Video Tutorial

In-Situ Data Processing with GMS 3.4: In-Situ Data Management, Part 1 – Spatial Reduction

In this video, we demonstrate reducing the in-situ dataset size via cropping and binning in the spatial dimensions.

In-Situ Data Processing with GMS 3.4: In-Situ Video Playback

In this video, we demonstrate the data playback features available with IS Player within GMS.

In-Situ Data Processing with GMS 3.4: In-Situ Data Introduction

In the first video of this tutorial series on processing in-situ data in Gatan Microscopy Suite (GMS) 3.4 software, we demonstrate opening an in-situ dataset with IS Player and present the file structure of an in-situ dataset.

Strain mapping

4D STEMナノビーム電子線回折図形のデータセットから、DigitalMicrographで試料中のひずみの計算をどのように行うかご紹介します。

DIFPack ツールの利用

2Dの回折図形と4D STEMデータキューブに対してDIFPackツールをどのように利用するか説明します。

電子回折図形のアライメント

データ取得後の4D STEMデータキューブからDe-scan後のアーティファクトを除去する方法を説明します。

Volume tools

Here we show how you can use the volume tools in DigitalMicrograph to process STEMx 4D STEM datasets.

K3 ISカメラを用いた低電子線照射、高速その場TEM観察

広いアプリケーション分野に対応するK3 IS直接検出型カメラを使用することで、高い操作性と共に低電子線照射条件と高速像観察との間で制約のない条件選択が可能な材料反応のその場キャラクタリゼーションを実現します。K3 ISカメラの広い視野によって、環境TEM中での昇温中の変化、バッテリー正極のリチウム挿入反応、その場実験後のナノワイヤの4D STEMによるひずみ測定といったナノ粒子の変形やダイナミクスの観察が実現されます。加えて、低電子線照射像観察は、バッテリー電極や電解質、金属有機複合体といった電子線照射に敏感な材料のクライオ像観察と組み合わされてきました。電子線照射に敏感な材料のその場観察において、ルックバック機能により重要な現象を逃すのを防ぐ一方で、試料中で引き起こされる現象の実際のデータ取得前にリアルタイムでのフレーム平均化された像観察が可能なこの最先端のカメラにはアドバンテージがあります。

本ウェビナーでは様々な材料の反応に対するその場観察や低電子線照射観察におけるK3 ISカメラの機能にハイライト当て、広いアプリケーションへの対応力や操作性について解説します。我々の研究はその場観察に注力しており、高速電子と電子線照射に敏感な材料の研究についてより詳しくご紹介します。

講演者

仮想明視野-暗視野像観察

STEMx 4D STEMシステムを使用した、回折図形上の信号強度変化をどのようにマッピングするかご紹介します。

仮想制限視野電子線回折(SAED)

STEMx、4D STEMシステムを使用した仮想制限視野電子線回折(SAED)の取得手順について説明します。