Webinar

在本次网络研讨会Eric A. Stach博士将描述材料科学领域的直接电子探测器的影响。特别是，能够直接采用电子显微镜高速成像观测纳米级材料的反应过程，能极大增加我们对材料的生长的科学知识，由此深刻影响我们在催化剂研究和材料的发现和设计方面的成果。研讨会还将包含大数据处理这些具体的实验问题。
主持人
Eric A. Stach
电子显微镜协会会长长
布鲁克海文国家实验室

关于K2相机的更多信息，请访问www.gatan.com/k2IS。

学习电子能量损失谱（EELS）和能谱（EDS）信号的性能互补特性，从而了解为何在做透射电镜材料成分分析的时候，总是非常推荐同时采集这两者的信号进行融合分析。在电子类仪器和探测器显著的技术进展下，现在使我们可以获取EELS-EDS的联合谱图数据，从而既可大尺度下分析材料的成分分布，又可在原子尺度进行材料的成分分析。在本教程中，我们将展示在不同的实验条件下获取的数据，从而展示EELS和EDS技术的互补性，以及各自擅长的应用领域。特别是，本教程将主要集中讨论一些最新一代的3D NAND存储器和目前在市场上销售的FinFET器件的化学组成及成分分析。