Better understand material complexities and failures to shrink geometries, industrialize novel 3D architectures and to improve device performance.
Read more...
Be confident you can reproducibly prepare then measure structural changes in soft materials that induce stresses and strain within transition metals, affect electronic conductivities, and lead to irreversible phase transformations that decrease your product’s energy output.
Read more...
Han, L.; Addiego, C.; Prokhorenko, S.; Wang, M.; Fu, H.; Nahas, Y.; Yan, X.; Cai, S.; Wei, T.; Fang, Y.; Liu, H.; Ji, D.; Guo, W.; Gu, Z.; Yang, Y.; Wang, P.; Bellaiche, L.; Chen, Y.; Wu, D.; Nie, Y.; Pan, X.
Kim, S. C.; Huang, W.; Zhang, Z.; Wang, J.; Kim, Y.; Jeong, Y. K.; Oyakhire, S. T.; Yang, Y.; Cui, Y.
Kim, M. S.; Zhang, Z.; Rudnicki, P. E.; Yu, Z.; Wang, J.; Wang, H.; Oyakhire, S. T.; Chen, Y.; Kim, S. C.; Zhang, W.; Boyle, D. T.; Kong, X.; Xu, R.; Huang, Z.; Huang, W.; Bent, S. F.; Wang, L. -W.; Qin, J.; Bao, Z.; Cui , Y.
Yu, Z.; Rudnicki, P. E.; Zhang, Z.; Huang, Z.; Celik, H.; Oyakhire, S. T.; Chen, Y.; Kong, X.; Kim, S. C.; Xiao, X.; Wang, H.; Zheng, Y.; Kamat, G. A.; Kim, M. S.; Bent, S. F.; Qin, J.; Cui, Y.; Bao, Z.
Sharangi, P.; Pandey, E.; Mohanty,S.; Nayak, S.; Bedanta, S.
Zaccagnini, P.; Ballin, C.; Fontana, M.; Parmeggiani, M.; Bianco, S.; Stassi, S.; Pedico, A.; Ferrero, S.; Lamberti, A.
Liting Yang, L.; Li, X.; Pei, K.; You, W.; Liu, X.; Xia, H.; Wang, Y.; Che, R.
Behera, P.; May, M. A.; Gómez-Ortiz, F.; Susarla, S.; Das, S.; Nelson, C. T.; Caretta, L.; Hsu, S. -L.; McCarter, M. R., Savitzky, B. H.; Barnard, E. S.; Raja, A.; Hong, Z.; García-Fernandez, P.; Lovesey, S. W.; van der Laan, G.; Ophus, C.; Martin, L. W.; Junquera, J.; Raschke, M. A.; Ramesh, R.
Giusto, P.; Cruz, D.; Heil, T.; Tarakina, N.; Patrini, M.; Antonietti, M.
Murthy, A. A.; Stanev, T. K.; Ribet, S. M.; Liu, P.; Watanabe, K.; Taniguchi, T.; Stern, N. P.; dos Reis, R.; Dravid, V. P.
Balch, H. B., Evans, A. M., Dasari, R. R., Li, H., Li, R., Thomas, S., Wang, Q., Bisbey, R. P., Slicker, K., Castano, I., Xun, S., Jiang, L., Zhu, C., Gianneschi, N., Ralph, D. C., Brédas, J-L., Marder, S. R., Dichtel, W. R., Wang, F.
Zhang, Z.; Yang, J.; Huang, W.; Wang, H.; Zhou, W.; Li, Y.; Li, Y.; Xu, J.; Huang, W.; Chiu, W.
Li, H. -K.; de Souza, J. P.; Zhang, Z.; Martis, J.; Sendgikoski, K.; Cumings, J.; Bazant, M. Z.; Majumdar, A.
Fang, C.; Li, J.; Zhang, M.; Zhang, Y.; Yang, F.; Lee, J. Z.; Lee, L. M. -H.; Alvarado, J.; Schroeder, M. A.; Yang, Y.; Lu, B.; Williams, N.; Ceja, M.; Yang, L.; Cai, M.; Gu, J.; Xu, K.; Wang, X.; Meng, Y. S.
Pan, J.; Chen, S.; Fu, Q.; Sun, Y.; Zhang, Y.; Lin, N.; Gao, P.; Yang, J.; Qian, Y.
Pan, J.; Chen, S.; Zhang, D.; Xu, X.; Sun, Y.; Tian, F.; Gao, P.; Yang, J.
Yasin, F. S.; Harvey, T. R.; Chess, J. J.; Pierce, J. S.; Ophus, C.; Ercius, P.; McMorran, B. J.
Gammer, C.; Ophus, C.; Pekin, T. C.; Eckert, J.; Minor, A. M.
DigitalMicrograph,或称为 Gatan Microscopy Suite,驱动您的电子相机和其他附件以支持一系列重要应用,包括断层扫描、原位、谱学和衍射成像等。
Enabling optically-coupled transmission electron microscopy to reveal nanoscale structural, optical, and electronic properties
EDAX Octane Elite SDD 的进展将探测器技术提升至一个全新高度。此系列探测器采用了新型氮化硅 (Si3N4) 窗口,使轻元素检测和低 kV 微区分析中的低能段灵敏度有了显著改善。
EDAX首次推出的商用电子背散射衍射 (EBSD) 检测器,具有极高灵敏度,探测电压能可至 3 kV 。 这种直接检测系统非常适合使用传统 EBSD 系统难以分析的电子束敏感钙钛矿、陶瓷或半导体材料。
Premier software program for collecting and analyzing energy dispersive spectroscopy (EDS) data and the compositional characterization of materials.
Enables the characterization of electron backscatter diffraction (EBSD) patterns within the user-friendly APEX software platform.
The premier microstructural visualization and analysis tool for interrogating and understanding electron backscatter diffraction (EBSD) mapping data.
The first and only system that quantitatively reveals the distribution of lithium in scanning electron microscopes