Electronics

Chao Zhang, C.; Firestein, K. L.; Fernando, J. F. S.; Siriwardena, D.; von Treifeldt, J. E.; Golberg, D.

Olsen, V. S.; Bazioti, C.; Baldissera, G.; Azarov, A.; Prytz, Ø.; Persson, C.; Svensson, B. G.; Kuznetsov, A. Y.; Vines, L.

Sutter, P.; Wimer, S.; Sutter, E.

Pool, R.

Zeng, L.; Gammer, C.; Ozdol, B.; Nordqvist, T.; Nygård, J.; Krogstrup, P.; Minor, A. M.; Jäger, W.; Olsson, E.

de Boisse, B. M.; Nishimura, S.; Watanabe, E.; Lander, L.; Tsuchimoto, A.; Kikkawa, J.; Kobayashi, E.; Asakura, D.; Okubo, M.; Yamada, A.

Lutz, L.; Dachraoui, W.; Demortière, A.; Johnson, L. R.; Bruce∥, P. G.; Grimaud, A.; Tarascon, J. -M.

Ogata, K.; Jeon, S.; Ko, D.-S.; Jung, I. S.; Kim, J. H.; Ito, K.; Kubo, Y.; Takei, K.; Saito, S.; Cho, Y.-H.; Park, H.; Jang, J.; Kim, H.-G.; Kim, J. -H.; Kim, Y. S.; Choi, W.; Koh, M.; Uosaki, K.; Doo, S. G.; Hwang, Y.; Han, S.

Gao, J.; Liu, Y.; Wang, Y.; Wang, D.

Hwang, S.; Lee, Y.; Jo, E.; Chung, K. Y.; Choi, W.; Kim, S. M.; Chang, W.

Minella, C. B.; Gao, P.; Zhao‐Karger, Z.; Mu, X.; Diemant, T.; Pfeifer, M.; Chakravadhanula, V. S. K.; Behm, R. J.; Fichtner, M.

Asayesh-Ardakani, H.; Yao, W.; Nie, A.; Marley, P. M.; Braham, E.; Klie, R. F.; Banerjee, S.; Shahbazian-Yassar, R.

Liu, H.; Bugnet, M.; Tessaro, M. Z.; Harris, K. J.; Dunham, M. J. R.; Jiang, M.; Goward, G. R.; Botton, G. A.

Sutter, E.; Huang, Y.; H.-P. Komsa, H. -P.; Ghorbani-Asl, M.; Krasheninnikov, A. V.; Sutter, P.

Semple, J.; Rossbauer, S.; Burgess, C. H.; Zhao, K.; Jagadamma, L. K.; Amassian, A.; McLachlan, M. A.; Anthopoulos, T. D.

Bansen, R.; Ehlers, C.; Teubner, T.; Markurt, T.; Schmidtbauer, J.; Boeck, T.

Qi, K.; Zasada, F.; Piskorz, W.; Indyka, P.; Gryboś, J.; Trochowski, M.; Buchalska, M.; Kobielusz, M.; Macyk, W.; Sojka, Z.

Green, M.; Haigh, S. J.; Lewis, E. A.; Sandiford, L.; Burkitt-Gray, M.; Fleck, R.; Vizcay-Barrena, G.; Jensen, L.; Mirzai, H.; Curry, R. J.; Dailey, L. -A.

Ni, N.; Skinner, S.

Durniak, M. T.; Bross, A. S.; Elsaesser, D.; Chaudhuri, A.; Smith, M. L.; Allerman, A. A.; Lee, S. C.; Brueck, S. R. J.; Wetzel, C.

White, E. R.; Howkins, A.; Williams, C. K.; Shaffer, M. S. P.

den Engelsen, D.; Fern, G. R.; Ireland, T. G.; Harris, P. G.; Silver, J.

Wang, W. -Y.; Tang, Y. -L.; Zhu, Y. -L.; Xu, Y. -B.; Liu, Y.; Wang, Y. -J.; Jagadeesh, S.; Ma, X. -L.

Schurch, R.; Rowland, S.M.; Bradley, R.S.; Withers, P.J.

Ramírez, J. M.; Wojcik, J.; Berencén, Y.; Ruiz-Caridad, A.; Estradé, S.; Peiró, F.; Mascher, P.; Garrido, B.

Vergeles, P. S.; Yakimov, E. B.

Pageot, J.; Rouzaud, J. -N.; Ahmad, M. A.; Deldicque, D.; Gadiou, R.; Dentzer, J.; Gosmain, L.

Wei, F.; Gasparyan, H.; Keenan, P. J.; Gutmann, M. J.; Fang, Y.; Baikie, T.; Claridge, J.; Slater, P.; Kloc, C.; White, T.

Bharat, L. K.; Rao, B. V.; Yu, J. S.

Schurch, R.; Rowland, S.M.; Bradley, R.S.; Hashimoto, T.; Thompson, G.E.; Withers, P.J.

Yang, W.; Cheng, G.; Dong, C.; Bai, Q.; Chen, X.; Peng, Z.; Zhang, Z.

Kumar, S.; Tessarek, C.; Sarau, G.; Christiansen, S.; Singh, R.

Moraes, J.; Ohno, K.; Maschmeyer, T.; Perrier, S.

Han, M-G.; Marshall, M. S. J.; Wu, L.; Schofield, M. A.; Aoki, T.; Twesten, R.; Hoffman, J.; Walker, F. J.; Ahn, C. H.; Zhu, Y.

Marincel, D. M.; Zhang, H.; Kumar, A.; Jesse, S.; Kalinin, S. V.; Rainforth, W. M.; Reaney, I. M.; Randall, C. A.; Trolier-McKinstry, S.

Akita, T.; Tabuchi, M.; Nabeshima, Y.; Tatsumi, K.; Kohyama, M.

Watanabe, S.; Kinoshita, M.; Hosokawa, T.; Morigaki, K.; Nakura, K.

Kociak, M,; Stéphan, O.; Gloter, A.; Zagonel, L. F.; Tizei, L. H. G.; Tencé, M.; March, K.; Blazit, J. D.; Mahfoud, Z.; Losquin, A.; Meuret, S.; Colliex, C.

Battaile, C. C.; Boyce, B. L.; Brons, J. G.; Foiles, S. M.; Hattar, K. A.; Holm, E. A; Padilla, H. A.; Sharon, J. A.; Thompson, G. B.

Gauquelin, N.; Hawthorn, D. G.; Sawatzky, G. A.; Liang, R. X.; Bonn, D. A.; Hardy, W. N.; Botton, G. A.

Häussler, D.; Houben, L.; Essig, S.; Kurttepeli, M.; Dimroth, F.; Dunin-Borkowski, R. E.

Gandman, M.; Kauffmann, Y.; Koch, C. T.; Kaplan, W. D.

Clark, L.; Oró-Solé, J.; Knight, K. S.; Fuertes, A.; Attfield, J. P.

Eggeman, A. S.; Barnard, J. S.; Midgley, P. A.

Müller, K.; Rosenauer, A.; Schowalter, M.; Zweck, J.; Fritz, R.; Volz, K.

La Torre, A.; Fay, M. W.; Rance, G. A.; Gimenez-Lopez, M. d. C.; Solomonsz, W. A.; Brown, P. D.; Khlobystov, A. N.

Yurtsever, A.; van der Veen, R. M.; Zewail, A. H.

Van Tendeloo, G.; Van Dyck, D.; Pennycook, S. J.

Yoon, S. W.; Seo, J. H.; Seong, T. Y.; Yu, T. H.; You, Y. H.; Lee, K. B.; Kwon, H.; Ahn, J. P.

Dieterle, L.;Butz, B.; Müller, E.

Tan, H.; Turner, S.; Yücelen, E.; Verbeeck, J.; Van Tendeloo, G.

Lari, L.; Walther, T.; Gass, M.H.; Geelhaar, L.;Chèze, C.; Riechert, H.; Bullough, T. J.; Chalker, P. R.

Schamm-Chardon, S.; Coulon, P.E.; Lamagna, L.; Wiemer, C.; Baldovino, S.; Fanciulli, M.

Vergnat, C.; Landais, V.; Legrand, J. F.; Brinkmann, M.

Lee, H. S.; Lee, Y. S.; Suh, J. Y.; Kim, M.; Yu, J. S.; Cho, Y. W.

Arora, H.; Du, P.; Tan, K. W.; Hyun, J. K.; Grazul, J.; Xin, H. L.; Muller, D. A.; Thompson, M. O.; Wiesner, U.

van Schooneveld, M. M.; Gloter, A.; Stephan, O.; Zagonel, L. F.; Koole, R.; Meijerink, A.; Mulder W. J. M.; de Groot, F. M. F.

Yang, M.; Oró-Solé, J.; Kusmartseva, A.; Fuertes, A.; Attfield, J. P.

Cao, F.; Beyerlein, I. J.; Addessio, F. L.; Sencer, B. H.; Trujillo, C. P.; Cerreta, E. K.; Gray III, G. T.

Servanton, G.; Pantel, R.

Jarausch, K.; Thomas, P.; Leonard, D. N.; Twesten, R.; Booth, C. R.

Alexander, D. T. L.; Crozier, P. A.; Anderson, J. R.

Kuykendall, T.; Ulrich, P.; Aloni, S.; Yang, P.

Blackford, M. G.; Hanna, J. V.; Pike, K. J.; Vance, E. R.; Perera, D. S.

Jinschek, J. R.; Erni, R.; Gardner, N. F.; Kim, A. Y.; Kisielowski, C.

Borckt, G.; Lakner, H.