メリット:
これまでに無い像観察、電子線回折、その場観察を実現する最先端の電子カウンティングカメラがMetro®です。より低い加速電圧範囲(60～200 kV)で使用される透過型電子顕微鏡(TEM)において電子カウンティング機能を利用可能とすることで、非常に電子線照射に敏感な試料の観察や低電子線照射条件での研究が可能となりました。これは単に観察結果のクオリティを高めるにとどまらず、二次元材料や電池、触媒、ナノチューブ、ポリマー、有機/生物材料といった研究の限界を押し広げます。
- ご使用中の200 kV以下のTEMで、より低い照射電子線密度での観察と微弱な信号の検出を実現
- 最も電子線照射に敏感な試料の像観察が可能
- 厳しい電子線照射条件においても、微細な像の情報を記録
- バックグラウンド信号がほぼ存在しない高いクオリティの電子線回折図形が観察可能
- 2kピクセルのその場観察動画を≤41 fps、512 x 512ピクセルは≤492 fpsで記録可能
- OneView®カメラで慣れ親しまれた簡単で強力なDigitalMicrograph® のインターフェイス使用したデータ取得
- ワンクリックで選択可能な各フレームの自動アライメントによるドリフト補正機能
アプリケーション
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モデル 1130
データシート
関連資料
ナイキスト周波数
線量分割および視野移動補正
カウンティングと超解像を用いたDQEの向上
関連製品
STEMx® 4D STEM システム
K3® IS 直接検出型カメラ
試料冷却ホルダー
試料加熱ホルダー
真空トランスファー試料ホルダー
Acknowledgment
Continuing our prosperous collaborations that built the K2® and K3, Metro is the successful result of Peter Denes' team at Lawrence Berkeley National Laboratory and David Agard.