PIPS II 系统

精密离子减薄仪用于高质量透射电镜样品的制备,它可精确定位减薄位置并对工艺参数进行精确控制

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优点: 
  • 使用 X、Y 样品台来把减薄区域精确定位到离子束交叉点
  • 改进低电压性能的离子枪,有用电压低至 100 伏,从而快速安全地对 FIB 制备的TEM样品进行抛光
  • 利用 DigitalMicrograph® 软件和光学数码显微镜进行图像存储和分析
  • 10 英寸彩色触摸屏可用于显示和控制所有 PIPS™ II 参数

出版物

Scientific Reports
2022

Persson, A. R.; Papamichail, A.; Darakchieva, V.

Science Direct
2022

Sun, J.; Ding, D.; Liu, W.; Wu, W.; Liu, H.; Wei, G.; Liu, H.

Virtual and Physical Prototyping
2022

Xi, R.; Jiang, H.; Li, G.; Zhang, Z.; Zhao, G.; Vanmeensel, K.; Kustov, S.; Humbeeck. J. V.; Wang. X.

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