Streamline your metal and alloy workflow from preparation to examination of grain size, orientation, or structural components to capture flaws and imperfections early so you can develop solutions to improve production efficiency.
Read more...
Clearly and precisely prepare, visualize, and analyze samples to generate sub-nanometer resolution EELS and EDS maps to elucidate composition, microstructure, and atomic structure of materials and defects.
Read more...
Be at the forefront of material research with highly-sensitive chemical analysis tools that deliver true chemical state data from a range of elements or characterize mineral properties not observed by conventional optics.
Read more...
The team at Electron Microscopy Group in Nano-Materials Research Institute of AIST aims to realize the characterization of nano-materials at a single atomic level...
The Ringe Group was established in 2014 in the department of Materials Science and NanoEngineering (MSNE) at Rice University, Houston, TX, USA. Emilie Ringe and her group...
Senga, R.; Suenaga, K.; Barone, P.; Morishita, S.; Mauri, F.; Pichler, T.
Zhang, D.; Zhu, Y.; Liu, L.; Ying, X.; Hsiung, C. -E.; Sougrat, R.; Li, K.; Han, Y.
Hart, J. L.; Lang, A. C.; Leff, A. C.; Longo, P.; Trevor, C.; Twesten, R. D.; Taheri, M. L.
Zhu, Y.; Ciston, J.; Zheng, B.; Miao, X.; Czarnik, C.; Pan, Y.; Sougrat, R.; Lai, Z.; Hsiung, C. -E.; Yao, K.; Pinnau, I.; Pan, M.; Han, Y.
Zhao, M.; Bosman, M.; Danesh, M.; Zeng, M.; Song, P.; Darma, Y.; Rusydi, A.; Lin, H.; Qiu, C. -W.; Loh, K. P.
Shukla, A. K.; Ramasse, Q. M.; Ophus, C.; Duncan, H.; Hage, F.; Chen, G.
Griffiths, J. T.; Zhang, S.; Rouet-Leduc, B.; Fu, W. Y.; Bao, A.; Zhu, D.; Wallis, D. J.; Howkins, A.; Boyd, I.; Stowe, D.; Kappers, M. J.; Humphreys; C.J.; Oliver, R. A.
Park, J.; Elmlund, H.; Ercius, P.; Yuk, J. M.; Limmer, D. T.; Chen, Q.; Kim, K.; Han, S. H.; Weitz, D. A.; Zettl, A.; Paul Alivisatos, A. P.
Mecklenburg, M.; Hubbard, W. H.; White, E. R.; Dhall, R.; Cronin, S. B.; Aloni, S.; Regan, B. C.
Aitkaliyeva, A.; Madden, J. W.; Miller, B. D.; Cole, J. I.; Gan, J.
Clabbers, M. T. B.; Martynawycz, M. W.; Hattne, J.; Nannenga, B. L.; Gonen, T.
Yang, T.; Xua, H.; Zoua, X.
Lai, Y. H.; Zheng, J. D.; Lu, S. C.; Wang, Y. K.; Duan, C. G.; Yu, P.; Zheng, Y. Z.; Huang, R.; Chang, L.; Chu, M. W.; Hsu, J. H.; Chu, Y. H.
Persson, A. R.; Papamichail, A.; Darakchieva, V.
Du, J. S.; Dravid, V. P.; Mirkin, C. A.
Sun, J.; Ding, D.; Liu, W.; Wu, W.; Liu, H.; Wei, G.; Liu, H.
Pacakova, B.; Vullum, P. E.; Kirch, A.; Breu, J.; Miranda, C. R.; Fossum, J. O.
Hölzel, H.; Lee, S.; Amsharov, K.; Jux, N.; Harano, K.; Nakamura, E.; Lungerich, D.
Kuwahara, M.; Mizuno, L.; Yokoi, R.; Morishita, H.; Ishida, T.; Saitoh, K.; Tanaka, N.; Kuwahara, S.; Agemura, T.
Shang, T.; Xiao, D.; Meng, F.; Rong, X.; Gao, A.; Lin, T.; Tang, Z.; Liu, X.; Li, X.; Zhang, Q.; Wen, Y.; Xiao, R.; Wang, X.; Su, D.; Hu, Y. S.; Li, H.; Yu, Q.; Zhang, Z.; Petricek, V.; Wu, L.; Gu, L.; Zuo, J. M.; Zhu, Y.; Nan. C. W.; Zhu. J.
Xi, R.; Jiang, H.; Li, G.; Zhang, Z.; Zhao, G.; Vanmeensel, K.; Kustov, S.; Humbeeck. J. V.; Wang. X.
Wu, S.; Kou, Z.; Lai, Q.; Lan, S.; Katnagallu, S. S.; Hahn, H.; Taheriniya, S.; Wilde, G.; Gleiter, H.; Feng, T.
Vanacore, G. M.;Chrastina, D.; Scalise, E.; Barbisan, L.; Ballabio, A.; Mauceri, M.; Via, F. L.; Capitani, G.; Crippa, D.; Marzegalli, A.; Bergamaschini. R.; Miglio. L.
Tratnik, B.; Van de Velde, N.; Jerman, I.; Kapun, G.; Tchernychova, E.; Tomšič, M.; Jamnik, A.; Genorio, B.; Vizintin, A.; Dominko, R.
Xiao, B.; Luan, J.; Zhao, S.; Zhang, L.; Chen, S.; Zhao, Y.; Xu, L.; Liu, C. T.; Kai, J. -J.; Yang, T.
Ding, Z.; Gao, S.; Fang, W.; Huang, C.; Zhou, L.; Pei, X.; Liu, X.; Pan, X.; Fan, C.; Kirkland, A. I.; Wang, P.
Pakzad, A.; dos Reis. R. D.
Crozier, P. A.
Radić, D.; Peterlechner, M.; Posselt, M.; Bracht, H.
Zanetta, P. -M.
Elgvin, C.; Kjeldby, S. B.; Both, K. G.; Nguyen, P. D.; Prytz, Ø.
Minor, A.; Mills, S.; Zeltmann, S.; Ercius, P.; Kohnert, A.; Uberuaga, B.
Shimizu, T.; Lungerich, D.; Harano, K.; Nakamura, E.
Hasegawa, S.; Masuda, S.; Takano, S.; Harano, K.; Tsukuda, T.
Abe, Y.; Satoh, Y.; Hashimoto, N.
Leong, Z.; Huang, Y.; Wróbel, J. S.; Gao, J.; Morley, N.; Goodall, R.
Liu, F.; Hu, W. -X.; Yang, Z. -H.; Wang, W.; He, W.
Sui, Y. -D.; Jiang, Y. -H.; Wang, Q. -D.
Liu, D.; Kowashi, S.; Nakamuro, T.; Lungerich, D.; Yamanouchi, K.; Harano, K.; Nakamura, E.
Cai, Y.; Xiang, S.; Tan, Y.
McClintock, D. A.; Gussev, M. N.; Campbell, C.; Mao, K.; Lach, T. G.; Lu, W.; Hachtel, J. A.; Unocic, K. A.
Hong, J.; Bae, J. -H.; Jo, H.; Park, H. -Y.; Lee, S.; Hong, S. J.; Chun, H.; Cho, M. K.; Kim, J.; Kim, J.; Son, Y.; Jin, H.; Suh, J. -Y.; Kim, S. -C.; Roh, H. -K.; Lee, K. H.; Kim, H. -S.; Chung, K. Y.; Yoon, C. W.; Lee, K.; Kim, S. H.; Ahn, J. -P.; Baik, H.; Kim, G. H.; Han, B.; Jin, S.; Hyeon, T.; Park, J.; Son, C. Y.; Yang, Y.; Lee, Y. -S.; Yoo, S. J.; Chun, D. W.
Murthy, A. A.; Das, P. M.; Ribet, S. M.; Kopas, C.; Lee, J.; Reagor, M. J.; Zhou, L.; Kramer, M. J.; Hersam, M. C.; Checchin, M.; Grassellino, A.; dos Reis, R.; Dravid, V. P.; Romanenko, A.
Senga, R.; Lin, Y. -C.; Morishita, S.; Kato, R.; Yamada, T.; Hasegawa, M.; Suenaga, K.
Liu, D.; Kowashi, S.; Nakamuro, T.; Lungerich, D.; Yamanouchi, K.; Harano, K.; Nakamura, E.
Mozgawa, B.; Sobańska, K.; Grybo, J.; Pietrzy, P.
Donohue, J.; Zeltmann, S. E.; Bustillo, K. C.; Savitzky, B.; Jones, M. A.; Meyers, G.; Ophus, C.; Minor, A. M.
Munshi, J.; Rakowski, A.; Savitzky, B. H.; Zeltmann, S. E.; Ciston, J.; Henderson, M.; Cholia, S.; Minor, A. M.; Chan, M. K. Y.; Ophus, C.
Wei, Y.; Zhao, X.; Liu, Z.; Tan, C.
Chen, C.; Sun, M.; Cheng, Z.; Liang, Y.
Angell, D. K.; Bourgeois, B.; Vadai, M.; Dionne, J. A.
Behera, P.; May, M. A.; Gomez-Ortiz, F.; Susarla, S.; Das, S.; Nelson, C. T.; Caretta, L.; Hsu, S. -L.; McCarter, M. R.; Savitzky, B. H.; Barnard, E. S.; Raja, A.; Hong, Z.; Garcia-Fernandez, P.; Lovesey, S. W.; Van der Laan, G.; Ercius, P.; Ophus, C.; Martin, L. W.; Junquera, J.; Raschke, M. B.; Ramesh, R.
Shang, Y.; Liu, Z.; Dong, J.; Yao, M.; Yang, Z.; Li, Q.; Zhai, C.; Shen, F.; Hou, X.; Wang, L.; Zhang, N.; Zhang, W.; Fu, R.; Ji, J.; Zhang, X.; Lin, H.; Fei, Y.; Sundqvist, B.; Wang, W.; Liu, B.
Tang, H.; Yuan, X.; Cheng, Y.; Fei, H.; Liu, F.; Liang, T.; Zeng, Z.; Ishii, T.; Wang, M. -S.; Katsura, T.; Sheng, H.; Gou, H.
Synthesis and characterisation of cerium sulphide over optical fiber and its gas sensing application
Theoderaj, A. K. C.; Jacob, I. D.; Chitra, J. M.
Kobayashia, S.; Howe, J. M.; MitsuhiroMurayama, M.
Singha, R.; Yuan, F.; Cheng, G.; Salters, T. H.; Oey, Y. M.; Villalpando, G. V.; Jovanovic, M.; Yao, N.; Schoop, L. M.
Ophus, C.; Zeltmann, S. E.; Bruefach, A.; Rakowski, A.; Savitzky, B. H.; Minor, A. M.; Scott, M. C.
Susarla, S.; García-Fernández, P.; Ophus, C.; Das, S.; Aguado-Puente, P.; McCarter, M.; Ercius, P.; Martin, L. W.; Ramesh, R. Junquera, J.
Ravat, P.; Uchida, H.; Sekine, R.; Kamei, K.; Yamamoto, A.; Konovalov, O.; Tanaka, M.; Yamada, T.; Harano, K.; Nakamura, E.
Murthy, A. A.; Ribet, S. M.; Stanev, T. K.; Liu, P.; Watanabe, K.; Taniguchi, T.; Stern, N. P.; dos Reis, R.; Dravid, V. P.
Zhao, J.; Xu, H.; Lebrette, H.; Carroni, M.; Taberman, H.; Hogbom, M.; Zou, X.
Mao, W.; Bao, C.; Han, L.
Xing, J.; Takeuchi, K.; Kamei, K.; Nakamuro, T.; Harano, K.; Nakamura, E.
Cao, B. X.; Kong, H. J.; Ding, Z. Y.; Wu, S. W.; Luan, J. H.; Jiao, Z. B.; Lu, J.; Liu, C. T.; Yang, T.
Kanomi, S.; Marubayashi, H.; Miyata, T.; Tsuda, K.; Jinnai, H.
Lin, Z.; Wu, C.; He, H.; Jiang, S.; Ren, F.; Cao, L.; Huang, Z.; Zhang, J.
Bu, Y.; Wu, Y.; Lei, Z.; Yuan, X.; Wu, H.; Feng, X.; Liu, J.; Ding, J.; Lu, Y.; Wang, H.; Lu, Z.; Yang, W.
Biffi, C. A.; Bassani, P.; Fiocchi, J.; Albu, M.; Tuissi, A.
Lungerich, D.; Hoelzel, H.; Harano, K.; Jux, N.; Amsharov, K. Y.; Nakamura, E.
Lungerich, D.; Hoelzel, H.; Harano, K.; Jux, N.; Amsharov, K. Y.; Nakamura, E.
Londoño-Calderon, A.; Williams, D. J.; Schneider, M. M.; Savitzky, B. H.; Ophus, C.; Ma, S.; Zhud, H.; Pettes, M. T.
Wang, H.; Yu, Z.; Kong, X.; Huang, W.; Zhang, Z.; Mackanic, D. G.; Huang, X.; Qin, J.; Bao, Z.; Cui. Y.
Mir, A. H.; Hyatt, N. C.; Donnelly, S. E.
Liu, B.; Zhao, G.; Zhang, X.; Guo, J.; Gong, S.; Xie, G.; Peng, L.; Li, Z.
Wang, W.; Blawert, C.; Zan, R.; Sun, Y.; Peng, H.; Ni, J.; Han, P.; Suo, T.; Song, Y.; Zhang, S.; Zheludkevich, M. L.; Zhang, X.
Ng, S.; Zazpe, R.; Rodriguez-Pereira, H.; Michalička, J.; Macak, J. M.; Pumera, M.
Censabella, M.; Irrera, D.; Boscarino, S.; Piccitto, G.; Grimaldi, M. G.; Ruffino, F.
Li, R.; Yamashita, S.; Kita, H.
Rymer, L. -M.; Winter, L.; Hockauf, K.; Lampke, T.
Kazmierczak, N. P.; Van Winkle, M.; Ophus, C.; Bustillo, K. C.; Carr, S.; Brown, H. G.; Ciston, J.; Taniguchi, T.; Watanabe, K,; Bediako, D. K.
Hasegawa, S.; Takano, S.; Harano, K.; Tsukuda, T.
Hasegawa, S.; Takano, S.; Harano, K.; Tsukuda, T.
Karre, R.; Hua, Y.; Song, S.; Wang, X.; Joardar, J.; Reddy, K. M.
Hanayama, H.; Yamada, J.; Tomotsuka, I.; Harano, K.; Nakamura, E.
Tomita, A.; Miki, T.; Tai, Y.
Koenig, T. R.; Rao, Z.; Chason, E.; Tucker, G. J.; Thompson, G. B.
Lezhnev, S. N.; Naizabekov, A. B.; Panin, E. A.; Volokitina, I. E.; Arbuz, A. S.
Xie, H.; Zhao, X.; Jiang, J.; Bai, J.; Li, S.; Pan, H.; Pang, X.; Li, H.; Ren, Y.; Qin, G.
Pofelski, A.; Whabi, V.; Ghanad-Tavakoli, S.; Botton, G.
Krause, F. F.; Schowalter, M.; Oppermann, O.; Marquardt, D.; Müller-Caspary, K.; Ritz, R.; Simson, M.; Ryll, H.; Huth, M.; Soltau, H.; Rosenauer, A.
Baron, C.; Werner, H.; Springer, H.
Boyle, D. T.; Huang, W.; Wang, H.; Li, Y.; Chen, H.; Yu, Z.; Zhang, W.; Bao, Z.; Cui, Y.
Emmrich, D.; Wolff, A.; Meyerbröker, N.; Lindner, J. K. N.; Beyer, A.; Gölzhäuser, A.
Osugi, S.; Takano, S.; Masuda, S.; Harano, K.; Tsukuda, T.
Sudha, M.; Surendhiran, S.; Gowthambabu, V.; Balamurugan, A.; Anandarasu, R.; Syed Khadar, Y. A.; Vasudevan, D.
Zrinski, I.; Mardare, C. C.; Jinga, L. - I.; Kollender, J. P.; Socol, G.; Minenkov, A.; Hassel, A. W.; Mardare, A. I.;
Chen, W.; Ding, D.; Zhang, W.; Xiao, D.
Farabi, E.; Sharp, J. A.; Vahid, A.; Fabijanic, D. M.; Barnett, M. R.; Gallo, S. C.
Wang, W.; Erofeev, I.; Nandi, P.; Yan, H.; Mirsaidov, U.
Londoño-Calderon, A.; J. Williams, D. J.; Schneider, M.; Savitzky, B. H.; Ophus, C.; Pettes, M. T.
Castano, I.; Evans, A. M.; dos Reis, R,; Dravid, V. P.; Gianneschi, N. C.; Dichtel, W. R.
Sekine, R.; Ravat, P.; Yanagisawa, H.; Liu, C.; Kikkawa, M.; Harano, K.; Nakamura, E.
Reboul, C. F.; Heo, J.; Machello, C.; Kiesewetter, S.; Kim, B. H.; Kim, S.; Elmlund, D.; Ercius, P.; Park, J.; Elmlund, H.
Pan, Z.; Zhou, Q.; Wang, P.; Diao, D.
Quarez, E.; Gautron, E.; Paris, M.; Gajan, D.; Mevellec, J. -Y.
Nakamuro, T.; Sakakibara, M.; Nada, H.; Harano, K.;Nakamura, E.
Marchello, G.; De Pace, C.; Acosta-Gutierrez, S.; Lopez-Vazquez, C.; Wilkinson, N.; Gervasio, F. L.; Ruiz-Perez, L.; Giuseppe Battaglia, G.
Mathur, N.; Yasin, F. S.; Stolt, M. J.; Nagai, T.; Kimoto, K.; Du, H.; Tian, M.; Tokura, Y.; Yu, X.; Jin, S.
Sulym, I.; Wiśniewska, M.; Storozhuk, L.; Terpilowski, K.; Sternik, D.; Borysenko, M.; Derylo-Marczewska, A.
Murthy, A. A.; Stanev, T. K.; Ribet, S. M.; Liu, P.; Watanabe, K.; Taniguchi, T.; Stern, N. P.; dos Reis, R.; Dravid, V. P.
Balch, H. B., Evans, A. M., Dasari, R. R., Li, H., Li, R., Thomas, S., Wang, Q., Bisbey, R. P., Slicker, K., Castano, I., Xun, S., Jiang, L., Zhu, C., Gianneschi, N., Ralph, D. C., Brédas, J-L., Marder, S. R., Dichtel, W. R., Wang, F.
Abfaltere, A.; Shamsi, J.; Kubicki, D. J.; Savory, C. N.; Xiao, J.; Divitini, G.; Li, W.; Macpherson, S.; Gałkowski, K.; MacManus-Driscoll, J. L.; Scanlon, D. O.; Stranks, S. D.
Kratish, Y.; Nakamuro, T.; Liu, Y.; Li, J.; Tomotsuka, I.; Harano, K.; Nakamura, E.; Marks, T. J.
Li, H. -K.; de Souza, J. P.; Zhang, Z.; Martis, J.; Sendgikoski, K.; Cumings, J.; Bazant, M. Z.; Majumdar, A.
Roslova, M.; Smeets, S.; Wang, B.; Thersleff, T.; Xu, H.; Zou, X.
Kamei, K.; Shimizu, T.; Harano, K.; Nakamura, E.
Shen, T. -H.; Spillane, L.; Vavra, J.; Pham, T. H. M.; Peng, J.; Shao-Horn, Y.; Tileli, V.
Kim, Y. -J.; Lee, Y.; Kim, K.; Kwon, O. -H.
Park, S.; Siahrostami, S.; Park, J.; Mostaghimi, A. H. B.; Kim, T. R.; Vallez, L.; Gill, T. M.; Park, W.; Goodson, K. E.; Sinclair, R.; Zheng, X.
Stuckner, J.; Shimizu, T.; Harano, K.; Nakamura, E.; Murayama, M.
Shimizu, T.; Lungerich, D.; Stuckner, J.; Murayama, M.; Harano, K.; Nakamura, E.
Gholinia, A.; Curd, M. E.; Bousser, E.; Taylor, K.; Hosman, T.; Coyle, S.; Hassel Shearer, M.; Hunt, J.; Withers, P. J.
Hanayama, H.; Yamada, J.; Harano, K.; Nakamura, E.
Londoño-Calderon, A.; Williams, D. J.; Ophus, C.; Pettes, M. T.
Murthy, A. A.; Stanev, T. K.; dos Reis, R.; Hao, S.; Wolverton, C.; Stern, N. P.; Dravid, V. P.
Yu, L.; Hudak, B. M.; Ullah, A.; Thomas, M. P.; Porter, C. C.; Thisera, A.; Pham, R. H.; Goonatilleke, M. D. A.; Guiton, B. S.
Ogata, A. F.; Rakowski, A. M.; Carpenter, B. P.; Fishman, D. A.; Merham, J. G.; Hurst, P. J.; Patterson, J. P.
Addiego, C.; Gao, W.; Pan, X.
Errokh, A.; Magnin, A.; Putaux, J. -L.; Boufi, S.
Vasiliades, M. A.; Kalamaras, C. M.; Govender, N. S.; Govender, A.; Efstathiou, A. M.
Nam, K. W.; Park, S. S.; dos Reis, R.; Dravid, V. P. Kim, H.; Mirkin, C. A.; Stoddart, J. F.
Gao, W.; Addiego, C.; Wang, H,; Yan, X.; Hou, Y.; Ji, D.; Heikes, C.; Zhang, Y.; Li, L.; Huyan, H.; Blum, T.; Aoki, T.; Nie, Y.; Schlom, D.; Wu, R.; Pan, X.
Leijten, Z. J. W. A.; Wirix, J. M.; Strauss, M.; Plitzko, J. M.; de With, G.; Friedrich, H.
Samji Samira, S.; Gu, X. -K.; Nikolla, E.
Mayoral, Á.; del Angel, P.; Ramos, M.
Mecklenburg, M.; Hubbard, W. A.; Lodico, J. J.; Regan, B. C.
Zhao, C.; Lu, H.; Wang, H.; Tang, F.; Nie, H.; Hou, C.; Liu, X.; Song, X.; Nie, Z.
Ogawa, Y.
Xing, J.; Schweighauser, L.; Okada, S.; Harano, K.; Nakamura, E.
Vollmer, C.; Leitner, J.; Kepaptsoglou, D.; Ramasse, Q. M.; Busemann, H.; Hoppe, P.
Fang, C.; Li, J.; Zhang, M.; Zhang, Y.; Yang, F.; Lee, J. Z.; Lee, L. M. -H.; Alvarado, J.; Schroeder, M. A.; Yang, Y.; Lu, B.; Williams, N.; Ceja, M.; Yang, L.; Cai, M.; Gu, J.; Xu, K.; Wang, X.; Meng, Y. S.
Kumar, A.; Nayak, S. K.; Bijalwan, P.; Dutta, M.; Banerjee, A.; Laha, T.
Li, X.; Wang, J.; Liu, X.; Liu, L.; Cha, D.; Zheng, X.; Yousef, A. A.; Song, K.; Zhu, Y.; Zhang, D.; Han, Y.
Yang, J.; Zeng, Z.; Kang, J.; Betzler, S.; Czarnik, C.; Zhang, X.; Ophus, C.; Yu, C.; Bustillo, K.; Pan, M.; Qiu, J.; Wang, L. -W.; Zheng, H.
Wang, H.; Liu, Z.; Liu, H.; Guan, L.; Cao, X.; Zhang, Z.; Huang, Y.; Jin, C.
Yakovlev, S.; Fiscus, D.; Brant, P.; Butler, J.; Bucknall, D. G.; Downing, K. H.
Li, Y.; Wang, K.; Zhou, W.; Sinclair, R.; Chiu, W.; Cui, Y.
Su, T.; Hood, Z. D.; Naguib, M.; Bai, L.; Luo, S.; Rouleau, C. M.; Ivanov, I. N.; Ji, H.; Qin, Z.; Wu, Z.
Matai, I.; Garg, M.; Rana, K.; Singh, S.
Zhang, Y.; Tunes, M. A.; Crespillo, M. L.; Zhang, F.; Boldman, W. L.; Rack, P. D.; Jiang, L.; Xu, C.; Greaves, G.; Donnelly, S. E.; Wang, L.; Weber, W. J.
Tunes, M. A.; Harrison, R. W.; Donnelly, S. E.; Edmondson, P. D.
Hooley, R.; Brown, A.; Brydson, R.
S’ari, M.; Cattle, J.; Hondow, N.; Brydson, R.; Brown, A.
Almadoria, Y.; Delport, G.; Chambard, R.;Orcin-Chaix, L.; Selvati, A. C.; Izard, N.; Belhboub, A.; Aznar, R.; Jousselme, B.; Campidelli, S.; Hermet, P.; Le Parca, R.; Saito, T.; Sato, Y.; Suenaga, K.; Puech, P.; Lauret, J. S.; Cassabois, G.; Bantignies, J. -L.; Alvarez, L.
Yang, W. -C. D.; Wang, C.; Fredin, L. A.; Lin, P. A.; Shimomoto, L.; Lezec, H. J.; Sharma, R.
Evans, S. F.; Ivancevic, M. R.; Wilson, D. J.; Hood, Z. D.; Adhikari, S. P.; Naskar, A. K.; Tsouris, C.; Paranthaman, M. P.
Almeida, T. P.; Muxworthy, A. R.; Williams, W.; Kasama, T.; Kovács, A.; Dunin-Borkowski, R. E.
Connolly, M.; Zhang, Y.; Mahri, S.; Brown, D. M.; Ortuño, N.; Jordá-Beneyto, M.; Maciaszek, K.; Stone, V.; Fernandes, T. F.; Johnston, H. J.
Li, X.; Zhang, Z.; Yao, C.; Lu, X.; Zhao, X.; Ni, C.
Gallagher-Jones, M.; Ophus, C.; Bustillo, K. C.; Boyer, D. R.; Panova, O.; Glynn, C.; Zee, C., -T.; Ciston, J.; Mancia, K. C.; Minor, A. M.; Rodriguez, J. A.
Pierobon, L.; Kovács, A.; Schäublin, R. E.; Wyss, U.; Dunin-Borkowski, R. E.; Löffler, J. F.; Charilaou, M.
Khelfa, A.; Byun, C.; Nelayah, J.; Wang, G.; Ricolleau, C.; Alloyeau, D.
Panciera, F.; Tersoff, J.; Gamalski, A. D.; Reuter, M. C.; Zakharov, D.; Stach, E. A.; Hofmann, S.; Ross, F. M
Pool, R.
Gao, W.; Wu, J.; Yoon, A.; Lu, P.; Qi, L.; Wen, J.; Miller, D. J.; Mabon, J. C.; Wilson, W. L.; Yang, H.; Zuo, J. -M.
Harmand, J. -C.; Patriarche, G.; Glas, F.; Panciera, F.; Florea, I.; Maurice, J. -L.; Travers, L.; Ollivier, Y.
Fu, Z.; Jiang, L.; Wardini, J. L.; MacDonald, B. E.; Wen, H.; Xiong, W.; Zhang, D.; Zhou, Y.; Rupert, T. J.; Chen, W.; Lavernia, E. J.
Tan, S. F.; Bisht, G.; Anand, U.; Bosman, M.; Yong, X. E.; Mirsaidov, U.
Yasin, F. S.; Harvey, T. R.; Chess, J. J.; Pierce, J. S.; Ophus, C.; Ercius, P.; McMorran, B. J.
Zeng, L.; Gammer, C.; Ozdol, B.; Nordqvist, T.; Nygård, J.; Krogstrup, P.; Minor, A. M.; Jäger, W.; Olsson, E.
Kim, S.; Jung, H. J.; Kim, J. C.; Lee, K. -S.; Park, S. S.; Dravid, V. P.; He, K.; Jeong, H. Y.
Yu, J.; Yuan, W.; Yang, H.; Xu, Q.; Wang, Y.; Zhang, Z.
Fernandez, S.; Ostraat, M. L.; Lawrence III, J. A.; Zhang, K.
Gammer, C.; Ophus, C.; Pekin, T. C.; Eckert, J.; Minor, A. M.
Zhang, X.; Ren, Z.; Lu, Y.; Yao, J.; Gao, M.; Liu, Y.; Pan, H.
Zheng, F.; Rybakov, F. N.; Borisov, A. B.; Song, D.; Wang, S.; Li, Z. -A.; Du, H.; Kiselev, N. S.; Caron, J.; Kovács, A.; Tian, M.; Zhang, Y.; Blügel, S.; Dunin-Borkowski, R. E.
Tsukasaki, H.; Mori, S.;Shiotani, S.; Yamamura, H.
Tan, S. F.; Raj, S.; Bisht, G.; Annadata, H. V.; Nijhuis, C. A.; Král, P.; Mirsaidov, U.
Destefani, T. A.; Onaga, G. L.; de Farias, M. A.; Percebom, A. M.; Sabadini, E.
Hu, X.; Yasaei, P.; Jokisaari, J.; Öğüt, S.; Salehi-Khojin, A.; Klie, R. F.
da Silva, L. C. E.; Germiniani, L. G. L.; Plivelic, T. S.; Gonçalves, M. C.
S.E.Gilliland III, Tengco, J. M. M.; Yang, Y.; Regalbuto, J. R.; Castano, C. E.; Gupton, B. F.
Hou, Z.; Zhang, Q.; Xu, G.; Gong, C.; Ding, B.; Wang, Y.; Li, H.; Liu, E.; Xu, F.; Zhang, H.; Yao, Y.; Wu, G.; Zhang, X. - X.; Wang, W.
Pekin, T. C.; Gammer, C.; Ciston, J.; Ophus, C.; Minor, A. M.
Boyer, M.; Yang, X.; Carrión, A. J. F.; Wang, Q.; Véron, E.; Genevois, C.; Hennet, L.; Matzen, G.; Suard, E.; Thiaudière, D.; Castro, C.; Pelloquin, D.; Kong, L. B.; Kuang, X.; Allix, M.
Okada, S.; Kowashi, S.; Schweighauser, L.; Yamanouchi, K.; Harano, K.; Nakamura, E.
Chee, S. W.; Tan, S. F.; Baraissov, Z.; Bosman, M.; Mirsaidov, U.
Prozorov, T.; Almeida, T. P.; Kovacs, A.; Dunin-Borkowski, R. E.
Nayak, A. K.; Kumar, V.; Ma, T.; Werner, P.; Pippel, E.; Sahoo, R.; Damay, F.; Rößler, U. K.; Felser, C.; Parkin, S. S. P.
Han, C. W.; Choksi, T.; Milligan, C.; Majumdar, P.; Manto, M.; Cui, Y.; Sang, X.; Unocic, R. R.; Zemlyanov, D.; Wang, C.; Ribeiro, F. H.; Greeley, J.; Ortalan, V.
Han, C. W.; Choksi, T.; Milligan, C.; Majumdar, P.; Manto, M.; Cui, Y.; Sang, X.; Unocic, R. R.; Zemlyanov, D.; Wang, C,; Ribeiro, F. H.; Greeley, J.; Ortalan, V.
Rajput, N. S.; Shao-Horn, Y.; Li, X. -H.; Kim, S. -G.; Jouiad, M.
Yue, Y.; Zhang, Q.; Zhang, X.; Yang, Z.; Yin, P.; Guo, L.
Sinclair, R.; Lee, S. C.; Shi, Y.; Chueh, W. C.
Koh, A. L.; Sinclair, R.
Lee, Y. M.; Kim, Y. J.; Kim, Y. -J.; Kwon, O. -H.
Pekin, T. C.; Gammer, C.; Ciston. J.; Minor, A. M.; Ophus, C.
Geng, G.; Chen, P.; Guan, B.; Jiang, L.; Xu, Z.; Di, D.; Tu, Z.; Hao, W.; Yi, Y.; Chen, C.; Liu, M.; Hu, W.
Griffiths, J. T.; Ren, C. X.; Coulon, P. -M.; Le Boulbar, E. D.; Bryce, C. G.; Girgel, I.; Howkins, A.; Boyd, I.; Martin, R. W.; Allsopp, D. W. E.; Shields, P. A.; Humphreys, C. J.; Oliver, R. A.
Sato, K.; Yasuda, H.
Rao, J. C.; Diao, H. Y.; Ocelík, V.; Vainchtein, D.; Zhang, C.; Kuo, C.; Tang, Z.; Guo, W.; Poplawsky, J. D.; Zhou, Y.; Liaw, P. K.; De Hosson, J. Th. M.
Oikawa, T.; Okumura, M.; Kimura, T.; Nishiyama, Y.
Miller, D. R.; Williams, R. E.; Akbar, S. A.; Morris, P. A.; McComb, D. W.
Buha, J.; Manna, L.
Ahadi, A.; Matsushita, Y.; Sawaguchi, T.; Sun, Q. P.; Tsuchiya, K.
Gallagher, J. R.; Torian, U.; McCraw, D. M.; Harris, A. K.
Ophus, C.; Ercius, P.; Huijben, M.; Ciston, J.
Dang, Z.; Shamsi, J.; Palazon, F.; Imran, M.; Akkerman, Q. A.; Park, S.; Bertoni, G.; Prato, M.; Brescia, R.; Manna, L.
Zhang, Z.; Guo, H.; Ding, W.; Zhang, B.; Lu, Y.; Ke, X.; Liu, W.; Chen, F.; Sui, M.
Ziolkowska, D. A.; Jangam, J. S. Dilip; Rudakov, G.; Paronyan, T.; Akhtar, M.; Sumanasekera, G.; Jasinski, J. B.
Ophus, C.; Rasool, H. I.; Linck, M.; Zettl, A.; Ciston, J.
Zieschang, A. -M.; Bocarsly, J. D.; Dürrschnabel, M.; Molina-Luna, L.; Kleebe, H. -J.; Seshadri, R.; Albert, B.
Liu, C.; Wu, S.; Zheng, H.; Cao, F.; Sheng, H.; Zhao, D.; Wang, J.
Boebinger, M. G.; Xu, M.; Ma, X.; Chen, H.; Unocic, R. R.; McDowell, M. T.
Hattingh, D. G.; von Welligh, L. G.; Bernard, D.; Susmel, L.; Tovo, R.; James, M. N.
Schreiber, R. E.; Houben, L.; Wolf, S. G.; Leitus, G.; Lang, Z-, L.; Carbó, J. J.; Poblet, J. M.; Neumann, R.
Balakrishnan, V.; Bedewy, M.; Meshot, E. R.; Pattinson, S. W.; Polsen, E. S.; Laye, F.; Zakharov, D. N.; Stach, E. A.; Hart, A. J.
Gerber, O.; Pichon, B. P.; Ihiawakrim, D.; Florea, I.; Moldovan, S.; Ersen, O.; Begin, D.; Grenèche, J. -M.; Lemonnier, S.; Barraud, E.; Begin-Colin, S.
Maggiolini, E.; Tovo, R.; Susmel, L.; James, M. N.; Hattingh, D. G.
Voznyak, Yu.; Morawiec, J.; Galeski, A.
Koh, A. L.; Gidcumb, E.; Zhou, O.; Sinclair, R.
Fabbri, F.; Rotunno, E.; Cinquanta, E.; Campi, D.; Bonnini, E.; Kaplan, D.; Lazzarini, L.; Bernasconi, M.; Ferrari, C.; Longo, M.; Nicotra, G.; Molle, A.; Swaminathan, V.; Salviati, G.
Liu, H.; Liang, L.; Wang, Y.; Wei, Y.
Panova, O.; Chen, X. C.; Bustillo, K. C.; Ophus, C.; Bhatt, M. P.; Balsara, N.; Minor, A. M.
Advanced characterization of microstructural changes during recrystallization in aluminum alloy 6013
Bieda, M.; Kawalko, J.; Brisset, F.; Sztwiertnia, K.
Chulist, R.; Faryna, M.; Szczerba, M. J.
Almeida, T. P.; Muxworthy, A. R.; Kovács, A.; Williams, W.; Nagy, L.; Conbhuí, P. O.; Frandsen, C.; Supakulopas, R.; Dunin-Borkowski, R. E.
Mégret, R.; Yoo, S.; Zakharov, D.; Stach, E.
Ziolkowska, D. A.; Jasinski, J. B.; Hamankiewicz, B.; Korona, K. P.; Wu, S. -H.; Czerwinsk, A.
Gammer, C.; Kacher, J.; Czarnik, C.; Warren, O. L.; Ciston, J.; Minor, A. M.
Kameya, Y.; Hayashi, T.; Motosuke, M.
Ramel Jr., P. R. R.; Peyronel, F.; Marangoni, A. G.
Motosuke, M.
Mørtsell, E. A.; Wenner, S.; Longo, P.; Andersen, S. J.; Marioara, C. D.; Holmestad, R.
Zhang, B.; Peng, K.; Li, A.; Zhou, X.; Chen, Y.; Deng, Q.; Han, X.
Chen, Z.; Weyland, M.; Ercius, P.; Ciston, J.; Zheng, C.; Fuhrer, M. S.; D'Alfonso. A. J.; Allen, L. J.; Findlay, S. D.
Shibata, K.; Kovács, A.; Kanazawa, N.; Dunin-Borkowski, R. E.; Tokura, Y.
de Pablos-Martin, A.; Benndorf, G.; Tismer, S.; Mittag, M.; Cismak, A.; Lorenz, M.; Grundmann, M.; Höche, T.
Restivo, J.; Garcia-Bordejé, E.; Órfão, J. J. M.; Pereira, M. F. R.
Ayvacikli, A.; Canimoglu, A.; Muresan, L. E.; Tudoran, L. B.; Guinea, J. G.; Karabulut, Y.; Jorge, A.; Karali, T.; Can, N.
Marín, L.; Warot-Fonrose, B.; Estève, A.; Chabal, Y. J.; Rodriguez, L. A.; Rossi, C.
Islam, E.; Sar, P.
Clark, S.; Janik, V.; Rijkenberg, A.;Sridhar, S.
Eggeler, Y. M.; J. Müller, J.; Titus, M. S.; Spiecker, E.
Chen, H. C.; Li, D. H.; Lui, R. D.; Huang, H. F.; Li, J. J.; Lei, G. H.; Huang, Q.; Bao, L. M.; Yan, L.; Zhou, X. T.; Zhu, Z. Y.
Eggeler, Y. M.; Müller, J.; Titus, M. S.; Suzuki, A.; Pollock, T. M.; Spiecker, E.
Kogler, M.; Köck, E. -M.; Stöger-Pollach, M.; Schwarz, S.; Schachinger, T.; Klötzer, B.; Penner, S.
Holmström, E.; Haberl, B.; Pakarinen, O. H.; Nordlund, K. Djurabekov, F.; Arenal, R.; Williams, J. S.; Bradby, J. E.; Petersen, T. C.; Liu, A. C. Y.
van Embden, J.; Bourgeois, L.; Gaspera, E. D.; Waddington, L.; Yin, Y.; Medhekar, N. V.; Jasieniak, J. J.; Chesman, A. S. R.
Myagkov, V. G.; Zhigalov, V. S.; Bykova, L. E.; Bondarenko, G. N.
Hashimoto, T.; Thompson, G. E.; Zhou, X.; Withers, P. J.
Clark, B. G.; Hattar, K. M.; Marshall, M. T.; Chookajorn, T.; Boyce, B. L.; Schuh, C. A.
Fu, X.; Warot-Fonrose, B.; Arras, R.; Seine, G.; Demaille, D.; Eddrief, M.; Etgens, V.; Serin, V.
Mineart, K. P.; Al-Mohsin, H. A.; Lee, B.; Spontak, R. J.
Chen, Y. -J.; Zhang, B.; Ding, Q. -Q.; Deng, Q. -S.; Chen, Y.; Song, Z. -T.; Li, J. -X.; Zhang, Z.; Han, X. -D.
Bian, X. L.; Wang, G.; Chine, H. C.; Yan, L.; Wang, J. G.; Wang, Q.; Hu, P. F.; Ren, J. L.; Chan, K. C.; Zheng, N.; Teresiak, A.; Gao, Y. L.; Zhai, Q. J.; Eckert, J.; Beadsworth, J.; Dahmen, K. A.; Liaw, P. K.
Ophus, C.; Ciston, J.; Pierce, J.; Harvey, T. R.; Chess, J.; McMorran, B. J.; Czarnik, C.; Rose, H. H.; Ercius, P.
Saleh, A. A.; Casillas, G.; Pereloma, E. V.; Carpenter, K. R.; Killmore, C. R.; Gazder, A. A.
Hussain, S. K.; Yu, J. S.
Shen, H. H.; Zu, X. T.; Chen, B.; Huang, C. Q.; Sun, K.
Bae, I. -T.; Naganuma, H.; Ichinose, T.; Sato, K.
Wang, Y.; Baiutti, F.; Gregori, G.; Cristiani, G.; Salzberger, U.; Logvenov, G.; Maier, J.; van Aken, P. A.
Ma, Z.; Liu, J.; Wang, G.; Wang, H.; Wei, Y.; Gao, H.
Kovács, A.; Pradeep, K. G.; Herzer, G.; Raabe, D.; Dunin-Borkowski, R. E.
Kumar, V. B.; Ezersky, V.; Gedanken, A.; Porat, Z.
Wang, L. W.; Cheng, C. F.; Liao, J. W.; Wang, C. Y.; Wang, D. S.; Huang, K. F.; Lin, T. Y.; Ho, R. M.; Chen, L. J.; Lai, C. H.
Ilari, G. M.; Chawla, V.; Matam, S.; Zhang, Y.; Michler, J.; Erni, R.
Van den Ber, R.; Elkjaer, C. F.; Gommes, C. J.; Chorkendorff, I.; Sehested, J.; de Jongh, P. E.; de Jongh, K. P.; Helveg, S.
Song, M.; Du, K.; Wang, C.; Wen, S.; Huang, H. Nie, Z.; Ye, H.
van den Berg, R.; Elkjaer, C. F.; Gommes, C. J.; Chorkendorff, I.; Sehested, J.; de Jongh, P. E.; de Jong, K. P.; Helveg, S.
Mas, F.; Tassin, C.; Valle, N.; Robaut, F.; Charlot, F.; Yescas, M.; Roch, F.; Todeschini, P.; Bréchet, Y.
Cats, K. H.; Andrews, J. C.; Stéphan, O.; March, K.; Karunakaran, C.; Meirer, F.; de Groot, F. M. F.; Weckhuysen, B. M.
Carrasco, J. A.; Romero, J.; Varela, M.; Hauke, F.; Abellán, G.; Hirsch, A.; Coronado, E.
Nafria, R.; Genç, A.; Ibáñez, M.; Arbiol, J.; de la Piscina, P. R.; Homs, N.; Cabot, A.
Cianchetta, I.; Trentelman, K.; Walton, M. S.; Maish, J.; Mehta, A,; Foran, B.
Gilks, D.; Nedelkoski, Z.; Lari, L.; Kuerbanjiang, B.; Matsuzaki, K.; Susaki, T.; Kepaptsoglou, D.; Ramasse, Q.; Evans, R.; McKenna, K.; Lazarov, V. K.
Agar, J. C.; Damodaran, A. R.; Okatan, M. B.; Kacher, J.; Gammer, C.; Vasudevan, R. K.; Pandya, S.; Dedon, L. R.; Mangalam, R. V. K.; Velarde, G. A.; Jesse, S.; Balke, N.; Minor, A. M.; Kalinin, S. V.; Martin, L. W.
Parmenter, C. D. J.; Fay, M. W.; Hartfield, C.; Eltaher, H. M.
Permatasari, F. A.; Aimon, A. H.; Iskandar, F.; Ogi, T.; Okuyama, K.
Kracica, M.; Mayes, E. L. H.; Tran, H. N.; Holland, A. S.; McCulloch, D. G.; Partridge, J. G.
Matsumoto, T.; So, Y. -G.; Kohno, Y.; Sawada, H.; Ikuhara, Y.; Shibata, N.
Sato, Y.; Bugnet, M.; Terauchi, M.; Botton, G. A.; Yoshiasa, A.
Chang, S. L. Y.; Dwyer, C.; Barthel, J.; Boothroyd, C. B.; Dunin-Borkowski, R. E.
Liu, Y.; Xing, Q.; Straszheim, W. E.; Marshman, J.; Pedersen, P.; McLaughlin, R.; Lograsso, T. A.
Hauser, C.; Richter, T.; Homonnay, N.; Eisenschmidt, C.; Qaid, M.; Deniz, H.; Hesse, D.; Sawicki, M.; Ebbinghaus, S. G.; Schmidt, G.
Hofer, F.; Schmidt, F. P.; Grogger W.; Kothleitner, G.
Gaslain, F. O. M.; Le, H. T.; Duhamel, C.; Guerre, C.; Laghoutaris, P.
Chen, Y.; Zhang, B.; Ding, D. -D.; Han, X. -D.
Yu, Q.; Mao, M. -M.; Li, Q. -J.; Fu, X. -Q.; Tian, H.; Li, J. -X.; Mao, S. X.; Zhang, Z.
Koh, A. L.; Wang, S.; Ataca, C.; Grossman, J. C.; Sinclair, R.; Warner, J. H.
Chen, C.; Hu, Z.; Li, Y.; Liu, L.; Mori, H.; Wang, Z.
Pal, A.; Khajornrungruang, P.; Netzband, C.; Alety, S.; Babu, S. V.
Bird, S. M.; Rawlings, A. E.; Galloway, J. M.; Staniland, S. S.
Luo, L.; Zou, L.; Schreiber, D. K.; Olszta, M. J.; Baer, D. R.; Bruemmer, S. M.; Zhou, G.; Wang, C. -M.
Bejjani, R.; Collin, M.; Thersleff, T.; Odelros, S.
Ryu, G. H.; Lee, J.; Kim, N. Y.; Lee, Y.; Kim, Y.; Kim, M. J.; Lee, C.; Lee, Z.
Shavel, A.; Ibáñez, M.; Luo, Z.; De Roo, J.; Carreté, A.; Dimitrievska, M.; Genç, A.; Meyns, M.; Pérez-Rodríguez, A.; Kovalenko, M. V.; Arbiol, J.; Cabot, A.
Chulist, R.; Faryna, M.; Szczerba, M. J.
Power-law characteristics of damage and failure of ceramic coating systems under three-point bending
Liang, L. H.; Li, X. N.; Liu, H. Y.; Wang, Y. B.; Wei, Y. G.
Eshpari, H.; Tong, P. S.; Corredig, M.
Kong, X.; Li, H.; Albert, S.; Bengoechea-Encabo, A.; Sanchez-Garcia, M. A.; Calleja, E.; Draxl, C.; Trampert, A.
Lacroix, B.; Godinho, V.; Fernández, A.
Abdolvand, H.; Wilkinson, A. J.
Wang, L.; Mostaed, E.; Cao, X.; Huang, G.; Fabrizi, A.; Bonollo, F.; Chi, C.; Vedani, M.
Jeangros, Q.; Aebersold, A. B.; Hébert, C.; Hessler-Wyser, A.
Bharadwaja, S. S. N.; Rajashekhar, A.; S. W.; Qu, W.; Motyka, M.; Podraza, N.; Clark, T.; Randall, C. A.; Trolier-McKinstry, S.
Yoo, J. H.; Yang, J. -M.
Yang, J.; Huang, J.; Fan, D.; Chen, S.
Zhang, Z.; Mao, M.; Wang, J.; Gludovatz, B.; Zhang, Z.; Mao, S.; George, E.; Yu, Q.; Ritchie, R.
Liang, W. I.; Zhang, X.; Zan, Y.; Pan, M.; Czarnik, C.; Bustillo, K.; Xu, J.; Chu, Y. H.; Zheng, H.
Zhang, H.; Ren, F.; Wang, Y.; Hong, M.; Xiao, X.; Qin, W.; Jiang, C.
Wang, L.; Gao, T.; Yu, Y.
Ringe, E.; DeSantis, C. J.; Collins, S. M.; Duchamp, M.; Dunin-Borkowski, R. E.; Skrabalak, S. E.; Midgley, P. A.
Ringe, E.; DeSantis, C. J.; Collins, S. M.; Duchamp, M.; Dunin-Borkowski, R. E.; Skrabalak, S. E.; Midgley, P. A.
In situ study of microstructure and strength of severely predeformed pure Cu in deformation at 573 K
Blum, W.; Dvořák, J.; Král, P.; Petrenec, M.; Eisenlohr, P.; Sklenička, V.
Fern, G. R.; Harris, P. G.; Ireland, T.; Silver, J.
Zhang, X.; Guo, J.; Guan, P.; Qin, G.; Pennycook, S. J.
Prabhudev, S.; Bugnet, M.; Zhu, G. -Z.; Bock, C.; Botton, G. A.
Kim, S. -D.; Rhyim, Y.; Kim, J, -S.; Yoon, J.
Li, S.; Bei, G.; Chen, X.; Zhang, L.; Zhou, Y.; Mačković, M.; Spiecker, E.; Greil, P.
Gan, J.; Keiser, D. D.; Miller, B. D.; Robinson, A. B.; Wachs, D. M.; Meyer, M. K.
Jiangfeng, G.; Jiangfeng, G.; Hongwei, L.; Yuwen, J.; Ringer, S.
Niazi, M. R.; Li, R.; Abdelsamie, M.; Zhao, K.; Anjum, D. H.; Payne, M. M.; Anthony, J.; Smilgies, D. -M.; Amassian, A.;
Wang, X. -Y.; Wang, D. -B.; Zhang, Z. -P.; Bi, L. -J.; Zhang, J. -B.; Ding, W.; Zhang, X. -E.
Molina-Bolívar, J. A.; Galisteo-González, F.
Tang, Y. L.; Zhu, Y. L.; Ma, X. L.
Majchrowski, A.; Ebothé, J.; Michel, J.; Chrunik, M.; Jaroszewicz, L. R.; Kulwas, D.
Acosta, M.; Schmitt, L. A.; Molina-Luna, L.; Scherrer, M. C.; Brilz, M.; Webber, K. G.; Deluca, M.; Kleebe, H. -J.; Rödel, J.; Donner, W.
Acosta, M.; Schmitt, L. A.; Molina-Luna, L.; Scherrer, M. C.; Brilz, M.; Webber, K. G.; Deluca, M.; Kleebe, H.; Rödel, J.; Donner, W.
den Engelsen, D.; Harris, P. G.; Ireland, T. G.; Fern, G.; Silver, J.
Shen, H. H.; Peng, S. M.; Chen, B.; Naab, F. N.; Sun, G. A.; Zhou, W.; Xiang, X.; Sun, K.; Zu, X. T.
Yoo, S. J.; Lee, J. -H.; Kim, C. -Y.; Kim, J. -G.
Gammer, C.; Ozdol, V. B.; Liebscher, C. H.; Minor, A. M.
Muntifering, B.; Kovarik, L.; Browning, N. D.; Pond, R. C.; Knowlton, W. B.; Müllner, P.
Lu, N.; Du, K.; Lu, L.; Ye, H. Q.
Boyes, E. D.; Gai, P. L.
Kovačič, S.; Mazaj, M.; Ješelnik, M.; Pahovnik, D.; Žagar, E.; Slugovc, C.; Logar, N. Z.
Ernenwein, D.; Vartanian, A. M.; Zimmerman, S. C.
Panciera, F.; Chou, Y. -C.; Reuter, M. C.; Zakharov, D.; Stach, E. A.; Hofmann, S.; Ross, F. M.
Szkudlarek, A.; Vaz, A. R.; Zhang, Y.; Rudkowski, A.; Kapusta, C.; Erni, R.; Moshkalev, S.; Utke, I.
Longo, P.; Thomas, P. J.; Aitouchen, A.; Rice, P.; Topuria, T.; Twesten, R. D.
Zhang, H.; Geng, J.; Ott, R. T.; Besser, M. F.; Kramer, M. J.
Ozdol, V. B.; Gammer,C.; Jin, X. G.; Ercius, P.; Ophus, C.; Ciston,J.; Minor, A. M.
Winkler, N.; Peterlechner, M.; Wilde, G.
Ringe, E.; DeSantis, C. J.; Collins, S. M.; Duchamp, M.; Dunin-Borkowski, R. E.; Skrabalak, S. E.; Midgley, P. A.
Ghosh, T.; Bardhan, M.; Bhattacharya, M.; Satpati, B.
Wang, X.; Wei, X.; Zhang, J.; Li, R.; Hua, M.; Wang, W.
Hwang, S.; Kim, S. M.; Bak, S-, M.; Kim. S. Y.; Cho, B-, W.; Chung, K. Y.; Lee, J. Y.; Stach, E. A.; Chang, W.
den Engelsen, D.; Harris, P. G.; Ireland, T. G.; Fern, G.; Silver, J.
Satoh, Y.; Abe, H.; Matsukawa, Y.; Matsunaga, T.; Kano, S.; Arai, S.; Yamamoto, Y.; Tanaka, N.
Mostafa, A. A.; Oudadesse, H.; El-Sayed, M. M. H.
Awan, S. U.; Hasanain, S. K.; Awan, M. S.; Shah, S. A.
Xiang, W. -D.; Gao, H. -H.; Ma, L.; Ma, X.; Huang, Y. -Y.; Pei, L.; Liang, X. -J.
Gedanken, A.; Kumar, V. B.; Porat, Z. I.; Kimmel, G.
Anand, G.; Barai, K.; Madhavan, R. Chattopadhyay, P. P.
Rabin, D.; Shneck, R. Z.; Rafailov, G.; Dahan, I.; Meshi, L.; Brosh, E.
Farahi, N.; Prabhudev, S.; Botton, G. A.; Zhao, J.; Tse, J. S.; Liu, Z.; Salvador, J. R.; Kleink, H.
Liu, X.; Wang, H.; Tu, B.; Wang, W.; Fu, Z.
Ristig, S.; Prymak, O.; Loza, K.; Gocyla, M.; Meyer-Zaika, W.; Heggen, M.; Raabe, D.; Epple, M.
Schmidt, F.; Pohl, D.; Schultz, l.; Rellinghaus, B.
Callisti, M.; Polcar, T.
Lee, C.; Park, H.; Yoo, J.; Lee, C.; Woo, W.C.; Park, S.
Chen, Y. -T.; Huang, T. -W.; Wang, C. -L.; Hsu, C. -S.
de Gabory, B.; Dong, Y.; Motta, A. T.; Marquis, E. A.
Menegazzo, F.; Signoretto, M.; Marchese, D.; Pinna, F.; Manzoli, M.
Chang, S. L.; Dwyer, C.; Boothroyd, C. B.; Dunin-Borkowski, R. E.
Drev, S.; Komelj, M.; Mazaj, M.; Daneu, N.; Rečnik, A.
de Lima, J. F.; Harunsani, M. H.; Martin, D. J.; Kong, D.; Dunne, P. W.; Gianolio, D.; Kashtiban, R. J.; Sloan, J.; Serra, O. A.; Tang, J.; Walton, R. I.
Nanda, K. K.; Swain, S.; Satpati, B.; Besra, L.; Mishra, B.; Chaudhary, Y. S.
Kahl, S.; Peng, R. L.; Johansson, S.
Kameche, F.; Ngo, A-, T.; Salzemann, C.; Cordeiro, M.; Sutter, E.; Petit, C.
Paeng, D.; Lee, D.; Yeo, J.; Yoo, J. -H.; Allen, F. I.; Kim, E.; So, H.; Park, H. K.; Minor, A. M.; Grigoropoulos, C. P.
Nogita, K.; Tran, X. Q.; Yamamoto, T.; Tanaka, E.; McDonald, S. D.; Gourlay, C. M.; Yasuda, K.; Matsumura, S.
Lu, P.; Liu, H.; Yuan, X.; Xu, F.; Shi, X.; Zhao, K.; Qiu, W.; Zhang, W.; Chen, L.
Cui, Y.; Huang, P.; Wang, F.; Lu, T. J.; Xu, K. W.
Gandman, M.; Kauffmann, Y.; Kaplan, W. D.
Mukai, M.; Okunishi, E.; Ashino, M.; Omoto, K.; Fukuda, T.; Ikeda, A.; Somehara, K.; Kaneyama, T.; Saitoh, T.; Hirayama, T.; Ikuhara, Y.
Ueno, Y.; Mine, S.; Kawasaki, K.
Seita, M.; Hanson, J. P.; Gradečak, S.; Demkowicz, M. J.
Seita, M.; Hanson, J. P.; Gradečak, S.; Demkowicz, M. J.
Liu, J. F.; Yang, Z. Q.; Ye, H. Q.
Pantzas, K.; Patriarche, G.; Troadec, D.; Kociak, M.; Cherkashin, N.; Hÿtch, M.; Barjon, J.; Tanguy, C.; Rivera, T.; Suresh, S.; Ougazzaden, A.
Ampong, F. K.; Awudza, J. A. M.; Nkum, R. K.; Boakye, F.; Thomas, P. J.; O'Brien, P.
Liu, J.; Yang, Z.; Ye, H.
Wu, G. L.; Ubhi. H. S.; Petrenec, M.; Jensen, D. J.;
King, D.; Middleburgh, S. C.; Liu, A. C. Y.; Cortie, M. B.
Silver, J.; Yan, X.; Fern, G. R.; Wilkinson, N.
Pattinson, S. W.; Viswanath, B.; Zakharov, D. N.; Li, J.; Stach, E. A.; Hart, A. J.
Holder, K. M.; Huff, M. E.; Cosio, M. N.; Grunlan, J. C.
Antou, G.; Guyot, P.; Pradeilles, N.; Vandenhende, M.; Maître, A.
Borges, J.; Buljan, M.; Sancho-Parramon, J.; Bogdanovic-Radovic, I.; Siketic, Z.; Scherer, T.; Kübel, C.; Bernstorff, S.; Cavaleiro, A.; Vaz, F.; Rolo, A. G.
Basak, S.
Bachmaier, A.; Aboulfadl, H.; Pfaff, M.; Mücklich, F.; Motz, C.
Pawar, S.; Zhou, X.; Hashimoto, T.; Thompson, G. E.; Scamans, G.; Fan, Z.
Gali, O. A.; Riahi, A. R.; Alpas, A. T.
Rajput, N. S.; Tong, Z.; Luo, X.
Hueso, J. L.
Zhou, D.; Sigle, W.; Okunishi, E.; Wang, Y.; Kelsch, M.; Habermeier, H. -U.; van Aken, P. A.
McKeown, J. T.; Wu, Y.; Fowlkes, J. D.; Rack, P. D.; Campbell, G. H.
Azough, F.; Kepaptsoglou, D. M.; Ramasse, Q. M.; Schaffer, B.; Freer, R.
Galstyan, E.; Gharacheshmeh, H. M.; Delgado, L.; Xu, A.; Majkic, G.; Selvamanickam, V.
Zhang, H.; Lu, L.; Kawashima, K.; Okumura, M.; Haruta, M.; Toshima, N.
Mølgaard, M. P.; Hansen, T. W.; Birkedal, W. J.; Degn, J. A.
Mortensen, P. M.; Hansen, T. W.; Wagner, J. B.; Jensen, A. D.
Ono, K.; Miyamoto, M.; Hasuike, S.; Nakano, T.; Kurata, H.
Dalui, A.; Thupakula, U.; Khan, A. H.; Ghosh, T.; Satpati, B.; Acharya, S.
Gulec, A.; Klie, R. F.
Roache, F. J. M.; Radjainia, M.; Williams, D. E.; Gerrard, J. A.; Travas-Sejdic, J.; Malmstrӧm, J.
Forbes, B. D.; Houben, L.; Mayer, J.; Dunin-Borkowski, R. E.; Allen, L. J.
Eftink, B. P.; Mara, N. A.; Kingstedt, O. T.; Safarik, D. J.; Lambros, J.; Robertson, I. M.
Ringe, E.; Collins, S. M.; DeSantis, C. J.; Skrabalak, S. E.; Midgley, P. A.
Kim, Y.; Namgung, H.; Kim, Y.; Jang, G.; Lee, T. S.
Calderon-Moreno, J. M.; Vasilescu, C.; Drob, S. I.; Ivanescu, S.; Osiceanu, P.; Drob, P.; Popa, M.; Silviu Preda, S.; Vasilescu, E.
Li, X.; Ge, B.; Li, F.; Luo, H.; Wen, H.
Sousa, A. M. M., Gonçalves, M. P.
Cabello, S. D. P.; Mollá, S.; Ochoa, N. A.; Marchese, J.; Giménez, E.; Compañ, V.
Degueldre, C.; Alekseev, E.
Tizei, L. H. G.; Liu, Z.; Koshino, M.; Iizumi, Y.; Okazaki, T.; Suenaga, K.
Maher, P. G.; Auty, M. A. E.; Roos, Y. H.; Zychowski, L. M.; Fenelon, M. A.
Nakamura, T.; Hiyoshi, N.; Hayashi, H.; Ebina, T.
Haberfehlner, G.; Orthacker, A.; Albu, M.; Li, J.; Kothleitner, G.
Krivanek, O. L.; Lovejoy, T. C.; Dellby, N.; Aoki, T.; Carpenter, R. W.; Rez, P.; Soignard, E.; Zhu, J.; Batson, P. E.; Lagos, M. J.; Egerton, R. F.; Crozier, P. A.
Schmitt, L. A.; Kungl, H.; Hinterstein, M.; Riekehr, L.; Kleebe, H. -J.; Hoffmann, M. J.; Eichel, R. -A.; Fuess, H.
Müllner, T.; Zankel, A.; Svec, F.; Tallarek, U.
Gremenok, V. F.; Ivanov, V. A.; Izadneshan, H.; Lazenka, V. V.; Bakouie, A.
Wang, M. J.; Yang, H.; Zhang, Q. L.; Lin, Z. S.; Zhang, Z. S.; Yu, D.; Hu, L.
Kumar, S.; Tessarek, C.; Sarau, G.; Christiansen, S.; Singh, R.
Zhao, P.; Hao, J.
Fabbri, F.; Rossi, F.; Lagonegro, P.; Negri, M.; Ponraj, J. S.; Bosi, M.; Attolini, G.; Salviati, G.
Hong, S.; Schaber, C. F.; Dening, K.; Appel, E.; Gorb, S. N.; Lee, H.
Guitton, A.; Joulain, A.; Thilly, L.; Tromas, C.
Moraes, J.; Ohno, K.; Maschmeyer, T.; Perrier, S.
Taha-Tijerina, J.; Venkataramani, D.; Aichele, C. P.; Tiwary, C. S.; Smay, J. E.; Mathkar, A.; Chang, P.; Ajayan, P. M.
Muto, S. Sato, K.; Ishikawa, Y.; Bosman, M.; Ishii, Y.; Kawasaki, S.
Nagase, T.; Suzuki, M.; Tanaka, T.
Kumar, I.; Khare, A.
Wang, J.; Zhang, F.; Zhang, J.; Ewing, R. C.; Becker, U.; Cai, Z.
Marrow, T. J.; Mostafavi, M.; Hashimoto, T.; Thompson, G. E.
Marrow, T. J.; Mostafavi, M.; Hashimoto, T.; Thompson, G. E.
Liao, H. G.; Zherebetskyy, D.; Xin, H.; Czarnik, C.; Ercius, P.; Elmlund, H.; Pan, M.; Wang, L. W.; Zheng, H.
Marincel, D. M.; Zhang, H.; Kumar, A.; Jesse, S.; Kalinin, S. V.; Rainforth, W. M.; Reaney, I. M.; Randall, C. A.; Trolier-McKinstry, S.
Hughes, A. E.; Trinchi, A.; Chen, F. F.; Yang, Y. S.; Cole, I. S.; Sellaiyan, S.; Carr, J.; Lee, P. D.; Thompson, G. E.; Xiao, T. Q.
Donius, A. E.; Obbard, R. W.; Burger, J. N.; Hunger, P. M.; Baker, I.; Doherty, R. D.; Wegst, U. G. K.
Kitta, M.; Akita, T.; Tanaka, S.; Kohyama, M.
Zankel, A.; Wagner, J.; Poelt, P.
Zhu, X. Q.; Feng, Q.; Liu , D. Z.; Nie, A. M.; Liu, J. B.; Zhang, X. B.; Geng, L. M.
Chen, B.; Hashimoto, T.; Vergeer, F.; Burgess, A.; Thompson, G.; Robinson, I.
Chen, B.; Hashimoto, T.; Vergeer, F.; Burgess, A.; Thompson, G.; Robinson, I.
Mu, X.; Sigle, W.; Bach, A.; Fischer, D.; Jansen, M.; van Aken, P. A.
Racek, J.; Sittner, P.; Heller, L.; Pilch, J.
Gludovatz, B.; Naleway, S. E.; Ritchie, R. O.; Kruzic, J. J.
Akita, T.; Tabuchi, M.; Nabeshima, Y.; Tatsumi, K.; Kohyama, M.
Hughes, A. E.; Trinchi, A.; Chen, F. F.; Yang, Y. S.; Cole, I. S.; Sellaiyan, S.; Carr, J.; Lee, P. D.; Thompson, G. E.; Xiao, T. Q.
Brons, J. G.; Thompson, G. B.
Bocker, C.; Kouli, M.; Völksch, G.; Rüssel, C.
Wang, Y.; Guo, Z.; Ma, R.; Hao, G.; Zhang, Y.; Lin, J.; Sui, M.
Oertel, T.; Hutter, F.; Helbig, U.; Sextl, G.
Goulden, J.; Othen, N.; Gholinia, A.
Dalili, N.; Li, P.; Kupsta, M.; Liu, Q.; Ivey, D. G.
Petrenec, M.; Polák, J.; Šamořil, T.; Dluhoš, J.; Obrtlík, K.
Kahl, S.; Peng, R. L.; Calmunger, M.; Olsson, B.; Johansson, S.
Gil, S.; Cuenca, N.; Romero, A.; Valverde, J. L.; Sánchez-Silva, L.
Walters, C. C.; Kliewer, C. E.; Awwiller, D. N.; Rudnicki, M. D.;Passey, Q. R.; Lin, M. W.
Reduction and immobilization of hexavalent chromium by microbially reduced Fe-bearing clay materials
Bishop, M. E.; Glasser, P.; Dong, H.; Arey, B. W.; Kovarik, L.
Gai, P. L.; Lari, L.; Ward, M. R.; Boyes, E. D.
Parlak, O.; Turner, A. P.; Tiwari, A.
Kociak, M,; Stéphan, O.; Gloter, A.; Zagonel, L. F.; Tizei, L. H. G.; Tencé, M.; March, K.; Blazit, J. D.; Mahfoud, Z.; Losquin, A.; Meuret, S.; Colliex, C.
Betts, C.; Balint, D.; Lin, J.
Hickey, R. J.; Koski, J.; Meng, X.; Riggleman, R. A.; Zhang, P.; Park, S. J.
Watanabe, S.; Kinoshita, M.; Hosokawa, T.; Morigaki, K.; Nakura, K.
Chen, D.; Friedrich, H.; de With, G.
Feng, Z. Q.; Yang, Y. Q.; Chena, Y. X.; Huang, B.; Fu, M. S.; Li, M. H.; Ru, J. G.
Trueman, A.; Knight, S.; Colwell, J.; Hashimoto, T.; Carr, J.; Skeldon, P.; Thompson, G.
Battaile, C. C.; Boyce, B. L.; Brons, J. G.; Foiles, S. M.; Hattar, K. A.; Holm, E. A; Padilla, H. A.; Sharon, J. A.; Thompson, G. B.
Marris, H.; Deboudt, K.; Flament, P.; Grobéty, B.; Gieré, R.
Kitta, M.; Akita, T.; Tanaka, S.; Kohyama, M.
Kim, J. M.; Kim, Y.; Shim, J. H.; Lee, Y. S.; Suh, J. Y.; Ahn, J. P.; Kim, G. H.; Cho, Y. W.
Li, L.; Wang, L.; Johnson, D. D.; Zhang, Z.; Sanchez, S. I.; Kang, J. H.; Nuzzo, R. G.; Wang, Q.; Frenkel, A. I.; Li, J.; Ciston, J.; Stach, E. A.; Yang, J. C.
Hashimoto, T.; Thompson, G. E.; Curioni, M.; Zhou, X. R.; Skeldon, P.
Dwyer, L.; Robson, J.; da Fonseca, J. Q.; Kamp, N.; Hashimoto, T.; Thompson, G. E.
Häussler, D.; Houben, L.; Essig, S.; Kurttepeli, M.; Dimroth, F.; Dunin-Borkowski, R. E.
Vargas, G. E.; Haro Durand, L. A.; Cadena, V.; Romero, M.; Mesones, R. V.; Mačković, M.; Spallek, S.; Spiecker, E.; Boccaccini, A. R.; Gorustovich, A. A.
Kai, X.; Zhiqiang Li, Z.; Genlian Fan, G.; Guo, Q.; Tan, Z.; Zhang, W.; Su, Y.; Weijie Lu, W.; Moon, W. J.; Zhang, D.
Sánchez-Santolino, G.; Tornos, J.; Bruno, F. Y.; Cuellar, F. A.; Leon, C.; Santamaría, J.; Pennycook, S. J.; Varela, M.
Thorel, A.; Ciston, J.; Bartel, T.; Song. C. Y.; Dahmen, U.
Klimenkov M.; Möslang A.; Materna-Morris, E.
Matsushima, H.; Suzuki, T.; Nokuo, T.
Zychma, A.; Wansing, R.; Schott, V.; Köhler, U.; Wöll, C.; Muhler, M.; Birkner, A.
Gandman, M.; Kauffmann, Y.; Koch, C. T.; Kaplan, W. D.
Thompson, G. E.; Hashimoto, T.; Zhong, X. L.; Curioni, M.; Zhou, X.; Skeldon, P.; Withers, P. J.; Carr, J. A.; Monteith, A. G.
Bak, S.; Nam, K.; Chang, W.; Yu, x.; Hu, E.; Hwang, S.; Stach, E. A.; Kim, K.; Chung, K. Y.; Yang, X.
Mu, X.; Neelamraju, S.; Sigle, W.; Koch, C. T.; Totò, N.; Schön, J. C.; Bach, A.; Fischer, D.; Jansen, M.; van Aken, P. A.
Chen, B.; Guizar-Sicairos,M.; Xiong,G.; Shemilt, L.; Diaz, A.; Nutter, J.; Burdet,N.; Huo,S.; Mancuso, J.; Monteith,A.; Vergeer,F.; Burgess,A.; Robinson, I.
Tang, W.; Picraux, S. T.; Huang, J. H.; Liu, X.; Tu, K. N.; Dayeh, S. A.
Wisniewski, W.; Bocker, C.; Kouli, M.; Nagel, M.; Rüssel, C.
Lyubutin, I. S.; Lin, J. F.; Gavriliuk, A. G.; Mironovich, A. A.; Ivanova, A. G; Roddatis, V. V.; Vasiliev, A. L.
Hasegawa, Y.; Okamoto, N. L.; Inui, H.
Ampelli, C.; Passalacqua, R.; Genovese, C.; Perathoner, S.; Centi, G.; Montini, T.; Gomba, V.; Jaen, J. J. D.; Fornasiero, P.
Nishimoto, K.; Sato, T.; Tamura, R.
Clark, L.; Oró-Solé, J.; Knight, K. S.; Fuertes, A.; Attfield, J. P.
Wang, M. S.; Hanson, J. P.; Gradečak, S.; Demkowicz, M. J.
Okamoto, N. L.; Hasegawa, Y.; Hashimoto, W.; Inui, H.
Pennycook, S. J.
Eggeman, A. S.; Barnard, J. S.; Midgley, P. A.
Müllner, T.; Zankel, A.; Mayrhofer, C.; Reingruber, H.; Höltzel, A.; Lv, Y.; Svec, F.; Tallarek, U.
Jeangros, Q.; Hansen, T. W.; Wagner, J. B.; Damsgaard, C. D.; Dunin-Borkowski, R. E.; Hébert, C.; Van herle, J.; Hessler-Wyser, A.
Hashimoto, T.; Curioni, M.; Zhou, X.; Mancuso, J.; Skeldon, P.; Thompson, G. E.
Longo, P.; Twesten, R.
Wang, F.; Yu, H. C.; Chen, M. H.; Wu, L.; Pereira, N.; Thornton, K.; Van der Ven, A.; Zhu, Y.; Amatucci, G. G.; Graetz, J.
Collins, S. E.; Delgado, J. J.; Mira, C.; Calvino, J. J.; Bernal, S. B.; Chiavassa, D. L.; Baltanás, M. A.; Bonivardi, A. L.
Matsukawa, Y.; Liu, G. S.
Cojocaru, V. D.; Raducanu, D.; Cinca, I.; Vasilescu, E.; Drob, P.; Vasilescu, C.; Drob, S. I.
Yu, B.; Liu, W.; Chen, S.; Wang, H.; Wang, H.; Chen, G.; Ren, Z.
Liu, H.; Shi, X.; Xu, F.; Zhang, L.; Zhang, W.; Chen, L.; Li, Q.; Uher, C.; Day, T.; Snyder, G. J.
La Torre, A.; Fay, M. W.; Rance, G. A.; Gimenez-Lopez, M. d. C.; Solomonsz, W. A.; Brown, P. D.; Khlobystov, A. N.
Huang, R.; Ikuhara, Y.
High-resolution in situ and ex situ TEM studies on graphene formation and growth on Pt nanoparticles
Penga, Z.; Somodia, F.; Helveg, S.; Kisielowski, C.; Specht, P.; Bell, A. T.
Yurtsever, A.; van der Veen, R. M.; Zewail, A. H.
Cordeiro, M. A. L.; Crozier, P. A.; Leite, E. R.
Yoon, S. W.; Seo, J. H.; Seong, T. Y.; Yu, T. H.; You, Y. H.; Lee, K. B.; Kwon, H.; Ahn, J. P.
Majidi, H.; Winkler, C. R.; Taheri, M. L.; Baxter, J. B.
Shao, Z.
Fay, M. W.; La Torre, A.; Khlobystov, A. N.; Brown, P. D.
Cosandeya, F.; Suc, D.; Sinaa, M.; Pereiraa, N.; Amatuccia, G. G.
Nie, A.; Wang, H.
Motskin, M.; Müller, K. H.; Genoud, C.; Monteith, A. G.; Skepper, J. N.
Nemcsics, Á.; Heyn, Ch.; Tóth, L.; Dobos, L.; Stemmann, A.; Hansen, W.
Dieterle, L.;Butz, B.; Müller, E.
Chang, H.; Yoon, S.; Seong, T.; Yu, T.; Yuo, Y.; Ahn, J.
Tahara, M.; Kim, H. Y.; Inamura, T.; Hosoda, H.; Miyazaki, S.
Hong, X.; Luo, Z.; Batteas, J. D.
Lari, L.; Walther, T.; Gass, M.H.; Geelhaar, L.;Chèze, C.; Riechert, H.; Bullough, T. J.; Chalker, P. R.
Pérez, H.; Navarro, P.; Delgado, J. J.; Montes, M.
Ciston, J.; Si, R.; Rodriguez, J. A.; Hanson, J. C.; Martinez-Arias, A.; Fernandez-Garcia, M.; Zhu, Y.
Koku, H.; Maier, R. S.; Czymmek, K. J.; Schure, M. R.; Lenhoff, A. M.
Reingruber, H.; Zankel, A.; Mayrhofer, C.; Poelt, P.
Aronova, M. A.; Sousa, A. A.; Leapman, R. D.
Wang, L.; Strangwood, M.; Balint, D.; Lin, J.; Dean, T. A.
Janbroers, S.: Crozierc, P. A.; Zandbergen, H. W.; Kooyman, P. J.
Crozier, P. A.; Chenna, S.
Wikberg, J. M.; Knut, R.; Bhandary, S.; di Marco, I.; Ottosson, M.; Sadowski, J.; Sanyal, B.; Palmgren, P.; Tai, C. W. ; Eriksson, O.; Karis, O.; Svedlindh, P.
Bach, A.; Fischer, D.; Mu, X.; Sigle, W.; van Aken, P. A.; Jansen, M.
Schamm-Chardon, S.; Coulon, P.E.; Lamagna, L.; Wiemer, C.; Baldovino, S.; Fanciulli, M.
Lee, H. S.; Lee, Y. S.; Suh, J. Y.; Kim, M.; Yu, J. S.; Cho, Y. W.
Low-temperature structural stability of Cd6 M (M = Ho, Er, Tm and Lu) cubic crystalline approximants
Nishimoto, K.; Sato, T.; Muraki, M.; Tamura, R.
Inceesungvorn, B.; López-Castro, J.; Calvino, J. J.; Bernal, S.; Meunier, F. C.; Hardacre, C.; Griffin, K.; Delgado, J. J.
de la Peña, F.; Berger, M. H.; Hochepied, J. F.; Dynys, F.; Stephan, O.; Walls, M.
Arora, H.; Du, P.; Tan, K. W.; Hyun, J. K.; Grazul, J.; Xin, H. L.; Muller, D. A.; Thompson, M. O.; Wiesner, U.
Ganesh, K. J.; Kawasaki, M.; Zhou, J. P.; Ferreira, P. J.
Krivanek, O. L.; Dellby, N.; Murfitt, M. F.; Chisholm, M. F.; Pennycook, T. J.; Suenaga, K.; Nicolosi, V.
Schierning, G.; Theissmann, R.; Acet, M.; Hoelzel, M.; Gruendmayer, J.; Zweck, J.
van Schooneveld, M. M.; Gloter, A.; Stephan, O.; Zagonel, L. F.; Koole, R.; Meijerink, A.; Mulder W. J. M.; de Groot, F. M. F.
Irifune, T.; Shinmei, T.; McCammon, C. A.; Miyajima, N.; Rubie, D. C; Frost, D. J.
Cao, F.; Beyerlein, I. J.; Addessio, F. L.; Sencer, B. H.; Trujillo, C. P.; Cerreta, E. K.; Gray III, G. T.
Wu, C. T.; Chu, M. W.; Chen, L. C.; Chen, K. H.; Chen, C. W.; Chen, C. H.
Insights into the nature of iron-based Fischer-Tropsch catalysts from quasi in-situ TEM-EELS and XRD
Janbroers, S.; Louwen, J. N.; Zandbergen, H. W.; Kooyman, P. J.
Servanton, G.; Pantel, R.
Tanaka, K.; Miwa, T.; Sasaki, K.; Kuroda, K.
Maigne, A.; Twesten, R. D.
Jarausch, K.; Thomas, P.; Leonard, D. N.; Twesten, R.; Booth, C. R.
Zankel, A.; Kraus, B.; Poelt, P.; Schaffer, M.; Ingolic, E.
Feldhoff, A.; Arnold, M.; Martynczuk, J.; Gesing, Th. M.; Wang, H.
Porcu, M.; Petford-Long, A. K.; Sykes, J. M.
Simonsen, S. B.; Dahl, S.; Johnson, E.; Helveg, S.
Stöger-Pollach, M.
Yamada, T.; Maigne, A.; Yudasaka, M.; Mizuno, K.; Futaba, D. N.; Yumura, M.; Iijima, S.; Hata, K.
Kuykendall, T.; Ulrich, P.; Aloni, S.; Yang, P.
Arenal, R.
Dohi, H.; Horiuchi, S.
Blackford, M. G.; Hanna, J. V.; Pike, K. J.; Vance, E. R.; Perera, D. S.
Perera, D. S.; Cashion, J. D.; Blackford, M. G.; Zhang, Z.; Vance, E. R.
Tok, A. I. Y.; Boey, F. Y. C.; Zhao, X. L.
Jinschek, J. R.; Erni, R.; Gardner, N. F.; Kim, A. Y.; Kisielowski, C.
Horiuchi, S.; Dohi, H.
Yaicle, C.; Fauth, F.; Martin, C.; Retoux, R.; Jirak, Z.; Hervieu, M.; Raveau, B.; Maignan, A.
Horiuchi, S.; Yin, D.; Ougizawa, T.
Gloter, A.; Zbinden, M.; Guyot, F.; Gaill, F.; Colliex, C.
Meyers, J. S.; Chumbley, S.; Laabs, F.; Pecharsky, A. O.
Borckt, G.; Lakner, H.
Bardal, A.; Lie, K.
Longo, D. M.; Howe, J. M.; Johnson, W. C.
Longo, D. M.; Howe, J. M.; Johnson, W. C.
Winner of the 2015 Microscopy Today Innovation Award. The ONE camera to capture 16 MP images and video in all your TEM applications.
The only fully integrated hybrid-pixel electron detector with the Gatan Microscopy Suite software for advanced electron diffraction studies.
Broad argon ion beam system designed to polish and coat samples for SEM imaging and analytical techniques.
DigitalMicrograph, also known as Gatan Microscopy Suite, drives your digital cameras and surrounding components to support key applications including tomography, in-situ, spectrum and diffraction imaging, plus more.
Gatan’s latest CMOS camera that with its resolution, speed, and ease of use will revolutionize electron microscopy.
A powerful tool that adds 4D STEM diffraction capabilities to your existing Gatan in-situ camera.
The next-generation plasma tool to remove hydrocarbon contamination from TEM and SEM samples and holders.
High-angle annular dark field (HAADF), annular dark field (ADF) plus bright and dark field (BF/DF) detectors for STEM imaging optimized for electron energy loss spectroscopy (EELS).
A powerful method of obtaining detailed analytic data from a sample on an electron microscope equipped with scanning mode.
Simulation tool to eliminate the guesswork from your EELS and EFTEM compositional mapping experiments.
Single and double tilt heating holders for direct observation of micro structural phase changes, nucleation, growth, and dissolution processes.
Digital beam control and image processing to enhance the photographic quality of your digital images.
Quantify microstructural changes in materials due to applied mechanical loading.
Preserve sample integrity with controlled transfer from an inert environment to the TEM.
Diffraction analysis package (DIFPACK) to automate the selection area of your electron diffraction (SAED) patterns and high resolution lattice images of crystalline samples.
Facilitate your HREM assays by automatically adjusting the critical imaging parameters of a TEM microscope focus, stigmation, and beam tilt.
Enabling optically-coupled transmission electron microscopy to reveal nanoscale structural, optical, and electronic properties
The high-performance scintillator camera that elevates your everyday transmission electron microscopy
Combines the intuitive workflow of the APEX software platform with the analytical power of wavelength dispersive spectrometry (WDS) to provide the ultimate resolution and trace element analysis to users of all levels.
The premier microstructural visualization and analysis tool for interrogating and understanding electron backscatter diffraction (EBSD) mapping data.
Enables the characterization of electron backscatter diffraction (EBSD) patterns within the user-friendly APEX software platform.
Premier software program for collecting and analyzing energy dispersive spectroscopy (EDS) data and the compositional characterization of materials.
Combines the latest advances in energy dispersive spectroscopy (EDS), electron backscatter diffraction (EBSD), and wavelength dispersive spectrometry (WDS) in a single analytical tool.
A world-class materials characterization solution that provides users with elemental composition and crystallographic orientation results in one easy-to-use package.
By integrating energy dispersive spectroscopy (EDS) and wavelength dispersive spectrometry (WDS) analytical techniques on a single platform, EDAX Neptune provides the power and flexibility of EDS with the resolution, precision, and detection limits of WDS.
Combines the EDAX wavelength dispersive spectrometry (WDS) analysis software with state-of-the-art spectrometers for improved accuracy and precision, guaranteeing the best results for your materials analysis.
Offers high-speed electron backscatter diffraction (EBSD) mapping with the best indexing performance on real-world materials.
The world’s first and only commercially available electron backscatter diffraction (EBSD) detector with unparalleled performance as low as 3 kV.
The game-changing advancements in the Octane Elite silicon drift detectors (SDDs) take energy dispersive spectroscopy (EDS) analysis to the next level.
An enhanced energy dispersive spectroscopy (EDS) platform with the latest silicon drift detector (SDD) technology and high-speed electronics advancements.
Delivers powerful energy dispersive spectroscopy (EDS) analytical capability in a compact package, maximizing performance and flexibility while providing streamlined operation to guarantee fast results and ease of use.
Cipher® – The first and only system that quantitatively reveals the distribution of lithium in scanning electron microscopes
The cutting-edge counting camera for groundbreaking imaging, diffraction, and in-situ studies.
The best-in-class imaging filter for cryo-EM is now available with EELS and EFTEM.
Electron counting for all your EELS, EFTEM, and energy-filtered 4D STEM applications.
The most intuitive and easy-to-use analytical tool for (scanning) transmission electron microscope (STEM) applications.