Webinar

Gatan社製の最新の電子カウンティングカメラであるMetroは、低電子線照射量条件と低、中加速電圧 (60～200 kV) において優れた結果を得ることが出来ます。本ウェビナーでは、ゼオライトやMOFの観察結果と共に二次元材料から得られた回折図形と4D STEMデータをご紹介します。また、2k × 2kピクセルの解像度において最高41フレーム毎秒で動画データの取得が可能なカメラのその場観察のための性能を示します。さらに、多くの材料に対してダメージを与えることなく観察することが可能な低電子線照射量において、Metroカメラで取得した2k×2kピクセルの電子カウンティング処理を行った像は、シンチレータを備えたOneViewカメラで取得した4k×4kピクセルの画像よりも優れた結果が得られることを示します。最後に、DigitalMicrographソフトウェアが提供する性能と柔軟性を犠牲にすることなく、使いやすさを追求したカメラのユーザーインターフェイスをご紹介します。

講演者
Ben K. Miller, Ph.D.
Applications Specialist – In-Situ, Gatan

Developing methods for electron-transparent specimens without inducing artifacts has become significantly important for the high-resolution characterization of battery materials. During this webinar, we introduced our recent approach (cryogenic-lift-out) to generate lamellae with cryogenic ion microscopy and talked about the effects of xenon ion beam on lithium metal batteries through the usage of cryogenic (S)TEM. We also showed the capability of the Metro direct detection counting camera to pull out the diffraction information that helps to identify the ion beam effect.

Learn how large-format, high-speed cameras can transform a transmission electron microscope (TEM) into a high-throughput, data-generating machine.

This recording is from a workshop featuring advanced capabilities and techniques in the realm of imaging and diffraction hosted by Gatan and the Analytical Instrumentation Facility (AIF) at NC State University.

See how high-speed diffraction experiments like 4D STEM are changing the landscape of electron microscopy by introducing new capabilities like differential phase contrast (DPC) imaging, electric field mapping, and much more.

This recording is from a workshop featuring advanced capabilities and techniques in the realm of imaging and diffraction hosted by Gatan and the Analytical Instrumentation Facility (AIF) at NC State University.