TEMイメージングおよび分光法

EELSとEFTEMのための先進システムの更なる進化

EELS、EFTEM、そしてエネルギーフィルタ4D STEMのあらゆるアプリケーションに対して電子カウンティング処理を実現

EELS および EFTEM システムは、マルチユーザー施設に最適で、Stela ハイブリッド ピクセル オプションも備えています。

その場電子顕微鏡法のための究極のツール

クライオEMにおけるクラス最高のイメージングフィルタ、さらにEELSとEFTEMの使用も可能に

分子レベルでの機能システムと疾患の進行に対する知見を深めるcryo-EMとcryo-ETに最適化

走査透過型電子顕微鏡 (S)TEM アプリケーションやその場観察の最も直感的で使いやすいエネルギー分散型 X 線分析装置 (EDS)です。

世界初のその場電子顕微鏡観察用電子カウンティング、高速、高精細広視野カメラ

直接検出型カメラの撮像能力の新たな性能ベンチマーク

これまでに無い像観察、電子線回折、その場観察を実現する最先端の電子カウンティングカメラ

クライオEMによる観察を、より多くの方が利用可能とするために開発された世界初の直接検出型デジタルカメラ

最先端の4D STEMを実現する DigitalMicrograph に完全に統合されたハイブリットピクセル検出器

日々の電子顕微鏡観察をより高いレベルへと押し上げる高性能シンチレータカメラ

解像度、速度、使いやすさで電子顕微鏡に革命をもたらす最新の CMOS カメラ。

電子エネルギー損失分光法(EELS)に最適化されたSTEMイメージング用の高角度環状暗視野(HAADF)、環状暗視野(ADF)、および明視野および暗視野(BF/DF)検出器

走査モードが搭載されている透過型電子顕微鏡において、試料から詳細な分析データを取得するための効果的な手法を提供。  

お手持ちのGatan in-situカメラで4D STEMデータを取得できる強力なツール

デジタル画像の品質を高めるデジタルビーム制御および画像処理システム。

光学的な回折限界をはるかに超えた材料の構造、光学特性、そして電気的特性を明らかにする光学情報をもたらす透過型電子顕微鏡(TEM)用の次世代システムです。

Gatan社製カメラから得られる低電子線照射、単粒子、クライオ電子顕微鏡観察(Cryo-EM)のデータセットを効率的に、高いスループットで取得するための新たなスタンダードとなるべく開発されました。

Latitudeソフトウェアの共通の特長である研究の効率化と高いスループットのデータ取得をMicroEDにおいて実現

フォーカス、非点収差、アライメントを自動調整します。

ステージおよび光学系の制御によって画像をシームレスに張り合わせることができます。

TEM高分解能像観察におけるフォーカス、非点補正、ビームチルトの重要なアライメントを自動的に調整することにより、高分解能像の評価を容易にします。 

結晶試料の電子線回折像および高分解能格子像からのフーリエ変換像のスポット選択を自動化する電子線回折像解析パッケージ(DIFPack)。

ライブホログラムからライブ位相アンラップ処理を含めたライブ位相像を計算することが可能であり、2π/1000レベルでの高分解能位相像を実現する像のスタック取得とスタック処理機能(試料と干渉縞のドリフト補正を含む)を備えています。

EELSおよびEFTEM組成マッピング測定において最適なパラメータを提供するシミュレーションツール。

多数の元素に対するEELS分析およびEFTEMデータ取得を自動化します。