优点:
Continuum® 系列产品是Gatan的全新一代电子能量损失谱（EELS）和能量过滤透射电子显微术（EFTEM）系统。Continuum系列产品在不牺牲系统强大功能与灵活性的同时，简化了能量损失系统的操作流程，将生产率与数据通量提升到新的高度。基于专有的全新的探测器系统而设计制造，Continuum为EELS和EFTEM应用提供了出色的探测速度与数据质量。
>10x 更高生产率
- >8000 谱每秒下 >95% 占空比
- >10x 更快系统调校
- 简洁的、基于工作流程的用户界面
革命性的数据质量
- 低噪声、高动态范围 CMOS 探测器
- 得益于全新 XCR™ 传感器堆叠技术，更好的 MTF 与 DQE 表现
- 各种采集模式下的全增益校正
- 特有的动态聚焦控制
- 可选配 K3® 电子计数直接探测器，获取更高质量的EELS与EFTEM数据
新兴应用领域
- 能量过滤 4D STEM*
- 原位 EELS 与 EFTEM*
- 动量分辨 EELS*
型号 1065, 1066, 1069, 1069HR, 1077
产品单页
应用
海报
对 Pd-Au 的催化剂的快速 STEM EELS 谱图成像分析
使用 EELS 进行生物材料的定量研究
以 DualEELS 模式进行高原子序数金属合金的高速成分分析
使用 DualEELS 模式中高能量损失的快速原子级 EELS 面分布分析
跨 III-V MOSFET 高介电系数栅极中的界面处的原子级 EELS 分析
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