試料作製と分析を簡素化して、テクスチャ、堆積物源、圧縮度、続成史、自生鉱物と砕岩質鉱物の比率を特定します。
Read more...
電子伝導率に影響を与え、製品のエネルギー生産量を低下させる不可逆的な相変化を引き起こす構造の変化を観察、分析します。
Read more...
The Center for Integrated Nanotechnologies (CINT) offers world-leading scientific expertise and specialized capabilities to create, characterize, and integrate nanostructured materials at a range of length scales,...
Holzinger, A.; Obwegeser, S.; Andosch, A.; Karsten, U.; Oppermann, C.; Ruth, W.; van de Meene, A.; Goodman, C. D.; Lütz-Meindl, U.; West, J. A
Liting Yang, L.; Li, X.; Pei, K.; You, W.; Liu, X.; Xia, H.; Wang, Y.; Che, R.
Molnár, Z.; Kiss, G. B.; Molnár, F.; Váczi, T.; Czuppon, G.; Dunkl, I.; Zaccarini, F.; Dódony, I.
Ledesma, B.; Beltramone, A.
Giusto, P.; Cruz, D.; Heil, T.; Tarakina, N.; Patrini, M.; Antonietti, M.
Kabir, D.; Forhad, T.; Ghann, W.; Richards, B.; Rahman, M. M.; Uddin, Md. N.; Rakib, R. J.; Shariare, M. H.; Chowdhury, F. I.; Rabbani, M. M.; Bahadur, N. M.; Uddin, J.
Reddy, K. H. P.; Kim, B. -S.; Lam, S. S.; Jung, S. -C.; Song, J.; Park, Y. -K.
Ali, S. M.; Ramay, S. M.; Mahmood, A.; ur Rehman, A.; Ali, G.; Ali, S. D.; Uzzaman, T.
Li, H. -K.; de Souza, J. P.; Zhang, Z.; Martis, J.; Sendgikoski, K.; Cumings, J.; Bazant, M. Z.; Majumdar, A.
He, L.; Ji, Y.; Ren, S.; Zhao, L.; Luo, H.; Liu, C.; Hao, Y.; Zhang, L.; Zhang, L.; Ren, X.
Blades, M. L.; Alessio, B. L.; Collins, A. S.; Foden, J.; Payne, J. L.; Glorie, S.; Holden, P.; Thorpe, B.; Al-Khirbash, S.
Wang, G.; Wang, H.; Wen, J.
Adam, R. E.; Chalangar, E.; Pirhashemi, M.; Pozina, G.; Liu, X.; Palisaitis, J.; Pettersson, H.; Willander, M.; Nur, O.
KAWAKAMI, T.; HORIE, K.; HOKADA, T.; HATTORI, K.; HIRATA, T.
Jenei, I. Z.; Dassenoy, F.; Epicier, T.; Khajeh, A.; Martinic, A.; Uy, D.; Ghaednia, H.; Gangopadhyay, A.
Su, T.; Hood, Z. D.; Naguib, M.; Bai, L.; Luo, S.; Rouleau, C. M.; Ivanov, I. N.; Ji, H.; Qin, Z.; Wu, Z.
Li, X.; Zhang, Z.; Yao, C.; Lu, X.; Zhao, X.; Ni, C.
Persson, I.; Halim, J.; Lind, H.; Hansen, T. W.; Wagner, J. B.; Näslund, L. -A.; Darakchieva, V.; Palisaitis, J.; Rosen J.; Persson, P. O. A.
Persson, I.; Halim, J.; Lind, H.; Hansen, T. W.; Wagner, J. B.; Näslund, L. -A.; Darakchieva, V.; Palisaitis, J.; Rosen J.; Persson, P. O. A.
Jung, H. J.; Kim, D.; Kim, S.; Park, J.; Dravid, V. P.; Shin, B.
Zhang, Z.; Guo, H.; Ding, W.; Zhang, B.; Lu, Y.; Ke, X.; Liu, W.; Chen, F.; Sui, M.
Roest, R.; Lomas, H.; Hockings, K.; Mahoney, M. R.
McDowell, C.; Abdelsamie, M.; Zhao, K.; Smilgies, D. -M.; Bazan, G. C.; Amassian, A.
Kumar , N.; Auffan, M.; Gattacceca, J.; Rose, J.; Olivi, L.; Borschneck, D.; Kvapil, P.; Jublot, M.; Kaifas, D.; Malleret, L.; Doumenq, P.; Bottero, J. Y.
Marrero-López, D.; Canales-Vázquez, J.; Ruiz-Morales, J. C.; Núñez, P.
Singh, R.; Dong, H.; Liu, D.; Zhao, L.; Marts, A. R.; Farquhar, E.; Tierney, D. L.; Almquist, C. B.; Briggs, B. R.
Usuki, T.; Lan, C. Y.; Tran, T. H.; Pham, T. D.; Wang, K. L.; Shellnutt, G. J.; Chung, S. L.
Hong, S.; Schaber, C. F.; Dening, K.; Appel, E.; Gorb, S. N.; Lee, H.
Zolensky, M. E.; Zega, T. J.; Yano, H.; Wirick, S.; Westphal, A. J.; Weisberg, M. K.; Weber, I.; Warren, J. L.; Velbel, M. A.; Tsuchiyama, A.; Tsou, P.; Toppani, A.; Tomioka, N.; Tomeoka, K.; Teslich, K.; Taheri, M.; Susini, J.; Stroud, R.; Stephan, T.; Stadermann, F. J.; Snead, C. J.; Simon, S. B.; Simionovici, A.; See, T. H.; Robert, F.; Rietmeijer, F. J. M.; Rao, W.; Perronnet, M. C.; Papanastassiou, D. A.; Okudaira, K.; Ohsumi, K.; Ohnishi, I.; Nakamura-Messenger, K.; Nakamura, T.; Mostefaoui, S.; Mikouchi, T.; Meibom, A.; Matrajt, G.; Marcus, M. A.; Leroux, H.; Lemelle, L.; Le, L.; Lanzirotti, A.; Langenhorst, F.; Krot, A. N.; Keller, L. P.; Kearsley, A. T.; Joswiak, D.; Jacob, D.; Ishii, H.; Harvey, R.; Hagiya, K.; Grossman, L.; Grossman, J. N.; Graham, G. A.; Gounelle, M.; Gillet, P.; Genge, M. J.; Flynn, G.; Ferroir, T.; Fallon, S.; Ebel, D. S.; Dai, Z. D.; Cordier, P.; Clark, B.; Chi, M.; Butterworth, A. L.; Brownlee, D. E.; Bridges, J. C.; Brennan, S.; Brearley, A.; Bradley, J. P.; Bleuet, P.; Bland, P. A.; Bastien, R.
Donius, A. E.; Obbard, R. W.; Burger, J. N.; Hunger, P. M.; Baker, I.; Doherty, R. D.; Wegst, U. G. K.
Mussi, A.; Cordier, P.; Demouchy, S.; Vanmansart, C.
Ng, A.; Poplawsky, J. D.; Li, C.; Pennycook, S. J.; Rosenthal, S. J.
Walters, C. C.; Kliewer, C. E.; Awwiller, D. N.; Rudnicki, M. D.;Passey, Q. R.; Lin, M. W.
Reduction and immobilization of hexavalent chromium by microbially reduced Fe-bearing clay materials
Bishop, M. E.; Glasser, P.; Dong, H.; Arey, B. W.; Kovarik, L.
Carretero-Genevrier, A.; Oro-Sole, J.; Gazquez, J.; Magén, C.; Miranda, L.; Puig, T.; Obradors, X.; Ferain, E.; Sanchez, C.; Rodriguez-Carvajal, J.; Mestres, N.
Wang, X.; Baker, I.
Marris, H.; Deboudt, K.; Flament, P.; Grobéty, B.; Gieré, R.
Kim, J. M.; Kim, Y.; Shim, J. H.; Lee, Y. S.; Suh, J. Y.; Ahn, J. P.; Kim, G. H.; Cho, Y. W.
Golding, N.; Burks, C. E.; Lucas, K. N.; Fortt, A. L.; Snyder, S. A.; Schulson, E. M.
Clark, L.; Oró-Solé, J.; Knight, K. S.; Fuertes, A.; Attfield, J. P.
Lyubutin, I. S.; Lin, J. F.; Gavriliuk, A. G.; Mironovich, A. A.; Ivanova, A. G; Roddatis, V. V.; Vasiliev, A. L.
Ampelli, C.; Passalacqua, R.; Genovese, C.; Perathoner, S.; Centi, G.; Montini, T.; Gomba, V.; Jaen, J. J. D.; Fornasiero, P.
Tang, W.; Picraux, S. T.; Huang, J. H.; Liu, X.; Tu, K. N.; Dayeh, S. A.
Collins, S. E.; Delgado, J. J.; Mira, C.; Calvino, J. J.; Bernal, S. B.; Chiavassa, D. L.; Baltanás, M. A.; Bonivardi, A. L.
Cosandeya, F.; Suc, D.; Sinaa, M.; Pereiraa, N.; Amatuccia, G. G.
Shao, Z.
Chang, H.; Yoon, S.; Seong, T.; Yu, T.; Yuo, Y.; Ahn, J.
Tan, H.; Turner, S.; Yücelen, E.; Verbeeck, J.; Van Tendeloo, G.
Hong, X.; Luo, Z.; Batteas, J. D.
Pérez, H.; Navarro, P.; Delgado, J. J.; Montes, M.
Montagnat, M.; Blackford, J. R.; Sandra Piazolo, S.; Arnaud, L.; Lebensohn, R. A.
Janbroers, S.: Crozierc, P. A.; Zandbergen, H. W.; Kooyman, P. J.
Crozier, P. A.; Chenna, S.
Carretero-Genevrier, A.; Gázquez, J.; Idrobo, J. C.; Oró, J.; Arbiol, J.; Varela, M.; Ferain, E.; Rodríguez-Carvajal, J.; Puig, T.; Mestres, N.; Obradors, X.
de la Peña, F.; Berger, M. H.; Hochepied, J. F.; Dynys, F.; Stephan, O.; Walls, M.
Lee, H. S.; Lee, Y. S.; Suh, J. Y.; Kim, M.; Yu, J. S.; Cho, Y. W.
Inceesungvorn, B.; López-Castro, J.; Calvino, J. J.; Bernal, S.; Meunier, F. C.; Hardacre, C.; Griffin, K.; Delgado, J. J.
Holmberg, V. C.; Collier, K. A.; Korgel, B. A.
Krivanek, O. L.; Dellby, N.; Murfitt, M. F.; Chisholm, M. F.; Pennycook, T. J.; Suenaga, K.; Nicolosi, V.
Schierning, G.; Theissmann, R.; Acet, M.; Hoelzel, M.; Gruendmayer, J.; Zweck, J.
Irifune, T.; Shinmei, T.; McCammon, C. A.; Miyajima, N.; Rubie, D. C; Frost, D. J.
Cao, F.; Beyerlein, I. J.; Addessio, F. L.; Sencer, B. H.; Trujillo, C. P.; Cerreta, E. K.; Gray III, G. T.
Haensel, T.; Comouth, A.; Zydziak, N.; Bosch, E.; Kauffmann, A.; Pfitzer, J.; Krischok, S.; Schaefer, J. A.; Ahmed, S. I. U.
Yang, M.; Oró-Solé, J.; Kusmartseva, A.; Fuertes, A.; Attfield, J. P.
Tanaka, K.; Miwa, T.; Sasaki, K.; Kuroda, K.
Bernier, N.; Brosset, C.; Bocquet, F.; Tsitrone, E.; Saikaly, W.; Khodja, H.; Alimov, V. Kh.; Gunn, J. P.
Alexander, D. T. L.; Crozier, P. A.; Anderson, J. R.
Feldhoff, A.; Arnold, M.; Martynczuk, J.; Gesing, Th. M.; Wang, H.
Porcu, M.; Petford-Long, A. K.; Sykes, J. M.
Kuykendall, T.; Ulrich, P.; Aloni, S.; Yang, P.
Perera, D. S.; Cashion, J. D.; Blackford, M. G.; Zhang, Z.; Vance, E. R.
Tok, A. I. Y.; Boey, F. Y. C.; Zhao, X. L.
Gloter, A.; Zbinden, M.; Guyot, F.; Gaill, F.; Colliex, C.
Longo, D. M.; Howe, J. M.; Johnson, W. C.
2015年Microscopy Today Innovation Awardを受賞。1台のカメラであらゆるTEMアプリケーションに対応し16メガピクセルの画像とビデオが取得できます。
Gatan Microscopy Suiteとしても知られるDigitalMicrographソフトウェア。デジタルカメラの制御と共に、電子線トモグラフィ、その場観察、スペクトラムイメージング、ディフラクションイメージング、その他多くのアプリケーションをサポート。
Enabling optically-coupled transmission electron microscopy to reveal nanoscale structural, optical, and electronic properties
The EELS and EFTEM systems ideal for multiuser facilities, now with the Stela hybrid-pixel option.