STEMxシステム

メリット:

STEMx^® は、Gatanのin-situ カメラとのハードウェア同期を通じてデータを取得する4D STEM回折システムです。STEMxは、K3^® IS. K2^® IS, Stela™, OneView^® ISとRio™ ISカメラの高い空間分解能と時間分解能を活用することで、ひずみマッピング、指数付け、方位マッピング、仮想絞り、微分位相コントラスト(DPC)など、さまざまな4D STEM実験を行えるようにします。

お手持ちのGatan in-situ カメラを活用して、4D STEMの新しいアプリケーションに対応
高い回折空間の分解能で、広い試料面積をスキャン
高度なアプリケーションに合わせてワークフローを最適化
予備試験結果を10分以内に確認

データポイントごとに回折パターンが生成されると、統合されたインタラクティブなGatan Microscopy Suite^® (GMS) 3のインターフェイスを通じて、4D STEM回折キューブから得られるすべての情報を確認して操作することができます。これには、ある範囲から抽出される回折パターンや、各ピクセル位置での個別の回折パターンも含まれます。STEMxはこれらの大きいデータセットを数分以内で処理できるようになっており、4次元でのビニング、実空間での画素数縮小、または小さいROIで視野の選択を行うことでデータサイズ低減が可能です。取得と分析機能をGMS 3に統合することで、結果を顕微鏡ですぐに分析して評価できるだけでなく、取得パラメータを変更するのかそれとも新しいデータセットをキャプチャするのかをすぐに決定することができます。

メディアライブラリ:

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パブリケーション

Reassessing chain tilt in the lamellar crystals of polyethylene

2023

Kanomi, S.; Marubayashi, H.; Miyata, T.; Jinnai, H.

Nanoscale mapping of point defects with 4D-STEM

Research Square

2022

Minor, A.; Mills, S.; Zeltmann, S.; Ercius, P.; Kohnert, A.; Uberuaga, B.

High-density switchable skyrmion-like polar nanodomains integrated on silicon

Nature

2022

Han, L.; Addiego, C.; Prokhorenko, S.; Wang, M.; Fu, H.; Nahas, Y.; Yan, X.; Cai, S.; Wei, T.; Fang, Y.; Liu, H.; Ji, D.; Guo, W.; Gu, Z.; Yang, Y.; Wang, P.; Bellaiche, L.; Chen, Y.; Wu, D.; Nie, Y.; Pan, X.