.; Grundmann, M.; Höche, T.
Ayvacikli, A.; Canimoglu, A.; Muresan, L. E.; Tudoran, L. B.; Guinea, J. G.; Karabulut, Y.; Jorge, A.; Karali, T.; Can, N.
Marín, L.; Warot-Fonrose, B.; Estève, A.; Chabal, Y. J.; Rodriguez, L. A.; Rossi, C.
Islam, E.; Sar, P.
Chen, H. C.; Li, D. H.; Lui, R. D.; Huang, H. F.; Li, J. J.; Lei, G. H.; Huang, Q.; Bao, L. M.; Yan, L.; Zhou, X. T.; Zhu, Z. Y.
Eggeler, Y. M.; Müller, J.; Titus, M. S.; Suzuki, A.; Pollock, T. M.; Spiecker, E.
Clark, S.; Janik, V.; Rijkenberg, A.;Sridhar, S.
Eggeler, Y. M.; J. Müller, J.; Titus, M. S.; Spiecker, E.
Kogler, M.; Köck, E. -M.; Stöger-Pollach, M.; Schwarz, S.; Schachinger, T.; Klötzer, B.; Penner, S.
Holmström, E.; Haberl, B.; Pakarinen, O. H.; Nordlund, K. Djurabekov, F.; Arenal, R.; Williams, J. S.; Bradby, J. E.; Petersen, T. C.; Liu, A. C. Y.
van Embden, J.; Bourgeois, L.; Gaspera, E. D.; Waddington, L.; Yin, Y.; Medhekar, N. V.; Jasieniak, J. J.; Chesman, A. S. R.
Hashimoto, T.; Thompson, G. E.; Zhou, X.; Withers, P. J.
Myagkov, V. G.; Zhigalov, V. S.; Bykova, L. E.; Bondarenko, G. N.
Clark, B. G.; Hattar, K. M.; Marshall, M. T.; Chookajorn, T.; Boyce, B. L.; Schuh, C. A.
Fu, X.; Warot-Fonrose, B.; Arras, R.; Seine, G.; Demaille, D.; Eddrief, M.; Etgens, V.; Serin, V.
Mineart, K. P.; Al-Mohsin, H. A.; Lee, B.; Spontak, R. J.
Chen, Y. -J.; Zhang, B.; Ding, Q. -Q.; Deng, Q. -S.; Chen, Y.; Song, Z. -T.; Li, J. -X.; Zhang, Z.; Han, X. -D.
Bian, X. L.; Wang, G.; Chine, H. C.; Yan, L.; Wang, J. G.; Wang, Q.; Hu, P. F.; Ren, J. L.; Chan, K. C.; Zheng, N.; Teresiak, A.; Gao, Y. L.; Zhai, Q. J.; Eckert, J.; Beadsworth, J.; Dahmen, K. A.; Liaw, P. K.
Ophus, C.; Ciston, J.; Pierce, J.; Harvey, T. R.; Chess, J.; McMorran, B. J.; Czarnik, C.; Rose, H. H.; Ercius, P.
Saleh, A. A.; Casillas, G.; Pereloma, E. V.; Carpenter, K. R.; Killmore, C. R.; Gazder, A. A.
Hussain, S. K.; Yu, J. S.
Shen, H. H.; Zu, X. T.; Chen, B.; Huang, C. Q.; Sun, K.
Bae, I. -T.; Naganuma, H.; Ichinose, T.; Sato, K.
Wang, Y.; Baiutti, F.; Gregori, G.; Cristiani, G.; Salzberger, U.; Logvenov, G.; Maier, J.; van Aken, P. A.
Ma, Z.; Liu, J.; Wang, G.; Wang, H.; Wei, Y.; Gao, H.
Kumar, V. B.; Ezersky, V.; Gedanken, A.; Porat, Z.
Kovács, A.; Pradeep, K. G.; Herzer, G.; Raabe, D.; Dunin-Borkowski, R. E.
Wang, L. W.; Cheng, C. F.; Liao, J. W.; Wang, C. Y.; Wang, D. S.; Huang, K. F.; Lin, T. Y.; Ho, R. M.; Chen, L. J.; Lai, C. H.
Ilari, G. M.; Chawla, V.; Matam, S.; Zhang, Y.; Michler, J.; Erni, R.
van den Berg, R.; Elkjaer, C. F.; Gommes, C. J.; Chorkendorff, I.; Sehested, J.; de Jongh, P. E.; de Jong, K. P.; Helveg, S.
Song, M.; Du, K.; Wang, C.; Wen, S.; Huang, H. Nie, Z.; Ye, H.
Van den Ber, R.; Elkjaer, C. F.; Gommes, C. J.; Chorkendorff, I.; Sehested, J.; de Jongh, P. E.; de Jongh, K. P.; Helveg, S.
Cats, K. H.; Andrews, J. C.; Stéphan, O.; March, K.; Karunakaran, C.; Meirer, F.; de Groot, F. M. F.; Weckhuysen, B. M.
Mas, F.; Tassin, C.; Valle, N.; Robaut, F.; Charlot, F.; Yescas, M.; Roch, F.; Todeschini, P.; Bréchet, Y.
Parmenter, C. D. J.; Fay, M. W.; Hartfield, C.; Eltaher, H. M.
Agar, J. C.; Damodaran, A. R.; Okatan, M. B.; Kacher, J.; Gammer, C.; Vasudevan, R. K.; Pandya, S.; Dedon, L. R.; Mangalam, R. V. K.; Velarde, G. A.; Jesse, S.; Balke, N.; Minor, A. M.; Kalinin, S. V.; Martin, L. W.
Permatasari, F. A.; Aimon, A. H.; Iskandar, F.; Ogi, T.; Okuyama, K.
Carrasco, J. A.; Romero, J.; Varela, M.; Hauke, F.; Abellán, G.; Hirsch, A.; Coronado, E.
Nafria, R.; Genç, A.; Ibáñez, M.; Arbiol, J.; de la Piscina, P. R.; Homs, N.; Cabot, A.
Cianchetta, I.; Trentelman, K.; Walton, M. S.; Maish, J.; Mehta, A,; Foran, B.
Gilks, D.; Nedelkoski, Z.; Lari, L.; Kuerbanjiang, B.; Matsuzaki, K.; Susaki, T.; Kepaptsoglou, D.; Ramasse, Q.; Evans, R.; McKenna, K.; Lazarov, V. K.
Kracica, M.; Mayes, E. L. H.; Tran, H. N.; Holland, A. S.; McCulloch, D. G.; Partridge, J. G.
Chang, S. L. Y.; Dwyer, C.; Barthel, J.; Boothroyd, C. B.; Dunin-Borkowski, R. E.
Matsumoto, T.; So, Y. -G.; Kohno, Y.; Sawada, H.; Ikuhara, Y.; Shibata, N.
Sato, Y.; Bugnet, M.; Terauchi, M.; Botton, G. A.; Yoshiasa, A.
Liu, Y.; Xing, Q.; Straszheim, W. E.; Marshman, J.; Pedersen, P.; McLaughlin, R.; Lograsso, T. A.
Hauser, C.; Richter, T.; Homonnay, N.; Eisenschmidt, C.; Qaid, M.; Deniz, H.; Hesse, D.; Sawicki, M.; Ebbinghaus, S. G.; Schmidt, G.
Hofer, F.; Schmidt, F. P.; Grogger W.; Kothleitner, G.
Gaslain, F. O. M.; Le, H. T.; Duhamel, C.; Guerre, C.; Laghoutaris, P.
Chen, Y.; Zhang, B.; Ding, D. -D.; Han, X. -D.
Yu, Q.; Mao, M. -M.; Li, Q. -J.; Fu, X. -Q.; Tian, H.; Li, J. -X.; Mao, S. X.; Zhang, Z.
Koh, A. L.; Wang, S.; Ataca, C.; Grossman, J. C.; Sinclair, R.; Warner, J. H.
Bird, S. M.; Rawlings, A. E.; Galloway, J. M.; Staniland, S. S.
Chen, C.; Hu, Z.; Li, Y.; Liu, L.; Mori, H.; Wang, Z.
Pal, A.; Khajornrungruang, P.; Netzband, C.; Alety, S.; Babu, S. V.
Luo, L.; Zou, L.; Schreiber, D. K.; Olszta, M. J.; Baer, D. R.; Bruemmer, S. M.; Zhou, G.; Wang, C. -M.
Bejjani, R.; Collin, M.; Thersleff, T.; Odelros, S.
Ryu, G. H.; Lee, J.; Kim, N. Y.; Lee, Y.; Kim, Y.; Kim, M. J.; Lee, C.; Lee, Z.
Shavel, A.; Ibáñez, M.; Luo, Z.; De Roo, J.; Carreté, A.; Dimitrievska, M.; Genç, A.; Meyns, M.; Pérez-Rodríguez, A.; Kovalenko, M. V.; Arbiol, J.; Cabot, A.
Chulist, R.; Faryna, M.; Szczerba, M. J.
Power-law characteristics of damage and failure of ceramic coating systems under three-point bending
Liang, L. H.; Li, X. N.; Liu, H. Y.; Wang, Y. B.; Wei, Y. G.
Eshpari, H.; Tong, P. S.; Corredig, M.
Kong, X.; Li, H.; Albert, S.; Bengoechea-Encabo, A.; Sanchez-Garcia, M. A.; Calleja, E.; Draxl, C.; Trampert, A.
Lacroix, B.; Godinho, V.; Fernández, A.
Abdolvand, H.; Wilkinson, A. J.
Wang, L.; Mostaed, E.; Cao, X.; Huang, G.; Fabrizi, A.; Bonollo, F.; Chi, C.; Vedani, M.
Jeangros, Q.; Aebersold, A. B.; Hébert, C.; Hessler-Wyser, A.
Bharadwaja, S. S. N.; Rajashekhar, A.; S. W.; Qu, W.; Motyka, M.; Podraza, N.; Clark, T.; Randall, C. A.; Trolier-McKinstry, S.
Yoo, J. H.; Yang, J. -M.
Yang, J.; Huang, J.; Fan, D.; Chen, S.
Zhang, Z.; Mao, M.; Wang, J.; Gludovatz, B.; Zhang, Z.; Mao, S.; George, E.; Yu, Q.; Ritchie, R.
Liang, W. I.; Zhang, X.; Zan, Y.; Pan, M.; Czarnik, C.; Bustillo, K.; Xu, J.; Chu, Y. H.; Zheng, H.
Wang, L.; Gao, T.; Yu, Y.
Zhang, H.; Ren, F.; Wang, Y.; Hong, M.; Xiao, X.; Qin, W.; Jiang, C.
Ringe, E.; DeSantis, C. J.; Collins, S. M.; Duchamp, M.; Dunin-Borkowski, R. E.; Skrabalak, S. E.; Midgley, P. A.
Ringe, E.; DeSantis, C. J.; Collins, S. M.; Duchamp, M.; Dunin-Borkowski, R. E.; Skrabalak, S. E.; Midgley, P. A.
In situ study of microstructure and strength of severely predeformed pure Cu in deformation at 573 K
Blum, W.; Dvořák, J.; Král, P.; Petrenec, M.; Eisenlohr, P.; Sklenička, V.
Fern, G. R.; Harris, P. G.; Ireland, T.; Silver, J.
Li, S.; Bei, G.; Chen, X.; Zhang, L.; Zhou, Y.; Mačković, M.; Spiecker, E.; Greil, P.
Kim, S. -D.; Rhyim, Y.; Kim, J, -S.; Yoon, J.
Zhang, X.; Guo, J.; Guan, P.; Qin, G.; Pennycook, S. J.
Prabhudev, S.; Bugnet, M.; Zhu, G. -Z.; Bock, C.; Botton, G. A.
Gan, J.; Keiser, D. D.; Miller, B. D.; Robinson, A. B.; Wachs, D. M.; Meyer, M. K.
Jiangfeng, G.; Jiangfeng, G.; Hongwei, L.; Yuwen, J.; Ringer, S.
Tang, Y. L.; Zhu, Y. L.; Ma, X. L.
Majchrowski, A.; Ebothé, J.; Michel, J.; Chrunik, M.; Jaroszewicz, L. R.; Kulwas, D.
Niazi, M. R.; Li, R.; Abdelsamie, M.; Zhao, K.; Anjum, D. H.; Payne, M. M.; Anthony, J.; Smilgies, D. -M.; Amassian, A.;
Wang, X. -Y.; Wang, D. -B.; Zhang, Z. -P.; Bi, L. -J.; Zhang, J. -B.; Ding, W.; Zhang, X. -E.
Molina-Bolívar, J. A.; Galisteo-González, F.
Acosta, M.; Schmitt, L. A.; Molina-Luna, L.; Scherrer, M. C.; Brilz, M.; Webber, K. G.; Deluca, M.; Kleebe, H.; Rödel, J.; Donner, W.
Acosta, M.; Schmitt, L. A.; Molina-Luna, L.; Scherrer, M. C.; Brilz, M.; Webber, K. G.; Deluca, M.; Kleebe, H. -J.; Rödel, J.; Donner, W.
den Engelsen, D.; Harris, P. G.; Ireland, T. G.; Fern, G.; Silver, J.
Shen, H. H.; Peng, S. M.; Chen, B.; Naab, F. N.; Sun, G. A.; Zhou, W.; Xiang, X.; Sun, K.; Zu, X. T.
Gammer, C.; Ozdol, V. B.; Liebscher, C. H.; Minor, A. M.
Yoo, S. J.; Lee, J. -H.; Kim, C. -Y.; Kim, J. -G.
Muntifering, B.; Kovarik, L.; Browning, N. D.; Pond, R. C.; Knowlton, W. B.; Müllner, P.
Lu, N.; Du, K.; Lu, L.; Ye, H. Q.
Boyes, E. D.; Gai, P. L.
Kovačič, S.; Mazaj, M.; Ješelnik, M.; Pahovnik, D.; Žagar, E.; Slugovc, C.; Logar, N. Z.
Ernenwein, D.; Vartanian, A. M.; Zimmerman, S. C.
Panciera, F.; Chou, Y. -C.; Reuter, M. C.; Zakharov, D.; Stach, E. A.; Hofmann, S.; Ross, F. M.
Szkudlarek, A.; Vaz, A. R.; Zhang, Y.; Rudkowski, A.; Kapusta, C.; Erni, R.; Moshkalev, S.; Utke, I.
Longo, P.; Thomas, P. J.; Aitouchen, A.; Rice, P.; Topuria, T.; Twesten, R. D.
Zhang, H.; Geng, J.; Ott, R. T.; Besser, M. F.; Kramer, M. J.
Ozdol, V. B.; Gammer,C.; Jin, X. G.; Ercius, P.; Ophus, C.; Ciston,J.; Minor, A. M.
Winkler, N.; Peterlechner, M.; Wilde, G.
Ringe, E.; DeSantis, C. J.; Collins, S. M.; Duchamp, M.; Dunin-Borkowski, R. E.; Skrabalak, S. E.; Midgley, P. A.
Ghosh, T.; Bardhan, M.; Bhattacharya, M.; Satpati, B.
Wang, X.; Wei, X.; Zhang, J.; Li, R.; Hua, M.; Wang, W.
Hwang, S.; Kim, S. M.; Bak, S-, M.; Kim. S. Y.; Cho, B-, W.; Chung, K. Y.; Lee, J. Y.; Stach, E. A.; Chang, W.
den Engelsen, D.; Harris, P. G.; Ireland, T. G.; Fern, G.; Silver, J.
Satoh, Y.; Abe, H.; Matsukawa, Y.; Matsunaga, T.; Kano, S.; Arai, S.; Yamamoto, Y.; Tanaka, N.
Awan, S. U.; Hasanain, S. K.; Awan, M. S.; Shah, S. A.
Mostafa, A. A.; Oudadesse, H.; El-Sayed, M. M. H.
Xiang, W. -D.; Gao, H. -H.; Ma, L.; Ma, X.; Huang, Y. -Y.; Pei, L.; Liang, X. -J.
Rabin, D.; Shneck, R. Z.; Rafailov, G.; Dahan, I.; Meshi, L.; Brosh, E.
Farahi, N.; Prabhudev, S.; Botton, G. A.; Zhao, J.; Tse, J. S.; Liu, Z.; Salvador, J. R.; Kleink, H.
Liu, X.; Wang, H.; Tu, B.; Wang, W.; Fu, Z.
Gedanken, A.; Kumar, V. B.; Porat, Z. I.; Kimmel, G.
Anand, G.; Barai, K.; Madhavan, R. Chattopadhyay, P. P.
Ristig, S.; Prymak, O.; Loza, K.; Gocyla, M.; Meyer-Zaika, W.; Heggen, M.; Raabe, D.; Epple, M.
Schmidt, F.; Pohl, D.; Schultz, l.; Rellinghaus, B.
Lee, C.; Park, H.; Yoo, J.; Lee, C.; Woo, W.C.; Park, S.
Callisti, M.; Polcar, T.
Chang, S. L.; Dwyer, C.; Boothroyd, C. B.; Dunin-Borkowski, R. E.
Drev, S.; Komelj, M.; Mazaj, M.; Daneu, N.; Rečnik, A.
Chen, Y. -T.; Huang, T. -W.; Wang, C. -L.; Hsu, C. -S.
de Gabory, B.; Dong, Y.; Motta, A. T.; Marquis, E. A.
Menegazzo, F.; Signoretto, M.; Marchese, D.; Pinna, F.; Manzoli, M.
de Lima, J. F.; Harunsani, M. H.; Martin, D. J.; Kong, D.; Dunne, P. W.; Gianolio, D.; Kashtiban, R. J.; Sloan, J.; Serra, O. A.; Tang, J.; Walton, R. I.
Nanda, K. K.; Swain, S.; Satpati, B.; Besra, L.; Mishra, B.; Chaudhary, Y. S.
Kahl, S.; Peng, R. L.; Johansson, S.
Kameche, F.; Ngo, A-, T.; Salzemann, C.; Cordeiro, M.; Sutter, E.; Petit, C.
Paeng, D.; Lee, D.; Yeo, J.; Yoo, J. -H.; Allen, F. I.; Kim, E.; So, H.; Park, H. K.; Minor, A. M.; Grigoropoulos, C. P.
Nogita, K.; Tran, X. Q.; Yamamoto, T.; Tanaka, E.; McDonald, S. D.; Gourlay, C. M.; Yasuda, K.; Matsumura, S.
Lu, P.; Liu, H.; Yuan, X.; Xu, F.; Shi, X.; Zhao, K.; Qiu, W.; Zhang, W.; Chen, L.
Cui, Y.; Huang, P.; Wang, F.; Lu, T. J.; Xu, K. W.
Gandman, M.; Kauffmann, Y.; Kaplan, W. D.
Mukai, M.; Okunishi, E.; Ashino, M.; Omoto, K.; Fukuda, T.; Ikeda, A.; Somehara, K.; Kaneyama, T.; Saitoh, T.; Hirayama, T.; Ikuhara, Y.
Liu, J. F.; Yang, Z. Q.; Ye, H. Q.
Ueno, Y.; Mine, S.; Kawasaki, K.
Seita, M.; Hanson, J. P.; Gradečak, S.; Demkowicz, M. J.
Seita, M.; Hanson, J. P.; Gradečak, S.; Demkowicz, M. J.
Pantzas, K.; Patriarche, G.; Troadec, D.; Kociak, M.; Cherkashin, N.; Hÿtch, M.; Barjon, J.; Tanguy, C.; Rivera, T.; Suresh, S.; Ougazzaden, A.
Ampong, F. K.; Awudza, J. A. M.; Nkum, R. K.; Boakye, F.; Thomas, P. J.; O'Brien, P.
Liu, J.; Yang, Z.; Ye, H.
King, D.; Middleburgh, S. C.; Liu, A. C. Y.; Cortie, M. B.
Silver, J.; Yan, X.; Fern, G. R.; Wilkinson, N.
Wu, G. L.; Ubhi. H. S.; Petrenec, M.; Jensen, D. J.;
Pattinson, S. W.; Viswanath, B.; Zakharov, D. N.; Li, J.; Stach, E. A.; Hart, A. J.
Holder, K. M.; Huff, M. E.; Cosio, M. N.; Grunlan, J. C.
Antou, G.; Guyot, P.; Pradeilles, N.; Vandenhende, M.; Maître, A.
Borges, J.; Buljan, M.; Sancho-Parramon, J.; Bogdanovic-Radovic, I.; Siketic, Z.; Scherer, T.; Kübel, C.; Bernstorff, S.; Cavaleiro, A.; Vaz, F.; Rolo, A. G.
Basak, S.
Bachmaier, A.; Aboulfadl, H.; Pfaff, M.; Mücklich, F.; Motz, C.
Pawar, S.; Zhou, X.; Hashimoto, T.; Thompson, G. E.; Scamans, G.; Fan, Z.
Gali, O. A.; Riahi, A. R.; Alpas, A. T.
Rajput, N. S.; Tong, Z.; Luo, X.
Hueso, J. L.
Zhou, D.; Sigle, W.; Okunishi, E.; Wang, Y.; Kelsch, M.; Habermeier, H. -U.; van Aken, P. A.
McKeown, J. T.; Wu, Y.; Fowlkes, J. D.; Rack, P. D.; Campbell, G. H.
Azough, F.; Kepaptsoglou, D. M.; Ramasse, Q. M.; Schaffer, B.; Freer, R.
Galstyan, E.; Gharacheshmeh, H. M.; Delgado, L.; Xu, A.; Majkic, G.; Selvamanickam, V.
Zhang, H.; Lu, L.; Kawashima, K.; Okumura, M.; Haruta, M.; Toshima, N.
Mølgaard, M. P.; Hansen, T. W.; Birkedal, W. J.; Degn, J. A.
Mortensen, P. M.; Hansen, T. W.; Wagner, J. B.; Jensen, A. D.
Ono, K.; Miyamoto, M.; Hasuike, S.; Nakano, T.; Kurata, H.
Gulec, A.; Klie, R. F.
Dalui, A.; Thupakula, U.; Khan, A. H.; Ghosh, T.; Satpati, B.; Acharya, S.
Roache, F. J. M.; Radjainia, M.; Williams, D. E.; Gerrard, J. A.; Travas-Sejdic, J.; Malmstrӧm, J.
Forbes, B. D.; Houben, L.; Mayer, J.; Dunin-Borkowski, R. E.; Allen, L. J.
Eftink, B. P.; Mara, N. A.; Kingstedt, O. T.; Safarik, D. J.; Lambros, J.; Robertson, I. M.
Ringe, E.; Collins, S. M.; DeSantis, C. J.; Skrabalak, S. E.; Midgley, P. A.
Kim, Y.; Namgung, H.; Kim, Y.; Jang, G.; Lee, T. S.
Calderon-Moreno, J. M.; Vasilescu, C.; Drob, S. I.; Ivanescu, S.; Osiceanu, P.; Drob, P.; Popa, M.; Silviu Preda, S.; Vasilescu, E.
Cabello, S. D. P.; Mollá, S.; Ochoa, N. A.; Marchese, J.; Giménez, E.; Compañ, V.
Sousa, A. M. M., Gonçalves, M. P.
Li, X.; Ge, B.; Li, F.; Luo, H.; Wen, H.
Degueldre, C.; Alekseev, E.
Tizei, L. H. G.; Liu, Z.; Koshino, M.; Iizumi, Y.; Okazaki, T.; Suenaga, K.
Maher, P. G.; Auty, M. A. E.; Roos, Y. H.; Zychowski, L. M.; Fenelon, M. A.
Nakamura, T.; Hiyoshi, N.; Hayashi, H.; Ebina, T.
Haberfehlner, G.; Orthacker, A.; Albu, M.; Li, J.; Kothleitner, G.
Krivanek, O. L.; Lovejoy, T. C.; Dellby, N.; Aoki, T.; Carpenter, R. W.; Rez, P.; Soignard, E.; Zhu, J.; Batson, P. E.; Lagos, M. J.; Egerton, R. F.; Crozier, P. A.
Schmitt, L. A.; Kungl, H.; Hinterstein, M.; Riekehr, L.; Kleebe, H. -J.; Hoffmann, M. J.; Eichel, R. -A.; Fuess, H.
Müllner, T.; Zankel, A.; Svec, F.; Tallarek, U.
Gremenok, V. F.; Ivanov, V. A.; Izadneshan, H.; Lazenka, V. V.; Bakouie, A.
Wang, M. J.; Yang, H.; Zhang, Q. L.; Lin, Z. S.; Zhang, Z. S.; Yu, D.; Hu, L.
Kumar, S.; Tessarek, C.; Sarau, G.; Christiansen, S.; Singh, R.
Zhao, P.; Hao, J.
Hong, S.; Schaber, C. F.; Dening, K.; Appel, E.; Gorb, S. N.; Lee, H.
Guitton, A.; Joulain, A.; Thilly, L.; Tromas, C.
Moraes, J.; Ohno, K.; Maschmeyer, T.; Perrier, S.
Fabbri, F.; Rossi, F.; Lagonegro, P.; Negri, M.; Ponraj, J. S.; Bosi, M.; Attolini, G.; Salviati, G.
Taha-Tijerina, J.; Venkataramani, D.; Aichele, C. P.; Tiwary, C. S.; Smay, J. E.; Mathkar, A.; Chang, P.; Ajayan, P. M.
Muto, S. Sato, K.; Ishikawa, Y.; Bosman, M.; Ishii, Y.; Kawasaki, S.
Nagase, T.; Suzuki, M.; Tanaka, T.
Kumar, I.; Khare, A.
Wang, J.; Zhang, F.; Zhang, J.; Ewing, R. C.; Becker, U.; Cai, Z.
Marrow, T. J.; Mostafavi, M.; Hashimoto, T.; Thompson, G. E.
Marrow, T. J.; Mostafavi, M.; Hashimoto, T.; Thompson, G. E.
Liao, H. G.; Zherebetskyy, D.; Xin, H.; Czarnik, C.; Ercius, P.; Elmlund, H.; Pan, M.; Wang, L. W.; Zheng, H.
Marincel, D. M.; Zhang, H.; Kumar, A.; Jesse, S.; Kalinin, S. V.; Rainforth, W. M.; Reaney, I. M.; Randall, C. A.; Trolier-McKinstry, S.
Hughes, A. E.; Trinchi, A.; Chen, F. F.; Yang, Y. S.; Cole, I. S.; Sellaiyan, S.; Carr, J.; Lee, P. D.; Thompson, G. E.; Xiao, T. Q.
Kitta, M.; Akita, T.; Tanaka, S.; Kohyama, M.
Donius, A. E.; Obbard, R. W.; Burger, J. N.; Hunger, P. M.; Baker, I.; Doherty, R. D.; Wegst, U. G. K.
Zankel, A.; Wagner, J.; Poelt, P.
Chen, B.; Hashimoto, T.; Vergeer, F.; Burgess, A.; Thompson, G.; Robinson, I.
Chen, B.; Hashimoto, T.; Vergeer, F.; Burgess, A.; Thompson, G.; Robinson, I.
Zhu, X. Q.; Feng, Q.; Liu , D. Z.; Nie, A. M.; Liu, J. B.; Zhang, X. B.; Geng, L. M.
Mu, X.; Sigle, W.; Bach, A.; Fischer, D.; Jansen, M.; van Aken, P. A.
Racek, J.; Sittner, P.; Heller, L.; Pilch, J.
Akita, T.; Tabuchi, M.; Nabeshima, Y.; Tatsumi, K.; Kohyama, M.
Gludovatz, B.; Naleway, S. E.; Ritchie, R. O.; Kruzic, J. J.
Brons, J. G.; Thompson, G. B.
Hughes, A. E.; Trinchi, A.; Chen, F. F.; Yang, Y. S.; Cole, I. S.; Sellaiyan, S.; Carr, J.; Lee, P. D.; Thompson, G. E.; Xiao, T. Q.
Bocker, C.; Kouli, M.; Völksch, G.; Rüssel, C.
Oertel, T.; Hutter, F.; Helbig, U.; Sextl, G.
Wang, Y.; Guo, Z.; Ma, R.; Hao, G.; Zhang, Y.; Lin, J.; Sui, M.
Goulden, J.; Othen, N.; Gholinia, A.
Dalili, N.; Li, P.; Kupsta, M.; Liu, Q.; Ivey, D. G.
Petrenec, M.; Polák, J.; Šamořil, T.; Dluhoš, J.; Obrtlík, K.
Kahl, S.; Peng, R. L.; Calmunger, M.; Olsson, B.; Johansson, S.
Gil, S.; Cuenca, N.; Romero, A.; Valverde, J. L.; Sánchez-Silva, L.
Reduction and immobilization of hexavalent chromium by microbially reduced Fe-bearing clay materials
Bishop, M. E.; Glasser, P.; Dong, H.; Arey, B. W.; Kovarik, L.
Walters, C. C.; Kliewer, C. E.; Awwiller, D. N.; Rudnicki, M. D.;Passey, Q. R.; Lin, M. W.
Hickey, R. J.; Koski, J.; Meng, X.; Riggleman, R. A.; Zhang, P.; Park, S. J.
Gai, P. L.; Lari, L.; Ward, M. R.; Boyes, E. D.
Watanabe, S.; Kinoshita, M.; Hosokawa, T.; Morigaki, K.; Nakura, K.
Parlak, O.; Turner, A. P.; Tiwari, A.
Kociak, M,; Stéphan, O.; Gloter, A.; Zagonel, L. F.; Tizei, L. H. G.; Tencé, M.; March, K.; Blazit, J. D.; Mahfoud, Z.; Losquin, A.; Meuret, S.; Colliex, C.
Betts, C.; Balint, D.; Lin, J.
Chen, D.; Friedrich, H.; de With, G.
Feng, Z. Q.; Yang, Y. Q.; Chena, Y. X.; Huang, B.; Fu, M. S.; Li, M. H.; Ru, J. G.
Marris, H.; Deboudt, K.; Flament, P.; Grobéty, B.; Gieré, R.
Trueman, A.; Knight, S.; Colwell, J.; Hashimoto, T.; Carr, J.; Skeldon, P.; Thompson, G.
Battaile, C. C.; Boyce, B. L.; Brons, J. G.; Foiles, S. M.; Hattar, K. A.; Holm, E. A; Padilla, H. A.; Sharon, J. A.; Thompson, G. B.
Kitta, M.; Akita, T.; Tanaka, S.; Kohyama, M.
Kim, J. M.; Kim, Y.; Shim, J. H.; Lee, Y. S.; Suh, J. Y.; Ahn, J. P.; Kim, G. H.; Cho, Y. W.
Li, L.; Wang, L.; Johnson, D. D.; Zhang, Z.; Sanchez, S. I.; Kang, J. H.; Nuzzo, R. G.; Wang, Q.; Frenkel, A. I.; Li, J.; Ciston, J.; Stach, E. A.; Yang, J. C.
Hashimoto, T.; Thompson, G. E.; Curioni, M.; Zhou, X. R.; Skeldon, P.
Dwyer, L.; Robson, J.; da Fonseca, J. Q.; Kamp, N.; Hashimoto, T.; Thompson, G. E.
Häussler, D.; Houben, L.; Essig, S.; Kurttepeli, M.; Dimroth, F.; Dunin-Borkowski, R. E.
Vargas, G. E.; Haro Durand, L. A.; Cadena, V.; Romero, M.; Mesones, R. V.; Mačković, M.; Spallek, S.; Spiecker, E.; Boccaccini, A. R.; Gorustovich, A. A.
Thorel, A.; Ciston, J.; Bartel, T.; Song. C. Y.; Dahmen, U.
Kai, X.; Zhiqiang Li, Z.; Genlian Fan, G.; Guo, Q.; Tan, Z.; Zhang, W.; Su, Y.; Weijie Lu, W.; Moon, W. J.; Zhang, D.
Sánchez-Santolino, G.; Tornos, J.; Bruno, F. Y.; Cuellar, F. A.; Leon, C.; Santamaría, J.; Pennycook, S. J.; Varela, M.
Matsushima, H.; Suzuki, T.; Nokuo, T.
Klimenkov M.; Möslang A.; Materna-Morris, E.
Zychma, A.; Wansing, R.; Schott, V.; Köhler, U.; Wöll, C.; Muhler, M.; Birkner, A.
Gandman, M.; Kauffmann, Y.; Koch, C. T.; Kaplan, W. D.
Thompson, G. E.; Hashimoto, T.; Zhong, X. L.; Curioni, M.; Zhou, X.; Skeldon, P.; Withers, P. J.; Carr, J. A.; Monteith, A. G.
Bak, S.; Nam, K.; Chang, W.; Yu, x.; Hu, E.; Hwang, S.; Stach, E. A.; Kim, K.; Chung, K. Y.; Yang, X.
Clark, L.; Oró-Solé, J.; Knight, K. S.; Fuertes, A.; Attfield, J. P.
Hasegawa, Y.; Okamoto, N. L.; Inui, H.
Tang, W.; Picraux, S. T.; Huang, J. H.; Liu, X.; Tu, K. N.; Dayeh, S. A.
Wisniewski, W.; Bocker, C.; Kouli, M.; Nagel, M.; Rüssel, C.
Nishimoto, K.; Sato, T.; Tamura, R.
Okamoto, N. L.; Hasegawa, Y.; Hashimoto, W.; Inui, H.
Chen, B.; Guizar-Sicairos,M.; Xiong,G.; Shemilt, L.; Diaz, A.; Nutter, J.; Burdet,N.; Huo,S.; Mancuso, J.; Monteith,A.; Vergeer,F.; Burgess,A.; Robinson, I.
Mu, X.; Neelamraju, S.; Sigle, W.; Koch, C. T.; Totò, N.; Schön, J. C.; Bach, A.; Fischer, D.; Jansen, M.; van Aken, P. A.
Wang, M. S.; Hanson, J. P.; Gradečak, S.; Demkowicz, M. J.
Ampelli, C.; Passalacqua, R.; Genovese, C.; Perathoner, S.; Centi, G.; Montini, T.; Gomba, V.; Jaen, J. J. D.; Fornasiero, P.
Lyubutin, I. S.; Lin, J. F.; Gavriliuk, A. G.; Mironovich, A. A.; Ivanova, A. G; Roddatis, V. V.; Vasiliev, A. L.
Pennycook, S. J.
Müllner, T.; Zankel, A.; Mayrhofer, C.; Reingruber, H.; Höltzel, A.; Lv, Y.; Svec, F.; Tallarek, U.
Eggeman, A. S.; Barnard, J. S.; Midgley, P. A.
Jeangros, Q.; Hansen, T. W.; Wagner, J. B.; Damsgaard, C. D.; Dunin-Borkowski, R. E.; Hébert, C.; Van herle, J.; Hessler-Wyser, A.
Hashimoto, T.; Curioni, M.; Zhou, X.; Mancuso, J.; Skeldon, P.; Thompson, G. E.
Longo, P.; Twesten, R.
Wang, F.; Yu, H. C.; Chen, M. H.; Wu, L.; Pereira, N.; Thornton, K.; Van der Ven, A.; Zhu, Y.; Amatucci, G. G.; Graetz, J.
Collins, S. E.; Delgado, J. J.; Mira, C.; Calvino, J. J.; Bernal, S. B.; Chiavassa, D. L.; Baltanás, M. A.; Bonivardi, A. L.
Matsukawa, Y.; Liu, G. S.
Cojocaru, V. D.; Raducanu, D.; Cinca, I.; Vasilescu, E.; Drob, P.; Vasilescu, C.; Drob, S. I.
Yu, B.; Liu, W.; Chen, S.; Wang, H.; Wang, H.; Chen, G.; Ren, Z.
Liu, H.; Shi, X.; Xu, F.; Zhang, L.; Zhang, W.; Chen, L.; Li, Q.; Uher, C.; Day, T.; Snyder, G. J.
La Torre, A.; Fay, M. W.; Rance, G. A.; Gimenez-Lopez, M. d. C.; Solomonsz, W. A.; Brown, P. D.; Khlobystov, A. N.
High-resolution in situ and ex situ TEM studies on graphene formation and growth on Pt nanoparticles
Penga, Z.; Somodia, F.; Helveg, S.; Kisielowski, C.; Specht, P.; Bell, A. T.
Huang, R.; Ikuhara, Y.
Yurtsever, A.; van der Veen, R. M.; Zewail, A. H.
Cordeiro, M. A. L.; Crozier, P. A.; Leite, E. R.
Fay, M. W.; La Torre, A.; Khlobystov, A. N.; Brown, P. D.
Yoon, S. W.; Seo, J. H.; Seong, T. Y.; Yu, T. H.; You, Y. H.; Lee, K. B.; Kwon, H.; Ahn, J. P.
Majidi, H.; Winkler, C. R.; Taheri, M. L.; Baxter, J. B.
Cosandeya, F.; Suc, D.; Sinaa, M.; Pereiraa, N.; Amatuccia, G. G.
Shao, Z.
Nie, A.; Wang, H.
Motskin, M.; Müller, K. H.; Genoud, C.; Monteith, A. G.; Skepper, J. N.
Nemcsics, Á.; Heyn, Ch.; Tóth, L.; Dobos, L.; Stemmann, A.; Hansen, W.
Dieterle, L.;Butz, B.; Müller, E.
Chang, H.; Yoon, S.; Seong, T.; Yu, T.; Yuo, Y.; Ahn, J.
Tahara, M.; Kim, H. Y.; Inamura, T.; Hosoda, H.; Miyazaki, S.
Hong, X.; Luo, Z.; Batteas, J. D.
Lari, L.; Walther, T.; Gass, M.H.; Geelhaar, L.;Chèze, C.; Riechert, H.; Bullough, T. J.; Chalker, P. R.
Pérez, H.; Navarro, P.; Delgado, J. J.; Montes, M.
Ciston, J.; Si, R.; Rodriguez, J. A.; Hanson, J. C.; Martinez-Arias, A.; Fernandez-Garcia, M.; Zhu, Y.
Koku, H.; Maier, R. S.; Czymmek, K. J.; Schure, M. R.; Lenhoff, A. M.
Reingruber, H.; Zankel, A.; Mayrhofer, C.; Poelt, P.
Aronova, M. A.; Sousa, A. A.; Leapman, R. D.
Wang, L.; Strangwood, M.; Balint, D.; Lin, J.; Dean, T. A.
Janbroers, S.: Crozierc, P. A.; Zandbergen, H. W.; Kooyman, P. J.
Crozier, P. A.; Chenna, S.
Wikberg, J. M.; Knut, R.; Bhandary, S.; di Marco, I.; Ottosson, M.; Sadowski, J.; Sanyal, B.; Palmgren, P.; Tai, C. W. ; Eriksson, O.; Karis, O.; Svedlindh, P.
Schamm-Chardon, S.; Coulon, P.E.; Lamagna, L.; Wiemer, C.; Baldovino, S.; Fanciulli, M.
Low-temperature structural stability of Cd6 M (M = Ho, Er, Tm and Lu) cubic crystalline approximants
Nishimoto, K.; Sato, T.; Muraki, M.; Tamura, R.
de la Peña, F.; Berger, M. H.; Hochepied, J. F.; Dynys, F.; Stephan, O.; Walls, M.
Bach, A.; Fischer, D.; Mu, X.; Sigle, W.; van Aken, P. A.; Jansen, M.
Lee, H. S.; Lee, Y. S.; Suh, J. Y.; Kim, M.; Yu, J. S.; Cho, Y. W.
Inceesungvorn, B.; López-Castro, J.; Calvino, J. J.; Bernal, S.; Meunier, F. C.; Hardacre, C.; Griffin, K.; Delgado, J. J.
Arora, H.; Du, P.; Tan, K. W.; Hyun, J. K.; Grazul, J.; Xin, H. L.; Muller, D. A.; Thompson, M. O.; Wiesner, U.
Ganesh, K. J.; Kawasaki, M.; Zhou, J. P.; Ferreira, P. J.
Krivanek, O. L.; Dellby, N.; Murfitt, M. F.; Chisholm, M. F.; Pennycook, T. J.; Suenaga, K.; Nicolosi, V.
Schierning, G.; Theissmann, R.; Acet, M.; Hoelzel, M.; Gruendmayer, J.; Zweck, J.
van Schooneveld, M. M.; Gloter, A.; Stephan, O.; Zagonel, L. F.; Koole, R.; Meijerink, A.; Mulder W. J. M.; de Groot, F. M. F.
Irifune, T.; Shinmei, T.; McCammon, C. A.; Miyajima, N.; Rubie, D. C; Frost, D. J.
Cao, F.; Beyerlein, I. J.; Addessio, F. L.; Sencer, B. H.; Trujillo, C. P.; Cerreta, E. K.; Gray III, G. T.
Wu, C. T.; Chu, M. W.; Chen, L. C.; Chen, K. H.; Chen, C. W.; Chen, C. H.
Insights into the nature of iron-based Fischer-Tropsch catalysts from quasi in-situ TEM-EELS and XRD
Janbroers, S.; Louwen, J. N.; Zandbergen, H. W.; Kooyman, P. J.
Servanton, G.; Pantel, R.
Tanaka, K.; Miwa, T.; Sasaki, K.; Kuroda, K.
Maigne, A.; Twesten, R. D.
Jarausch, K.; Thomas, P.; Leonard, D. N.; Twesten, R.; Booth, C. R.
Zankel, A.; Kraus, B.; Poelt, P.; Schaffer, M.; Ingolic, E.
Feldhoff, A.; Arnold, M.; Martynczuk, J.; Gesing, Th. M.; Wang, H.
Porcu, M.; Petford-Long, A. K.; Sykes, J. M.
Simonsen, S. B.; Dahl, S.; Johnson, E.; Helveg, S.
Stöger-Pollach, M.
Yamada, T.; Maigne, A.; Yudasaka, M.; Mizuno, K.; Futaba, D. N.; Yumura, M.; Iijima, S.; Hata, K.
Kuykendall, T.; Ulrich, P.; Aloni, S.; Yang, P.
Arenal, R.
Dohi, H.; Horiuchi, S.
Blackford, M. G.; Hanna, J. V.; Pike, K. J.; Vance, E. R.; Perera, D. S.
Perera, D. S.; Cashion, J. D.; Blackford, M. G.; Zhang, Z.; Vance, E. R.
Tok, A. I. Y.; Boey, F. Y. C.; Zhao, X. L.
Horiuchi, S.; Dohi, H.
Jinschek, J. R.; Erni, R.; Gardner, N. F.; Kim, A. Y.; Kisielowski, C.
Yaicle, C.; Fauth, F.; Martin, C.; Retoux, R.; Jirak, Z.; Hervieu, M.; Raveau, B.; Maignan, A.
Horiuchi, S.; Yin, D.; Ougizawa, T.
Gloter, A.; Zbinden, M.; Guyot, F.; Gaill, F.; Colliex, C.
Meyers, J. S.; Chumbley, S.; Laabs, F.; Pecharsky, A. O.
Borckt, G.; Lakner, H.
Bardal, A.; Lie, K.
Longo, D. M.; Howe, J. M.; Johnson, W. C.
Longo, D. M.; Howe, J. M.; Johnson, W. C.
2015年Microscopy Today Innovation Awardを受賞。1台のカメラであらゆるTEMアプリケーションに対応し16メガピクセルの画像とビデオが取得できます。
Gatan Microscopy Suiteとしても知られるDigitalMicrographソフトウェア。デジタルカメラの制御と共に、電子線トモグラフィ、その場観察、スペクトラムイメージング、ディフラクションイメージング、その他多くのアプリケーションをサポート。
Enabling optically-coupled transmission electron microscopy to reveal nanoscale structural, optical, and electronic properties
The EELS and EFTEM systems ideal for multiuser facilities, now with the Stela hybrid-pixel option.
Enabling optically-coupled transmission electron microscopy to reveal nanoscale structural, optical, and electronic properties
An enhanced energy dispersive spectroscopy (EDS) platform with the latest silicon drift detector (SDD) technology and high-speed electronics advancements.
A world-class materials characterization solution that provides users with elemental composition and crystallographic orientation results in one easy-to-use package.
By integrating energy dispersive spectroscopy (EDS) and wavelength dispersive spectrometry (WDS) analytical techniques on a single platform, EDAX Neptune provides the power and flexibility of EDS with the resolution, precision, and detection limits of WDS.
Premier software program for collecting and analyzing energy dispersive spectroscopy (EDS) data and the compositional characterization of materials.
Enables the characterization of electron backscatter diffraction (EBSD) patterns within the user-friendly APEX software platform.
The premier microstructural visualization and analysis tool for interrogating and understanding electron backscatter diffraction (EBSD) mapping data.
Combines the intuitive workflow of the APEX software platform with the analytical power of wavelength dispersive spectrometry (WDS) to provide the ultimate resolution and trace element analysis to users of all levels.
Cipher® – The first and only system that quantitatively reveals the distribution of lithium in scanning electron microscopes