Be confident you can reproducibly prepare then measure structural changes in soft materials that induce stresses and strain within transition metals, affect electronic conductivities, and lead to irreversible phase transformations that decrease your product’s energy output.
Read more...
Better understand material complexities and failures to shrink geometries, industrialize novel 3D architectures and to improve device performance.
Read more...
The team at Electron Microscopy Group in Nano-Materials Research Institute of AIST aims to realize the characterization of nano-materials at a single atomic level...
Griffiths, J. T.; Zhang, S.; Rouet-Leduc, B.; Fu, W. Y.; Bao, A.; Zhu, D.; Wallis, D. J.; Howkins, A.; Boyd, I.; Stowe, D.; Kappers, M. J.; Humphreys; C.J.; Oliver, R. A.
Murthy, A. A.; Stanev, T. K.; Ribet, S. M.; Liu, P.; Watanabe, K.; Taniguchi, T.; Stern, N. P.; dos Reis, R.; Dravid, V. P.
Zhang, Z.; Yang, J.; Huang, W.; Wang, H.; Zhou, W.; Li, Y.; Li, Y.; Xu, J.; Huang, W.; Chiu, W.
Li, H. -K.; de Souza, J. P.; Zhang, Z.; Martis, J.; Sendgikoski, K.; Cumings, J.; Bazant, M. Z.; Majumdar, A.
Adikimenakis, A.; Chatzopoulou, P.; Dimitrakopulos, G. P.; Kehagias, Th.; Tsagaraki, K.; Androulidaki, M.; Doundoulakis, G.; Kuzmik, J.; Georgakilas, A.
Spende, H.; Margenfeld, C.; Meyer, T.; Clavero, I. M.; Bremers, H.; Hangleiter, A.; Seibt, M.; Waag, A.; Bakin, A.
Chao Zhang, C.; Firestein, K. L.; Fernando, J. F. S.; Siriwardena, D.; von Treifeldt, J. E.; Golberg, D.
Fang, C.; Li, J.; Zhang, M.; Zhang, Y.; Yang, F.; Lee, J. Z.; Lee, L. M. -H.; Alvarado, J.; Schroeder, M. A.; Yang, Y.; Lu, B.; Williams, N.; Ceja, M.; Yang, L.; Cai, M.; Gu, J.; Xu, K.; Wang, X.; Meng, Y. S.
Lotnyk, A.; Dankwort, T.; Hilmi, I.; Kienle, L.; Rauschenbach, B.
Olsen, V. S.; Bazioti, C.; Baldissera, G.; Azarov, A.; Prytz, Ø.; Persson, C.; Svensson, B. G.; Kuznetsov, A. Y.; Vines, L.
Lai, Z.; Bi, P.; Wen, L.; Xue, Y.; Jin, Y.
Almadoria, Y.; Delport, G.; Chambard, R.;Orcin-Chaix, L.; Selvati, A. C.; Izard, N.; Belhboub, A.; Aznar, R.; Jousselme, B.; Campidelli, S.; Hermet, P.; Le Parca, R.; Saito, T.; Sato, Y.; Suenaga, K.; Puech, P.; Lauret, J. S.; Cassabois, G.; Bantignies, J. -L.; Alvarez, L.
Pan, J.; Chen, S.; Fu, Q.; Sun, Y.; Zhang, Y.; Lin, N.; Gao, P.; Yang, J.; Qian, Y.
Pool, R.
Pan, J.; Chen, S.; Zhang, D.; Xu, X.; Sun, Y.; Tian, F.; Gao, P.; Yang, J.
Yasin, F. S.; Harvey, T. R.; Chess, J. J.; Pierce, J. S.; Ophus, C.; Ercius, P.; McMorran, B. J.
Zeng, L.; Gammer, C.; Ozdol, B.; Nordqvist, T.; Nygård, J.; Krogstrup, P.; Minor, A. M.; Jäger, W.; Olsson, E.
Gammer, C.; Ophus, C.; Pekin, T. C.; Eckert, J.; Minor, A. M.
de Boisse, B. M.; Nishimura, S.; Watanabe, E.; Lander, L.; Tsuchimoto, A.; Kikkawa, J.; Kobayashi, E.; Asakura, D.; Okubo, M.; Yamada, A.
Tsukasaki, H.; Mori, Y.; Otoyama, M.; Yubuchi, S.; Asano, T.; Tanaka, Y.; Ohno, T.; Mori, S.; Hayashi, A.; Tatsumisago, M.
Lutz, L.; Dachraoui, W.; Demortière, A.; Johnson, L. R.; Bruce∥, P. G.; Grimaud, A.; Tarascon, J. -M.
Ogata, K.; Jeon, S.; Ko, D.-S.; Jung, I. S.; Kim, J. H.; Ito, K.; Kubo, Y.; Takei, K.; Saito, S.; Cho, Y.-H.; Park, H.; Jang, J.; Kim, H.-G.; Kim, J. -H.; Kim, Y. S.; Choi, W.; Koh, M.; Uosaki, K.; Doo, S. G.; Hwang, Y.; Han, S.
Hu, X.; Yasaei, P.; Jokisaari, J.; Öğüt, S.; Salehi-Khojin, A.; Klie, R. F.
Tsukasaki, H.; Otoyama, M.; Mori, Y.; Mori, S.; Morimoto, H.; Hayashi, A.; Tatsumisago, M.
Gao, J.; Liu, Y.; Wang, Y.; Wang, D.
Tsukasaki, H.; Mori, S.; Morimoto, H.; Hayashi, A.; Tatsumisago , M.
Hwang, S.; Lee, Y.; Jo, E.; Chung, K. Y.; Choi, W.; Kim, S. M.; Chang, W.
Shi, L.; Pang, C.; Chen, S.; Wang, M.; Wang, K.; Tan, Z.; Gao, P.; Ren, J.; Huang. Y.; Peng, H.; Liu, Z.
Griffiths, J. T.; Ren, C. X.; Coulon, P. -M.; Le Boulbar, E. D.; Bryce, C. G.; Girgel, I.; Howkins, A.; Boyd, I.; Martin, R. W.; Allsopp, D. W. E.; Shields, P. A.; Humphreys, C. J.; Oliver, R. A.
Minella, C. B.; Gao, P.; Zhao‐Karger, Z.; Mu, X.; Diemant, T.; Pfeifer, M.; Chakravadhanula, V. S. K.; Behm, R. J.; Fichtner, M.
Zhang, Z.; Guo, H.; Ding, W.; Zhang, B.; Lu, Y.; Ke, X.; Liu, W.; Chen, F.; Sui, M.
Ziolkowska, D. A.; Jangam, J. S. Dilip; Rudakov, G.; Paronyan, T.; Akhtar, M.; Sumanasekera, G.; Jasinski, J. B.
Asayesh-Ardakani, H.; Yao, W.; Nie, A.; Marley, P. M.; Braham, E.; Klie, R. F.; Banerjee, S.; Shahbazian-Yassar, R.
Liu, H.; Bugnet, M.; Tessaro, M. Z.; Harris, K. J.; Dunham, M. J. R.; Jiang, M.; Goward, G. R.; Botton, G. A.
Ziolkowska, D. A.; Jasinski, J. B.; Hamankiewicz, B.; Korona, K. P.; Wu, S. -H.; Czerwinsk, A.
Sutter, E.; Huang, Y.; H.-P. Komsa, H. -P.; Ghorbani-Asl, M.; Krasheninnikov, A. V.; Sutter, P.
Alavijeh, A. S.; Venkatesan, S. V.; Khorasany, R. M. H.; Kim, W. H. J.; Kjeang, E.
Semple, J.; Rossbauer, S.; Burgess, C. H.; Zhao, K.; Jagadamma, L. K.; Amassian, A.; McLachlan, M. A.; Anthopoulos, T. D.
Cho, E. S.; Ruminski, A. M.; Aloni, S.; Liu, Y. -S.; Guo, J.; Urban, J. J.
Bansen, R.; Ehlers, C.; Teubner, T.; Markurt, T.; Schmidtbauer, J.; Boeck, T.
Qi, K.; Zasada, F.; Piskorz, W.; Indyka, P.; Gryboś, J.; Trochowski, M.; Buchalska, M.; Kobielusz, M.; Macyk, W.; Sojka, Z.
Teherani, F. H.; Look, D. C.; Rogers, D. J.
Lim, S. -H.; Ko, Y. -H.; Rodriguez, C.; Gong, S. -H.; Cho, Y. -H.
Green, M.; Haigh, S. J.; Lewis, E. A.; Sandiford, L.; Burkitt-Gray, M.; Fleck, R.; Vizcay-Barrena, G.; Jensen, L.; Mirzai, H.; Curry, R. J.; Dailey, L. -A.
Ye, M.; Zhang, G.; Ba, Y.; Wang, T.; Wang, X.; Liu, Z.
Combined Cr and Mo poisoning of (La,Sr)(Co,Fe)O3 − δ solid oxide fuel cell cathodes at the nanoscale
Ni, N.; Skinner, S.
Wegele, T.; Beyer, A.; Ludewig, P.; Rosenow, P.; Duschek, L.; Jandieri, K.; Tonner, R.; Stolz, W.; Volz, K.
Durniak, M. T.; Bross, A. S.; Elsaesser, D.; Chaudhuri, A.; Smith, M. L.; Allerman, A. A.; Lee, S. C.; Brueck, S. R. J.; Wetzel, C.
Griffiths, J. T.; Zhang, S.; Rouet-Leduc, B.; Fu, W. Y.; Bao, A.; Zhu, D.; Wallis, D. J.; Howkins, A.; Boyd, I.; Stowe, D.; Kappers, M. J.; Humphreys, C. J.; Oliver, R. A.
Miller, D.; Akbar, S.; Morris, P.; Williams, R. E. A.; McComb, D. W.
White, E. R.; Howkins, A.; Williams, C. K.; Shaffer, M. S. P.
den Engelsen, D.; Fern, G. R.; Ireland, T. G.; Harris, P. G.; Silver, J.
Choi, Y. R.; Yoon, Y. -G.; Choi, K. S.; Kang, J. H.; Shim, Y. -S.; Kim, Y. H.; Chang, H. J.; Lee, J. -H.; Park, C. R.; Kim, S. Y.; Jang, H. W.
Wang, W. -Y.; Tang, Y. -L.; Zhu, Y. -L.; Xu, Y. -B.; Liu, Y.; Wang, Y. -J.; Jagadeesh, S.; Ma, X. -L.
Agarwal, R.; Zakharov, D. N.; Krook, N. M.; Liu, W.; Berger, J. S.; Stach, E. A.; Agarwal, R.
Schurch, R.; Rowland, S.M.; Bradley, R.S.; Withers, P.J.
Fern, G. R.; Silver, J.; Coe-Sullivan, S.
Yan, L.; Jahangir, S.; Wight, S. A.; Nikoobakht, B.; Bhattacharya, P.; Millunchick, J. M.
Ramírez, J. M.; Wojcik, J.; Berencén, Y.; Ruiz-Caridad, A.; Estradé, S.; Peiró, F.; Mascher, P.; Garrido, B.
Vergeles, P. S.; Yakimov, E. B.
Rowland, S. M.; Schurch, R.; Pattouras, M.; Li, Q.
Pageot, J.; Rouzaud, J. -N.; Ahmad, M. A.; Deldicque, D.; Gadiou, R.; Dentzer, J.; Gosmain, L.
Yoon, D. H.
Wei, F.; Gasparyan, H.; Keenan, P. J.; Gutmann, M. J.; Fang, Y.; Baikie, T.; Claridge, J.; Slater, P.; Kloc, C.; White, T.
Amoli, B. M.; Trinidad, J.; Hu, A.; Zhou, Y. N.; Zhao, B.
Bharat, L. K.; Rao, B. V.; Yu, J. S.
Pfeiler-Deutschmann, M.; Mayrhofer, P. H.; Chladil, K.; Penoy, M.; Michotte, C.; Kathrein, M.; Mitterer, C.
Schurch, R.; Rowland, S.M.; Bradley, R.S.; Hashimoto, T.; Thompson, G.E.; Withers, P.J.
Schurch, R.; Rowland, S. M.; Bradley, R. S.; Hashimoto, T.; Thompson, G. E.; Withers, P. J.
Yang, W.; Cheng, G.; Dong, C.; Bai, Q.; Chen, X.; Peng, Z.; Zhang, Z.
Kumar, S.; Tessarek, C.; Sarau, G.; Christiansen, S.; Singh, R.
Sabri, F.; King, D. S.; Lokesh, A.; Hatch, C. J.; Duran, R. A.
Moraes, J.; Ohno, K.; Maschmeyer, T.; Perrier, S.
Williams, R. E. A.; Carnevale, S. D.; Kent, T. F.; Stowe, D. J.; Myers, R. C.; McComb, D. W.
Han, M-G.; Marshall, M. S. J.; Wu, L.; Schofield, M. A.; Aoki, T.; Twesten, R.; Hoffman, J.; Walker, F. J.; Ahn, C. H.; Zhu, Y.
Benck, J. D.; Lee, S. C.; Fong, K. D.; Kibsgaard, J.; Sinclair, R.; Jaramillo, T. F.
Marincel, D. M.; Zhang, H.; Kumar, A.; Jesse, S.; Kalinin, S. V.; Rainforth, W. M.; Reaney, I. M.; Randall, C. A.; Trolier-McKinstry, S.
Kitta, M.; Akita, T.; Tanaka, S.; Kohyama, M.
Akita, T.; Tabuchi, M.; Nabeshima, Y.; Tatsumi, K.; Kohyama, M.
Chen, D.; Friedrich, H.; de With, G.
Watanabe, S.; Kinoshita, M.; Hosokawa, T.; Morigaki, K.; Nakura, K.
Carretero-Genevrier, A.; Oro-Sole, J.; Gazquez, J.; Magén, C.; Miranda, L.; Puig, T.; Obradors, X.; Ferain, E.; Sanchez, C.; Rodriguez-Carvajal, J.; Mestres, N.
Kociak, M,; Stéphan, O.; Gloter, A.; Zagonel, L. F.; Tizei, L. H. G.; Tencé, M.; March, K.; Blazit, J. D.; Mahfoud, Z.; Losquin, A.; Meuret, S.; Colliex, C.
Marris, H.; Deboudt, K.; Flament, P.; Grobéty, B.; Gieré, R.
Battaile, C. C.; Boyce, B. L.; Brons, J. G.; Foiles, S. M.; Hattar, K. A.; Holm, E. A; Padilla, H. A.; Sharon, J. A.; Thompson, G. B.
Kitta, M.; Akita, T.; Tanaka, S.; Kohyama, M.
Gauquelin, N.; Hawthorn, D. G.; Sawatzky, G. A.; Liang, R. X.; Bonn, D. A.; Hardy, W. N.; Botton, G. A.
Kim, J. M.; Kim, Y.; Shim, J. H.; Lee, Y. S.; Suh, J. Y.; Ahn, J. P.; Kim, G. H.; Cho, Y. W.
Häussler, D.; Houben, L.; Essig, S.; Kurttepeli, M.; Dimroth, F.; Dunin-Borkowski, R. E.
Zychma, A.; Wansing, R.; Schott, V.; Köhler, U.; Wöll, C.; Muhler, M.; Birkner, A.
Gandman, M.; Kauffmann, Y.; Koch, C. T.; Kaplan, W. D.
Ampelli, C.; Passalacqua, R.; Genovese, C.; Perathoner, S.; Centi, G.; Montini, T.; Gomba, V.; Jaen, J. J. D.; Fornasiero, P.
Tang, W.; Picraux, S. T.; Huang, J. H.; Liu, X.; Tu, K. N.; Dayeh, S. A.
Clark, L.; Oró-Solé, J.; Knight, K. S.; Fuertes, A.; Attfield, J. P.
Eggeman, A. S.; Barnard, J. S.; Midgley, P. A.
Wang, F.; Yu, H. C.; Chen, M. H.; Wu, L.; Pereira, N.; Thornton, K.; Van der Ven, A.; Zhu, Y.; Amatucci, G. G.; Graetz, J.
Müller, K.; Rosenauer, A.; Schowalter, M.; Zweck, J.; Fritz, R.; Volz, K.
Collins, S. E.; Delgado, J. J.; Mira, C.; Calvino, J. J.; Bernal, S. B.; Chiavassa, D. L.; Baltanás, M. A.; Bonivardi, A. L.
La Torre, A.; Fay, M. W.; Rance, G. A.; Gimenez-Lopez, M. d. C.; Solomonsz, W. A.; Brown, P. D.; Khlobystov, A. N.
Huang, R.; Ikuhara, Y.
Yurtsever, A.; van der Veen, R. M.; Zewail, A. H.
Schulenburg, H.; Roth, C.; Scheiba, F.
Yoon, S. W.; Seo, J. H.; Seong, T. Y.; Yu, T. H.; You, Y. H.; Lee, K. B.; Kwon, H.; Ahn, J. P.
Shao, Z.
Nemcsics, Á.; Heyn, Ch.; Tóth, L.; Dobos, L.; Stemmann, A.; Hansen, W.
Dieterle, L.;Butz, B.; Müller, E.
Chang, H.; Yoon, S.; Seong, T.; Yu, T.; Yuo, Y.; Ahn, J.
Tan, H.; Turner, S.; Yücelen, E.; Verbeeck, J.; Van Tendeloo, G.
Hong, X.; Luo, Z.; Batteas, J. D.
Lari, L.; Walther, T.; Gass, M.H.; Geelhaar, L.;Chèze, C.; Riechert, H.; Bullough, T. J.; Chalker, P. R.
Janbroers, S.: Crozierc, P. A.; Zandbergen, H. W.; Kooyman, P. J.
Inceesungvorn, B.; López-Castro, J.; Calvino, J. J.; Bernal, S.; Meunier, F. C.; Hardacre, C.; Griffin, K.; Delgado, J. J.
Schamm-Chardon, S.; Coulon, P.E.; Lamagna, L.; Wiemer, C.; Baldovino, S.; Fanciulli, M.
Holmberg, V. C.; Collier, K. A.; Korgel, B. A.
Vergnat, C.; Landais, V.; Legrand, J. F.; Brinkmann, M.
Carretero-Genevrier, A.; Gázquez, J.; Idrobo, J. C.; Oró, J.; Arbiol, J.; Varela, M.; Ferain, E.; Rodríguez-Carvajal, J.; Puig, T.; Mestres, N.; Obradors, X.
Lee, H. S.; Lee, Y. S.; Suh, J. Y.; Kim, M.; Yu, J. S.; Cho, Y. W.
Arora, H.; Du, P.; Tan, K. W.; Hyun, J. K.; Grazul, J.; Xin, H. L.; Muller, D. A.; Thompson, M. O.; Wiesner, U.
Mishima, T. D.; Edirisooriya, M.; Santos, M. B.
van Schooneveld, M. M.; Gloter, A.; Stephan, O.; Zagonel, L. F.; Koole, R.; Meijerink, A.; Mulder W. J. M.; de Groot, F. M. F.
Mishima, T. D.; Santos, M. B.
Yang, M.; Oró-Solé, J.; Kusmartseva, A.; Fuertes, A.; Attfield, J. P.
Wu, C. T.; Chu, M. W.; Chen, L. C.; Chen, K. H.; Chen, C. W.; Chen, C. H.
Cao, F.; Beyerlein, I. J.; Addessio, F. L.; Sencer, B. H.; Trujillo, C. P.; Cerreta, E. K.; Gray III, G. T.
Insights into the nature of iron-based Fischer-Tropsch catalysts from quasi in-situ TEM-EELS and XRD
Janbroers, S.; Louwen, J. N.; Zandbergen, H. W.; Kooyman, P. J.
Servanton, G.; Pantel, R.
Tanaka, K.; Miwa, T.; Sasaki, K.; Kuroda, K.
Jarausch, K.; Thomas, P.; Leonard, D. N.; Twesten, R.; Booth, C. R.
Alexander, D. T. L.; Crozier, P. A.; Anderson, J. R.
Yakovlev, S.; Libera, M.
Stöger-Pollach, M.
Kuykendall, T.; Ulrich, P.; Aloni, S.; Yang, P.
Arenal, R.
Blackford, M. G.; Hanna, J. V.; Pike, K. J.; Vance, E. R.; Perera, D. S.
Perera, D. S.; Cashion, J. D.; Blackford, M. G.; Zhang, Z.; Vance, E. R.
Jinschek, J. R.; Erni, R.; Gardner, N. F.; Kim, A. Y.; Kisielowski, C.
Horiuchi, S.; Yin, D.; Ougizawa, T.
Borckt, G.; Lakner, H.
Longo, D. M.; Howe, J. M.; Johnson, W. C.
Guarantees high-resolution, low-distortion images for quantitative spatial measurements on your TEM.
Broad argon ion beam system designed to polish and coat samples for SEM imaging and analytical techniques.
The only fully integrated hybrid-pixel electron detector with the Gatan Microscopy Suite software for advanced electron diffraction studies.
Single and double tilt heating holders for direct observation of micro structural phase changes, nucleation, growth, and dissolution processes.
Drive your digital cameras and surrounding components to support key applications including tomography, in-situ, spectrum and diffraction imaging, plus more.
Gatan’s latest CMOS camera that with its resolution, speed, and ease of use will revolutionize electron microscopy.
The next-generation plasma tool to remove hydrocarbon contamination from TEM and SEM samples and holders.
A powerful tool that adds 4D STEM diffraction capabilities to your existing Gatan in-situ camera.
Winner of the 2015 Microscopy Today Innovation Award. The ONE camera to capture 16 MP images and video in all your TEM applications.
High-angle annular dark field (HAADF), annular dark field (ADF) plus bright and dark field (BF/DF) detectors for STEM imaging optimized for electron energy loss spectroscopy (EELS).
Digital beam control and image processing to enhance the photographic quality of your digital images.
Simulation tool to eliminate the guesswork from your EELS and EFTEM compositional mapping experiments.
Diffraction analysis package (DIFPACK) to automate the selection area of your electron diffraction (SAED) patterns and high resolution lattice images of crystalline samples.
A powerful method of obtaining detailed analytic data from a sample on an electron microscope equipped with scanning mode.
Quantify microstructural changes in materials due to applied mechanical loading.
Facilitate your HREM assays by automatically adjusting the critical imaging parameters of a TEM microscope focus, stigmation, and beam tilt.
The next generation cryo-holder for your high-resolution cryo-EM and tomography experiments.
Preserve sample integrity with controlled transfer from an inert environment to the TEM.