実用材における問題を解決するための、高速取得、低加速電圧電子線回折の利用

本ウェビナーでは、材料特性に影響を与える僅かな構造変化とダメージ機構の研究のため、DECTRIS社の高速ハイブリットピクセル技術に基づいた高ダイナミックレンジのGatan Stelaカメラを用いた低加速電圧での高速電子線回折実験のいくつかの成果をご紹介します。

CryoARM / K3の組み合わせによる高分解能観察 : SerialEMとLatitude、そしてデータ取得の将来

様々な大きさと対称性を有する粒子の超高分解能構造解析におけるCryoARMとK3カメラの組み合わせで実現された最新の成果をご紹介します。導入による技術的な性能向上に続き、このハードウェアの組み合わせによって重要な生物学的知見が得られるようになりました。本プレゼンテーションでは、NIHの電子顕微鏡を用いた研究者であるAlan Merk氏が、SerialEMと共にCryoARM/K3カメラでこれまでに得られたいくつかの構造を紹介します。さらにLatitude Sを使った現在進行中の研究について報告し、将来の方向性を考察します。

本ウェビナーの内容は、Leidos Biomedical ResearchまたはFrederick National Laboratory for Cancer ResearchがGatan社の製品やサービスを紹介するものではありません。

GMS3.4におけるIn-Situデータの取り扱い:ドリフト補正(ROIの利用)

本ビデオでは、取得済みISデータセットの視野内に配置したROIを用いてドリフト補正を行うもうひとつの手順についてご紹介します。

GMS3.4におけるIn-Situデータの取り扱い:ドリフト補正(全視野)

本ビデオでは、取得済みISデータセットの全視野を用いてドリフト補正を行う手順についてご紹介します。

CLとEDSの組み合わせによる試料分析能力の向上

本ウェビナーでは、南極大陸で採取されたコンドライト隕石である、太陽系において初期に生成された固体を含むMiller Range 090010の分析において、EDSとCLのスペクトルデータの同時取得が如何に有効であるかを紹介します。

EDAX EDS Powered by Gatan、EDAXとGatanのコラボレーションによる最新のTEM/STEMアプリケーションのご紹介

EDAX と Gatan のコラボレーションによる最新の製品、EDAX EDS Powered by Gatan をご紹介します。EDAX Elite Tシリコンドリフト検出器とGatan GMS(DigitalMicrograph)ソフトウェアの組み合わせによる、最新のTEM/STEMアプリケーションとなります。

走査透過型電子顕微鏡(STEM)のアプリケーションにおいて、最も直感的で操作が簡単なエネルギー分散型X線分析(EDS)を提供するためにGatanとEDAXが力を合わせました。GMS(DigitalMicrograph)ソフトウェアは様々な像観察や分析手法に対するTEM/STEMの実験のコントロールと解析においてスタンダードとなっていますが、この新しいシステムでは、GMS(DigitalMicrograph)ソフトウェアに、EDAX EDSのデータ取得と信号処理系を統合致しました。

EDAXのElite Tシリコンドリフト型検出器は、検出効率を最大化し軽元素の検出性能を最適化しています。これにより、高感度のEDS Elite Tの信号にGMS(DigitalMicrograph)ソフトウェアの高度な像観察や分析手法を適用する事が可能となります。

Characterization of nanophotonic devices far below the diffraction limit workshop

This workshop demonstrates how the Monarc® Pro CL detector can deliver the most comprehensive understanding of nanophotonic devices with a live demonstration showing the characterization of plasmonic and photonic crystal samples.

半導体デバイスのキャラクタリゼーションのためのエネルギー損失分光法

EAG Laboratoriesでは, 産業界、国立研究所、政府機関の研究者のために様々な種類のナノ材料の解析を行っています。シリコンデバイスの場合、深刻な材料の問題のほぼ全てが界面で発生しています。STEM-EELSによるハイパースペクトラムマッピングは、材料の構造や化学的な状態を原子レベルで研究する際に非常に強力な手法です。産業界では、この手法を材料のキャラクタリゼーションや故障解析に広く利用しています。最新の高性能のTEMと組み合わせることで、ナノアンペアのビーム電流とサブオングストロームのSTEMビームを得ることが実現されましたが、同時に半導体や誘電材料に対して容易にダメージを与えてしまいます。それ故、短いピクセルタイムと高速読み出しを実現する高速EELS分光器が求められています。最新のGIF Continuumの登場によって、ナノデバイスの解析における空間分解能は大幅に向上しました。本講演では、最新の解析例として3D-NANDデバイスのSTEM-EELS解析についてご紹介します。

4D STEM Diffraction用Stela ハイブリッド-ピクセル電子線検出器

本ワークショップは、プレゼンテーション、実機を用いたライブデモンストレーション(4D STEMデータの取得と処理)、そして質疑応答から構成されています。電子顕微鏡を用いたセッションでは、Stelaハイブリット-ピクセル型電子線検出器とSTEMx® 4D STEMシステムを備えた装置でデモンストレーションを行いました。

構造生物学を用いたパンデミックへの備え

現在猛威を振るっているSARS-CoV-2パンデミックを抑えるには、安全で効果的かつスケーラブルなワクチンと治療法が求められています。

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