EDAX EDS Powered by Gatan

走査透過型電子顕微鏡(STEM)のアプリケーションで最も直感的で操作が簡単な分析ツール

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メリット: 

EDAX EDS Powered by Gatanによって、データ取得と信号処理系がセットアップと解析を行うソフトウェアに完全に統合されます。Elite Tは検出効率の最大化と軽元素検出能力の最適化を達成し、一方DigitalMicrograph®は様々な像観察や分析手法に対するTEM/STEMの実験のコントロールと解析においてスタンダードとなっています。この強力な組み合わせによって、測定困難な条件においても最高の結果を得ることが出来ます。

Elite T

  • コンパクトなセンサージオメトリによって、試料までの距離を最小化し立体角を最大化。電子線照射に敏感な試料のデータ取得時間を短縮するカウントレートを増加
  • 最適なデコンボリューションに必要なあらゆるカウントレートにおける優れた分解能と少ないピークシフト。高速マッピングを実現しデータ取得時間を短縮する最大カウントレート
  • ウインドウレスデザインを採用し、Al L線までの低エネルギー領域における優れた感度を実現

DigitalMicrograph

  • あらゆるTEM/STEMアプリケーションに対して、強力な多次元のデータ解析機能と可視化を実現するプラットフォームであるDigitalMicrographへの統合
  • 測定手法のカスタマイズを実現するDigitalMicrographスクリプトとPythonプログラム機能をネイティブでサポート
  • 高い自由度でデータ取得設定を構成し、細やかに制御可能な操作パネル。面分析、線分析、多点分析、時系列分析の全てのデータ取得ワークフローにおいて簡単な操作を実現
  • マルチモーダル機能によってあらゆるSTEMベースのデータ(エネルギー分散型X線分析(EDS)、エネルギー損失分光法(EELS)、4D STEM、カソードルミネッセンス(CL)、STEM像観察)を単一のプラットフォームに集約
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