EDAX EDS Powered by Gatan

走査透過型電子顕微鏡(STEM)のアプリケーションで最も直感的で操作が簡単な分析ツール

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メリット: 

EDAXのエネルギー分散型X線分析(EDS)装置がGatanの DigitalMicrograph® ソフトウェアによってさらに強化されます。このコンビネーションによって、(走査)透過型電子顕微鏡(S)TEMのアプリケーションで最も直感的で操作が簡単なEDSツールが実現しました。すなわち、データ取得と信号処理系がセットアップと解析を行うソフトウェアに完全に統合されています。Elite Tは検出効率の最大化と軽元素の検出性能の最適化を実現した検出器であり、一方、DigitalMicrographは様々な像観察や分析手法に対するTEM/STEMの実験条件の設定と解析においてスタンダードとなっているソフトウェアです。この強力な組み合わせによって、測定困難な条件においても最高の結果を得ることが出来ます。

Elite T Super – 優れた取得速度と検出効率を実現

  • コンパクトなセンサー形状によって試料により近付けて挿入することが可能となり、立体化の最大化と計数率の向上が達成され最高のデータ収集が実現されます
  • 最適化されたSDDセンサーとエレクトロニクスを組み合わせることで、最適なピーク分離を実現する優れたエネルギー分解能とピークシフトの最小化をあらゆる計数率で達成します
  • ウインドウレス構造を採用することで、Al Lまでの優れた低エネルギー感度を実現し、同時に検出面全面を利用可能とします

DigitalMicrographへの完全な統合 – ひとつのインターフェイスを通じて数多くの像観察と分析手法に対応

  • 予め最適化されたひとつのインターフェイスを用いることで複雑な実験のセットアップが容易となり、結果を得るまでの時間を最短化します。さらにDigitalMicrographとPythonのスクリプト機能によってデータ取得と処理のカスタマイズが実現されます
  • STEMPack™ スペクトラムイメージングが、マルチパス分析、ドリフト補正、ライブマッピング機能など、正確なビーム制御と実験のモニタリング、実験の最適化を実現します
  • STEMで得られる信号 (EDS、エネルギー損失分光法、4D STEM, カソードルミネッセンス) を構成に応じて同期することで同時取得し、広く使用されているdmフォーマットで保存された多次元のデータセットに試料からのあらゆる情報を確認するためシームレスにリンクすることが可能です
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